ContourX-100

卓上型光学式プロファイラーContourX-100は、数十年にわたるブルカー独自の白色光干渉計（WLI）の革新的な技術を取り入れた合理化されたパッケージで、妥協のない2D/3Dの高解像度測定機能を提供します。ゲージ対応のベンチトップシステムは、操作画面は直感的でわかりやすいインターフェースを提供し、精密機械加工された表面、厚膜、トライボロジーアプリケーション等向けにプログラムされたフィルター機能や分析機能の豊富なライブラリに直感的にアクセスし、高速、高精密な計測データを提供します。

業界最高水準

Z分解能

倍率によらず、常に正確な測定が可能です。

高い信頼性

計測能力

計測機能を損なうことなく、合理的な設計を実現します。

簡単操作

ソフトウェア直感的な操作画面

事前にプログラムされたフィルターおよび分析の広範なライブラリへの直観的なアクセスを提供します。

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機能

高い信頼性を可能にする安定した計測精度

WLI は、すべての目的に対して一定の垂直分解能を提供します。

卓上型光学式プロファイラーContourX-100は、40年以上にわたり培われた、ブルカー独自の光学技術により、非接触表面計測・特性評価・イメージングにおいてて高い測定能力と精度、特性評価、画像化を行うことができます。システムは、3D 白色光干渉法と2Dイメージング技術を用いた多重解析を1回の取得で実現します。反射率0.05%から100%までの試料をContourX-100はすべての表面形状粗さに対応します。

高い測定パフォーマンスと分析機能

ContourX-100マニュアルステージ。

数千のカスタマイズされた分析機能と、ブルカーのシンプルかつ強力なVisionXpress™とVision64®のユーザーインターフェースを備えた卓上型光学式プロファイラーContourX-100は、研研究施設や、工場の両方で生産性向上に貢献致します。ハードウェアとソフトウェアの組み合わせにより、ハイスループットの光学性能を実現し、信頼性の高い測定結果と高いパフォーマンスを提供します。