Brukerのトランスデューサ技術はグリッパー型の調査を使用して直接引張りサンプルに使用することができる。この技術は低負荷および高負荷のトランスデューサーの両方で利用できる。直接引張り実験は、安定した単軸サンプルローディング構成を提供するため、一般的な手法です。特許取得済みのプッシュツープル(PTP)デバイスは、それぞれ独自のサンプル調製ルートを提供するため、他の引張り試験オプション、特許取得済みの プッシュツープル(PTP)デバイスと非常に補完的です。
直接引張り試験データは、完全な応力-ひずみ曲線、ヤング率、降伏強度、作業硬化などを提供できます。この技術には、高度なサンプル調製と正確なサンプル位置決めが必要です。回転および傾斜段階のサンプルのスピンドル回転は、グリッパ先端に対するサンプルの位置決めにおいてさらなる利点を提供し、サンプル表面のEBSDマッピングを可能にする。2006年、ブルカーのヒシトロン・ピコインテンターツールを使用した研究者は、その中で最初に定量テストを行いました。これはもともとTEMで行われ、SEMによって迅速に続きました。