LUMOS II
뛰어난 IR.
화려한 비주얼. 초고속 이미징.
적외선 현미경 본연의 모습
샘플 준비를 위한 더 많은 공간. 화학적 이미징에 대한 더 향상된 속도. ATR, 전송 및 반사 현미경 검사법에서 더 많은 퍼포먼스. 이것이 우리가 진정한 게임 체인저라고 부르는 것입니다 - 의심의 여지가 없습니다.
Single-point FT-IR microscopy? FPA imaging? IR laser? Your choice.
FT-IR microscopy:
- TE-MCT as standard detector
- Industry leading ATR crystal design
- No liquid nitrogen, no dry-air purge
- LN-MCT and DTGS optionally available
- Up to two single-element detectors in parallel
- Upgrade to FPA imaging anytime
- Analyze samples of up to 40 mm in height
FT-IR FPA imaging:
- Focal-plane array (FPA) imaging detector
- Create FT-IR images at 1.6 mm² per sec
- Access 1.25 µm spatial resolution (ATR)
- FT-IR images at full MIR spectral range
- Imaging in ATR/TRANS/REFL
- Patented PermaSure+ imaging calibration
- Up to two additional detectors in parallel
IR laser imaging (ILIM):
- Room temperature focal-plane array detector
- Create IR images at 4.5 mm² per second
- IR laser images at 1,800 - 950 cm-1
- Create chemical images in TRANS and REFL
- Patented spatial coherence reduction
- Application workflows (Tissue, Particle, Tablet)
- Open design laser class 1 instrument
No matter what you choose, LUMOS II always offers ...
Easy to use all in one software.
The LUMOS II Wizard.
Inertness against high humidity.
Using inert optical materials.
AI powered evaluation routines.
Adaptive Chemical Imaging.
Compliance to cGMP and FDA 21 CFR p11.
Comprehensive audit trail.
Complete automization and long service-life.
Automated Knife-Edge Apertures.
Open design with easy access to samples.
270° access from three sides.
FT-IR 현미경 검사및 이미징 파워하우스
어디서나 / 누구나 FTIR 현미경
우리는 기술 수준에 관계없이 모든 사용자가 고급 기술을 이용할 수 있어야 할 때라고 생각합니다. FT-IR 이미징 및 현미경 검사법의 이점은 번거로운 하드와 소프트웨어로 접근을 제한하기에는 너무 큽니다.
처음부터 LUMOS II는 FT-IR 이미징을 더 빠르고, 쉽고, 더 정확하고, 신뢰할 수 있게 만들고, 더욱 재미있게 만들기 위한 것이었습니다. 물론, 이것은 우리가 새로운 기술을 포함시키고 입증 된 기술을 개선하기 위해 필요합니다.
그렇기 때문에 우리는 LUMOS II, 이것의 소프트웨어 및 사용자 인터페이스를 사용자에게 구체적으로 맞추었습니다. 초보자는 단시간에 완벽한 결과를 얻을 수 있고, 전문가는 완전한 계측기 제어를 유지합니다.
기능
LUMOS II 기술 기능:
- 표준 TE-MCT 검출기
- 플러그 앤 플레이: 액체 질소 없음, 건식 공기 퍼지 필요 없음
- 선택적 FPA 이미징 검출기
- 새로운 퍼마Sure+ 교정 기술
- 완전 동력 및 자동화 하드웨어
- 높이 40mm의 시료 수용
- 레이저를 포함한 구성 요소의 긴 수명
- 높은 습도에서 비활성 (ZnSe 광학)
- 독립형 디자인, 작은 설치 공간
- 낮은 전력 소비
LUMOS II는 다음을 제공합니다.
- 소프트웨어 가이드 측정에 의한 사용 편의성
- 고화질 스펙트럼 및 시각적 데이터
- 액체 질소가 필요 없는 높은 IR 감도
- 서브 마이크로미터 범위의 시각적 해상도
- 초고속 FPA 이미징 성능
- FPA 이미징 ATR/전송/반사
- 샘플 단계에 쉽게 액세스
- CGMP 및 FDA 21 CFR p11 준수
- 자동 OQ/PQ/약전 검사
- 언제든지 업그레이드 가능
응용 프로그램
- 고장 분석
- 입자 및 표면 분석
- 산업 제조
- 법의학
- 생명 과학
- 폴리머 및 플라스틱
- 환경 과학
- 제약
우수한 μ-ATR FT-IR 기능
It comes down to this : 더 나은 장비. 더 나은 결과.
