电子显微镜分析仪

最新一代的 XFlash 7 系列能谱探头

电子显微镜上的分析工具

布鲁克的电子显微镜分析仪包含 EDS、WDS、EBSD 和 SEM 上的微区 XRF，它们为目前可用的材料提供了全面的成分和结构分析。完全集成的 ESPRIT 2 软件使您能够轻松组合不同设备，将各种数据从不同角度进行分析和互补，得到更全面的表征结果。

eFlash 高清 EBSD 探测器

QUANTAX EBSD

QUANTAX EBSD 系统与广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探头相结合，是用于分析 SEM 中纳米材料的最佳晶体学解决方案

XFlash 7 EDS 光谱仪

SEM QUANTAX EDS

您 SEM、FIB 和 EPMA 上最先进的 EDS

XFlash 6T/30 EDS 用于 TEM 探测器

TEM QUANTAX EDS

用于STEM、TEM 和 T-SEM 的 EDS

QUANTAX FlatQUAD

X射线检测的最高效率

XTrace 2 micro-spot X-ray source

QUANTAX Micro-XRF

用于 SEM XRF 的 QUANTAX Micro-XRF。痕量元素灵敏度、薄膜分析和地形样品的元素图谱，所有这些都只需进行最少的样品制备。

QUANTAX WDS

高精度仪器，用于低能端的超敏感、高能量分辨的 X 射线微束分析。

分析软件

软件： ESPRIT 系列

ESPRIT 2 将四种分析方法结合在单个用户界面下。其中包括用于 SEM 的 EDS 和（S）TEM、WDS、用于 SEM 的微型 XRF 和 EBSD。

ESPRIT QUBE 软件

ESPRIT QUBE 是用于高级 3D EBSD 和 EDS 数据后处理和可视化分析的现代软件平台。它具有最先进的分析软件，可以对电子显微镜上使用 EBSD 和/或 EDS 采集的数据进行 3D 可视化和数据后处理。

用于 SEM 的 AMICS 自动化矿物分析系统

SEM 中用于自动快速扫描矿物和进行岩石表征的软件

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