Push-to-Pull デバイス
ナノワイヤーやフリースタンディング薄膜向け
近年1Dおよび2D材料を迅速かつ確実に作成できるようになりました。これらの材料を次世代のプロダクトやデバイスで使用するために、新しい力学特性評価技術が求められています。ブルカーは、これらの新しい材料に適したテストプラットフォームをご提供します。それが、PIシリーズPicoIndenterと連携して動作するように設計されたSEMおよびTEM中でのin-situ引張試験デバイス、Push-to-Pull(PTP)デバイスです。
PTP デバイスの光学イメージ (左) と PTP デバイスギャップの SEM イメージ (右)。
荷重/アンロードと変位曲線(左)、およびPTPデバイスの偏向からの変位と荷重と時間(右)。線形弾性移動距離は4μm以上であったことに注意してください。
PTPデバイスはナノチューブまたは薄膜試料を取り付けることができる消耗品のMEMS製デバイスです。試料をデバイスに調製し、PicoIndenterシステムに取り付け、SEM、TEM中で引張試験を行い力学特性の評価を行うことができます。もちろん、引張試験の様子を電子顕微鏡の画像でin-situ観察し、微細な構造変化の挙動をリアルタイムで確認できます。引張試験を行いながら、標準的な4点測定により試料の電気抵抗抵抗率を測定することができるMEMS Electrical Push-to-Pull(E-PTP) デバイスもご用意しております。