전송, 반사 또는 감쇠 총 반사(ATR)이든, LUMOS II는 항상 올바른 선택이 될 것입니다. 그러나 가장 큰 강점은 FPA 기술에 의해 강화 된 ATR 현미경 검사법입니다. 따라서 LUMOS II는 고장 분석 및 제품 개발을 위한 보편적인 도구입니다.
긴 스토리를 짧게 자르기 위해 ATR 기능은 타의 추종을 불허합니다. 기간. 신뢰할 수없는 수동 ATR 액세서리에 만족하지 마십시오 - 최고를 선택하세요. 바로 LUMOS 입니다.
개폐식 결정은 고정밀 압전전기 모터에 의해 제어되고 렌즈에 통합됩니다. 이를 통해 측정이 원하는 위치에 정확히 수행되는 동안 샘플을 명확하게 볼 수 있습니다.
설득력 있는 혁신
응용 분야에 대한 내구성과 전력.
고객에게 최고의 기술을 전달하는 것은 자연스러운 일입니다.
물론, 이것은 LUMOS II에도 적용됩니다.
RockSolidTM 간섭계는 일정한 성능을 보장하며, 현대적인 전자 장치는 기계적 정밀도와 낮은 에너지 소비를 보장합니다. 한편, 소프트웨어는 계측기 효과를 모니터링하고 항상 올바른 기능을 보장합니다.
LUMOS II Application Videos
μ-FT-IR 애플리케이션 선택
입자 및 표면 분석
OPUS Release 8.8 | LUMOS II | Q3 2023
New Feature: 3D FocusFusion now allows the creation of visual images of infinite "sharpness"
This new feature creates a pin sharp visual image, even if the sample has a rough surface or isn’t flat at all.
This infinite "sharpness" in microscopic images helps in region of interest selection. Now it will be possible to generate sharp visual images of samples for which the depth of field of the LUMOS II is limited.
New Feature: FPA imaging can now follow round / circular measurement areas
Now, the measurement grid can be placed in a round shaped way to measure a whole particle filter with FPA imaging. By only measuring the actual region of interest users safe significant amounts of time during FPA measurements of round regions of interest like filters in microplastic analysis.
OPUS Release 8.7 | LUMOS II | Q3 2021
New Feature: High Performance Chemical Image Generation by New Adaptive K-means Clustering Function
This new function is the logical next development step for our well known Cluster analysis function.The Adaptive K-means Clustering Function is based on a new algorithm, which enables a non-supervised and autonomous determination of spectral variance within your imaging or mapping results.
- Forecasting or time consuming searching of the included amount of chemical classes is no longer been necessary as the algorithm can predict all included chemical classes by itself.
- This major function is important for all kind of chemical imaging and distribution analysis of unknown samples or small structures within larger datasets.
- Together with the LUMOS II analysis and evaluation is as easy as possible and safes your valuable time and nerves.
New Feature: “Cluster ID” Function for Identification of Classes in 3D Spectral Data
Our new Cluster ID function enables the identification of clusters within imaging and mapping data using the OPUS functions: spectrum search in libraries, quick compare, or identity test.
- Easy determination of the chemical identity of classified sample components for particles, layers in laminates, components of pharmaceutical tablets and other inhomogeneous materials.
- Reliable and comprehensive statistics reports about quantity, size and of course identity of all analyzed structures is provided and leads particle and technical cleanliness analysis to a new, autonomous level.
Updated Feature: "Find Particles" function now contains a novel particle detection method
The proven "Find Particle" software can now be applied to both: the visual and the IR image. With this updated feature, you are able to do particle detection based on chemical images that were measured by the LUMOS II.
- While particle recognition for low contrast structures and off-white/transparent particles/fibers on off-white filter membranes can be tedious, a postrun particle determination based on the chemical IR image allows you to determine quantity and size of particles from your imaging or mapping results.
- With the Find Particle Function together with the LUMOS II you will never miss any detail – neither in visual nor in IR range.