ハイジトロン XPM
定量的、超高速 ナノ力学特性マッピング
500倍速ナノインデンテーション
ブルカーのXPMは測定分解能と精度を維持したまま、高速試験によりナノ力学特性評価のスループットを大幅に向上させた 最新機能です。XPMを使用すると、従来のナノインデンテーション法で1年かかった測定データよりも多くのデータを半日で収集することが可能となります。このブルカー独自の機能は、業界をリードするハイジトロンの3つの技術を組み合わせることで実現しています：高帯域幅静電容量トランスデューサ、高速制御およびデータ収集エレクトロニクス、トップダウンのin-situ SPMイメージングです。これらの同期化された技術は、1秒間に6回のナノインデンテーション測定が可能となり、記録的な速さで広範囲で定量性のあるナノ力学特性マッピングを実現します。
記録的な速さで広範囲で定量性のあるナノ力学特性マッピング
セラミックマトリックス複合弾性率マップは、67秒で400回の測定で構成されています(左)。セラミックマトリックス複合弾性率分布統計量(右)。
ナノメカニカル試験は、微小領域の機械的特性を測定するために特別に開発されました。個々の測定値のアレイを空間的に配置してプロットすることで、表面全体の機械的特性の勾配のマップを作成することができます。従来のナノインデンテーション測定では90秒程度、20x20のアレイでは10時間程度かかりますが、Brukerの新しいHysitron XPM超高速ナノ力学特性マッピングを利用することで、同じデータセットをわずか1.1分でコンパイルすることが可能です。
