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テストと測定

3次元光学式プロファイラー 表面形状・粗さ測定

ブルカーの白色光干渉型顕微鏡は、業界トップのサービスとサポート体制を備え、研究・開発から製造現場での品質・行程管理に至る 様々な用途で運用されています。自動車/航空宇宙、高輝度LED、太陽電池、半導体、医療機器などの各市場における高度な精密機械加工品評価の専門的アプリケーションに応え、お客様の予算と目的に合ったソリューションを提供しています。 

高速・非接触光学式プロファイラー（3次元白色干渉型顕微鏡／表面形状粗さ計）

ブルカーは白色干渉法を利用した表面形状・粗さ測定機のパイオニアであり、精密デバイスから車載部品等の大型試料に至るまでの幅広いサイズのサンプルに対応した 非接触３次元形状測定・分析を提供しています。最新モデルとなるContourシリーズは、10世代に渡る独自のテクノロジーの進歩の集大成であり、他の計測機器では困難な環境下での高精度で高再現性な3次元表面測定を提供しています。

 

38年以上にわたる光学式計測器の開発実績

 

1982年に世界で初めて商品化されたNCP1000(後のTOPO-2D/3Dシステム）は、当時多くの人々を驚嘆させ、その後続々と開発された製品は世界中のさまざまな業界に提供してきました。こうした実績と技術を終結させて開発したのが、Contourシリーズです。 

Products

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卓上型 3D 光学式プロファイラー

ContourX-100

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エントリーモデル 3次元白色光干渉型顕微鏡 
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ContourX-200 3D光学式プロファイラー

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X/Y/Z自動化、ステッチング、高度な表面検出機能を備えたフレキシブルな光学式プロファイラー
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ContourX-500 3次元光学式プロファイラー

ContourX500

自動化機能対応 ハイエンドベンチトップモデル3次元白色光干渉型顕微鏡 
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卓上 3D 光学プロファイラーのパンフレットをすべてダウンロード

床置き型 3次元光学式プロファイラー

ContourX-1000-Web-Teaser-BRUKER

ContourX-1000

Self-calibrating, fully automated solution for research and production
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NPFLEX 3D計測システム

NPFLEX-1000

Most flexible large-sample precision manufacturing solution for fast, automated roughness and surface texture measurements.
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ContourSP　三次元光学プロファイラー

ContourSP

大型基板の生産管理に対応ハイパフォーマンスモデル
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HD9800+ 3D光学プロファイラ

HD9800+

データストレージ産業向けの大型サーフェスプロファイリングシステム
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Applications

Surface-Independent Metrology with Application-Specific Solutions

Precision Engineering

Keep the surface texture and geometric dimensions of precision-engineered parts within tight specification limits. Our gage-capable measurement systems provide efficient feedback and reporting as you monitor, track, and evaluate processes and assess GD&T conformance.

MEMS and Sensors

Perform high-throughput, highly repeatable etch depth, film thickness, step-height, and surface roughness measurements, as well as advanced critical dimension metrology of MEMS and optical MEMS. Optical profiling can characterize devices throughout the manufacturing process from wafer to final test, and even through transparent packaging.

Orthopedics/Ophthalmics

Obtain precise, repeatable measurements of implant materials and components through the complete product life cycle. Our WLI optical profilers support R&D, QA, and QC analyses, for applications ranging from characterization of surface parameters of lens and injection molds to surface finish verification and wear of medical devices.

Tribology

Measure, analyze, and control the impact of friction, wear, lubrication, and corrosion on material/component performance and lifespans. Determine quantitative wear parameters and perform fast pass/fail inspections on the widest range of shiny, smooth, or rough surfaces.

Semiconductors

Improve yield and reduce costs for both front- and back-end manufacturing processes with automated, non-contact, wafer-scale metrology systems. Perform post-CMP die flatness inspection; bump height, coplanarity, and defect identification and analysis; and measure the critical dimensions of component structures.

Optics

Better understand the root causes of defects and optimize polishing and finishing processes with accurate and repeatable sub-nm roughness measurements. Our non-contact metrology systems enable compliance with increasingly stringent specifications and ISO norms for samples ranging from small aspheric and free-form optics, to optical components with complex geometries, to diffraction gratings and microlenses.
リソース

Learn More About 3D Optical Profilometry

3D表面形状測定

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歴史、開発、利点、アプリケーション
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共焦点顕微鏡の検討

共焦点顕微鏡を検討する - なぜ妥協するのか?

ブルカー3D光学顕微鏡は制限なくゲージ可能な測定を提供する
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Wyko・Veecの歴史

Wyko・Veecの歴史

ブルカーの3D光学顕微鏡のWyko表面形状光学式プロファイラー
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White Light Interferometry

Accurate 3D optical metrology independent of surface characteristics

Universal Scanning Interferometry

Adaptive surface intelligence to capture simultaneous sub-nm surface texture and step heights

Elite Enhanced Imaging

Through-focus high fidelity imaging while maintaining high precision WLI metrology

3D光学プロファイラーウェビナーを見る

当社の Webinar は、ベスト プラクティスをカバーし、新製品を導入し、難しい質問に対する迅速なソリューションを提供し、新しいアプリケーション、モード、またはテクニックのアイデアを提供します。

リソース

表面計測ライブラリ

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Other Resources

The Advantages of Using White Light Interferometry to Measure Surface Roughness

Written by Samuel Lesko, Senior Manager for Optical and Tribology Applications, Bruker. Featured in Commercial Micro Manufacturing International 06/21
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Bruker partners with our customers to solve real-world application issues. We develop next-generation technologies and help customers select the right system and accessories. This partnership continues through training and extended service, long after the tools are sold.

Our highly trained team of support engineers, application scientists and subject-matter experts are wholly dedicated to maximizing your productivity with system service and upgrades, as well as application support and training.

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