电子显微镜
实现原子级分辨的光谱学和4D成像
超稳定的扫描透射电子显微镜（STEMs）
布鲁克的Nion扫描透射电子显微镜系列为材料研究带来了全新可能。这些尖端仪器使得科学家和工程师能够在原子水平上研究样品的结构，并在四个维度上探索原子间的相互作用。我们的STEMs采用Python驱动的开源软件，从头开始设计，可支持开展以前无法进行的新一代实验。
电子能量损失谱（EELS）
电子能量损失谱（EELS）测量快束电子穿透样品后的能量损失。 对于扫描电子束，它可从样品的每个点生成一个谱图，并根据每个元素的特征能量损失边，得到一个具有原子级分辨率的元素分布图。通过该手段，EELS可探测样品的电子结构，包括因不同键合环境而产生的带隙和化学位移。除此之外，Nion HERMES还能够以近原子级的分辨率，探测分子以及含有界面和缺陷的晶体中的声子的振动特性。
Nion ULTRASTEM
Nion ULTRASTEM的工作电压范围在30 kV至200 kV之间， 它采用了高亮度、高稳定性的冷场发射电子枪（CFEG），可实现更高的分辨率，更高的探针电流——以实现亚埃级分辨率的成像，并可利用仅原子大小的电子探针实现快速纳米分析，以及与不同类型的探测器的高效耦合。
Nion HERMES
布鲁克的Nion高能量分辨率的单色EELS STEM电镜，即HERMES，将高亮度冷场发射电子枪（CFEG）与先进的单色仪及电子能量损失谱（EELS）相结合，可实现原子级分辨率的成像，化学图谱，4D-STEM，以及振动光谱，为当前最高水平的电子显微镜。
Nion ULTRASTEM
Nion HERMES
