TKD/STEM対応ハイジトロンPI89
電子透過試料の解析イメージングを提供
Hysitron PI 89は、ナノメカニカルテストを行いながら、TKDおよびSTEM検出器を使用した電子透過サンプルの分析イメージングに使用できるようになりました。最近、走査型電子顕微鏡(SEM)に導入されたトランスミッション菊池回折技術(SEM)は、確立された電子後方散乱回折(EBSD)技術と比較して、サンプルの10倍の空間分解能を提供しています。Hysitron PI 89システムは、素早く取り付けられたコンポーネントを利用することで、サンプルの下に検出器を挿入するために必要なスペースを追加作成するように変更することができ、可能な限り最良の信号を得ることができます。Brukerの特許取得済みのPTPデバイスは、TKDモードでの引張試験に使用できるため、サンプルに優れた安定性を提供します。
オプティマスTKD検出器と高解像度TKD画像。
(左と中央)特許取得済みのPTPデバイスは、TKDおよびSTEMイメージング用の最も安定したサンプル構成を提供します。(右)TKD検出器はサンプルの下に挿入されます。
Brukerの OPTIMUS TKD の探知器の独特な設計はユーザーがサンプルの下に直接探知器を置くことを可能にする。 E-Flash EBSD 検出器と並んで、OPTIMUSは最も低い対分投影による歪みを有する最も強い信号を得ることができる。
