電子顕微鏡
顕微鏡観察から意味のある分析へ
ブルカーは、電子顕微鏡を含む顕微鏡技術において長年研究開発を続けており、最先端のNion走査透過電子顕微鏡(STEM)をはじめ、Nion ULTRASTEMやその他様々な電子顕微鏡に追加可能な多数の分析ソリューションを提供しています。
ブルカーの電子顕微鏡と分析機のシリーズは、SEM、TEM、STEMと、詳細な元素分析、組成分析、微細構造分析を行うための分析機器を提供します。このシリーズには、エネルギー分散型蛍光X線分析（EDS）、波長分散型蛍光X線分析（WDS）、電子後方散乱回折法（EBSD）、SEM上でのマイクロ蛍光X線分析など、業界をリードするシステムが含まれています。また、in-situナノインデンテーション、圧縮、引張、曲げ試験でサンプルの特性を評価するためのナノメカニカル試験装置も提供しています。
電子エネルギー損失分光法 (EELS)
電子エネルギー損失分光法（EELS）は、試料を通過した高速ビーム電子のエネルギー損失を測定します。走査ビームの場合、試料上の各ポイントからスペクトルが生成され、各元素の特徴的なロスエッジを使用して原子分解能で元素マップを作成するために使用することができます。試料の電子構造は、バンドギャップや異なる結合環境に起因するケミカルシフトを含めてプローブすることができます。Nion HERMESは、分子の振動特性や、界面や欠陥を含む結晶中のフォノンを、ほぼ原子レベルの分解能で探索することも可能です。
超安定走査透過電子顕微鏡(STEM)
ブルカーのNion走査透過電子顕微鏡は、材料研究の可能性を広げます。これらの最先端装置は、科学者やエンジニアが原子スケールでサンプルの構造を探索し、4次元で原子の相互作用を探ることを可能にします。Pythonを搭載したオープンソースソフトウェアを特徴とするSTEMは、新世代の実験を可能にするために一から設計されています。
装置構成:
Nion ULTRASTEM
30～200kVの動作電圧範囲で、Nion ULTRASTEMは高輝度、高安定性の冷電界放出電子銃(CFEG)を使用しており、高分解能、サブオングストローム分解能のイメージングを提供する高プローブ電流、原子サイズの電子プローブによる高速ナノ分析、様々な検出器への効率的な結合を可能にします。
Nion HERMES
ブルカーのNion高エネルギー分解能モノクロームEELS STEM、HERMESは、高輝度冷電界エミッションガン（CFEG）と最先端のモノクロメータ、電子エネルギー損失分光法（EELS）を組み合わせ、電子顕微鏡における原子分解能イメージング、ケミカルマッピング、4D-STEM、振動分光を最高レベルで実現します。
Elemental Analysis & Microanalysis on Electron Microscopes
Bruker’s Electron Microscope Analyzers range, including EDS, WDS, EBSD and Micro-XRF on SEM, provides electron microscope users with the tools needed to perform a highly-detailed compositional and structural analysis of their samples. The full integration of these techniques into Bruker’s ESPRIT software means users can easily combine the data obtained by each of these complementary methods.
Nanomechanical Property Analyzers
Bruker’s Hysitron PicoIndenters make it easy to conduct in-situ mechanical experiments in your electron microscope. Our unique transducer design ensures stability throughout the entire experiment, producing precise data even at the nanoscale. Correlating video capture from the microscope with in-situ mechanical testing data enables real-time monitoring to advance nanoscale materials property understanding. Available modes include nanoindentation, compression, tensile, and bend testing, and additional accessories are available to facilitate high- and low-temperature experiments.
