ブルカーのSEMシリーズPicoIndenter(ピコインデンター)は、走査電子顕微鏡(SEM、FIBSEM、PFIB)に取り付け可能なナノインデンテーション装置です。SEMと組み合わせることで、試料を観察しながら、定量的なナノ力学特性評価が可能です。PI89はブルカーハイジトロン独自の静電容量型トランデューサ―の技術を更に進化させ、商用として初めてSEM用のナノ力学特性評価プラットフォームの開発に成功しました。対応する試験技術は、ナノインデンテーション、引張試験、ピラー、粒子の圧縮試験、マイクロビーム曲試験、破壊、疲労、動的テスト、機械的特性マッピングなどがあります。SEMとPicoIndenterの組み合わせにより、ブルカーは皆様に正確な測定箇所でのナノ力学測定、その挙動のイメージングをご提供します。
ハイシトロンPI 89のコンパクトな設計により、ステージの傾きを最大化し、作業距離を最小化することで、試験中の最適なイメージングを可能にします。PI 89は、競合システムよりも優れた汎用性と性能を備えています。
ハイシトロンPI 89は、ブルカー独自のサブナノメータ感度トランスデューサと圧電駆動フレクシャーを利用して、本質的変位制御および荷重制御試験を行います。
ハイジトロンPI 89で取得されたin-situ機械的データは、SEMイメージングと同期して並べて表示されます。これにより、欠陥、機械的ひずみ、熱刺激や電気刺激が、ナノメートルからマイクロメートルの範囲で、設計された材料の性能、寿命、耐久性に与える影響を確認することができます。この同期化により、より幅広い解析が可能になります。
Hysitron PI 89ピコインデンターは、革新的なin-situテスト技術のパッケージをサポートし、高度なイメージングとFIBミリングのための2つの回転およびチルトステージ構成に対応しています。
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