Hysitron PI 85E
Hysitron PI 85E用于SEM的纳米力学测试设备
Hysitron PI 85E扫描电镜用纳米压痕仪扩展了原位力学测试的范围，弥补了纳米级和微米级表征之间的差距。这台深度传感纳米力学测试系统专门设计，利用扫描电子显微镜（SEM、FIB/SEM、PFIB）的先进成像能力，同时进行定量纳米力学测试。设备扩展的加载范围使研究人员能够准确测试尺寸较大或坚硬的结构。这些结构需要更大的载荷才能引起失效或断裂。PI 85E纳米压痕仪提供大量材料（从金属和合金到陶瓷、复合材料和半导体材料）的压痕、压缩、拉伸和疲劳测试。PI85E紧凑、低轮廓的架构使其非常适合小腔室SEM、拉曼和光学显微镜、光束线等。
纳米压痕仪：高精度原位力学测试
表征近表面、界面和局部微结构以及薄膜的硬度、蠕变、应力松弛、弹性模量和断裂韧性。
大形变下的行为探索
Hysitron PI 85E结合了各种测试模式，以表征各种样品的基本力学性能、应力-应变行为、刚度、断裂韧性和变形机制。除了布鲁克行业标准的传感器外，PI 85E还提供更高的载荷（250 mN）和更大的位移（150µm）。基于先进控制器实现高带宽的传感器，实现大尺度样品的优化测试，并提供了卓越的性能和灵敏度。
表征一维、二维及三维纳米结构
Hysitron PI 85E系统使用获得专利的压转拉（PTP）模块来表征一维结构，如纳米线和纳米管，以及二维结构，如独立薄膜。这些结构也可以通过仪器的可选电拉伸模块进行电表征。PI85E的大位移范围对于测试三维晶格在较大应变下的变形也是理想的。
Expand PI 85E's Capabilities
LEARN MORE:
Contact us for more information about available upgrade options and how PI 85E can be configured to meet your specific measurement needs now and grow with your research going forward.
观看SEM中纳米力学测试的最新内容
我们的网络研讨会涵盖最好的操作实践、新产品介绍、困难问题的快速解决方案，以及新应用、新模式和新技术的点子。