Mikroskop FT-IR LUMOS II

PROSTY EFEKTYWNY PRECYZYJNY

Mikroskopia FT-IR i obrazowanie chemiczne

Wprowadzenie do LUMOS II | Prezentacja produktu

Menedżer produktu LUMOS II prezentuje LUMOS II i jego funkcje.

Nasze oświadczenie

Mikroskopia podczerwieni taka, jaka powinna być.

Więcej miejsca na przygotowanie próbek. Większa szybkość obrazowania chemicznego. Większa wydajność w mikroskopii ATR, transmisji i refleksji. To jest to, co nazywamy prawdziwym przełomem - bez dyskusji.

Cechy

Cechy techniczne LUMOS II:

Standardowo: detektor TE-MCT
Plug & Play: nie wymagany ciekły azot czy przedmuch
Opcjonalny detektor FPA do obrazowania
Nowatorska technologia kalibracji PermaSure+
W pełni zmotoryzowany i zautomatyzowany hardware
Pomiar próbek o wysokości do 40 mm
Długa żywotność komponentów, w tym lasera
Niewrażliwy na wysoką wilgotność (optyka ZnSe)
Samodzielny, o niewielkich rozmiarach
Niskie zużycie energii

LUMOS II zapewnia:

Łatwość obsługi dzięki specjalnemu asystentowi pomiaru
Dane spektralne i widzialne wysokiej rozdzielczości
Wysoka czułość IR bez konieczności stosowanie ciekłego azotu
Rozdzielczość widzialna w zakresie sub mikrometrów
Ultraszybkie obrazowanie FPA
Obrazowanie FPA w ATR/transmisji/refleksji
Łatwy dostęp do stolika pomiarowego
Zgodność z cGMP i FDA 21 CFR p11
Automatyczne testy OQ/PQ/farmakopei
Szerokie możliwości rozbudowy systemu

Zastosowanie:

Analiza błędów
Analiza cząstek i powierzchni
Produkcja przemysłowa
Kryminalistyka
Life science
Polimery i tworzywa sztuczne
Badania środowiskowe
Przemysł farmaceutyczny

POPROŚ O DEMO

Co to jest LUMOS II

Mikroskop FTIR dla każdego

Wierzymy, że to najwyższy czas udostępnić zaawansowane techniki każdemu użytkownikowi, niezależnie o umiejętności. Korzyści z obrazowania i mikroskopii FT-IR są zbyt duże, aby ograniczyć do nich dostęp przez zbyt skomplikowany hardware czy oprogramowanie.

Od samego początku LUMOS II miał sprawić, że obrazowanie FT-IR będzie szybsze, łatwiejsze, dokładniejsze i bardziej niezawodne - a dodatkowo bardziej przyjemne w użytkowaniu. Oczywiście wymagało to od nas wprowadzenia nowych i ulepszonych sprawdzonych technologii.

Dlatego dostosowaliśmy LUMOS II, jego oprogramowanie i interfejs specjalnie do użytkownika. Początkujący mogą osiągać doskonałe wyniki w krótkim czasie, natomiast eksperci mają nieograniczone możliwości.

DOSKONAŁA MIKROSKOPIA FT-IR

Doskonałe możliwości μ-ATR FT-IR

Sprowadza się to do tego: Lepszy instrument. Lepsze wyniki.

LUMOS II zapewnia doskonałe wyniki w pomiarach transmisyjnych i odbiciowych. Godnym uwagi są pomiary w trybie osłabionego całkowitego wewnętrznego odbicia (ATR). LUMOS II jest zawsze właściwym wyborem. Jego największą zaletą jest mikroskopia ATR wzmocniona przez technologię FPA. Dzięki temu LUMOS II jest uniwersalnym narzędziem do analizy błędów i rozwoju produktów.

Krótko mówiąc, jego możliwości ATR są niezrównane. Nie zadowalaj się niewiarygodnymi, manualnymi akcesoriami ATR - zdobądź to co najlepsze. Postaw na LUMOS!

Wysuwany kryształ jest kontrolowany przez wysoce precyzyjne piezoelektryczne motory oraz jest zintegrowany z obiektywem. Pozwala to na uzyskanie idealnego obrazu próbki podczas gdy Twój pomiar odbywa się dokładnie w tym miejscu, w którym chcesz

Sprawdzona technologia

Przekonujące innowacje

Wytrzymałość i moc dla różnych zastosowań.

Jest dla nas naturalnym przekazywać najlepsze technologie naszym klientom. To również odnosi się do mikroskopu LUMOS II.

Interferometr RockSolid^TM gwarantuje stałą, wysoką wydajność, podczas gdy nowoczesna elektronika zapewnia mechaniczną precyzję i niskie zużycie energii. Oprogramowanie monitoruje efektywność instrumentu i zapewnia prawidłowe działanie.

POPROŚ O DEMO

LUMOS II filmy aplikacyjne

Analiza uszkodzeń PCB za pomocą mikroskopii FT-IR.

Analiza defektów powłoki za pomocą mikroskopii ATR-FT-IR.

Analiza warstwy klejącej folii do pakowania żywności za pomocą µ-FT-IR.

Kontrola jakości tekstyliów i polarów za pomocą mikroskopii FT-IR.

Wykrywanie niebezpiecznych cząstek w lekach podawanych w zastrzykach

Analiza przyczyn źródłowych cząstek przeprowadzona za pomocą mikroskopii IR.

Kompozytowe polimery wielowarstwowe analizowane metodą ATR-FT-IR.

Analiza grubości powłoki warstw DLC za pomocą mikroskopii FT-IR.

Analiza ilościowa w próbkach mikroskopowych za pomocą FT-IR.

Jak LUMOS II jest stosowany w geologii i naukach pokrewnych.

Analiza powłoki antykorozyjnej na powierzchni metalu za pomocą obrazowania w podczerwieni.

Analiza wielowarstwowych folii i laminatów za pomocą obrazowania makro ATR.

Analiza diamentowych kamieni szlachetnych za pomocą mikroskopii FT-IR.

Finding microplastic particles in cosmetic products by µ-FT-IR.

Przekonaj się sam, jak dobrze dane IR i VIS pasują do LUMOS II.

Mikroskopia ułatwia

Wybierz zastosowanie μ-FT-IR

Analiza cząstek i powierzchni

Badanie czystości technicznej, badanie cząstek, czy weryfikacja jednorodności powłok. Dzięki specjalnym funkcjom oprogramowania do identyfikacji cząstek i automatycznego pomiaru, LUMOS II jest twoim stałym partnerem do analizy wszelkich cząstek na dowolnej powierzchni.

Produkcja przemysłowa

Wszystkie rodzaje substancji organicznych i nieorganicznych są stosowane w produkcji przemysłowej, a tym samym szkody i defekty mogą przybierać różne formy. Jako prawdziwie uniwersalna technika, mikroskopia FT-IR jest bardzo pomocna w tych zastosowaniach do analizy błędów, defektów i przyczyn źródłowych.

Badania środowiskowe

Chemiczne zanieczyszczenia mocno wpływają na nasz ekosystem. Wykorzystaj mikroskopię FTIR i obrazowanie do oceny zanieczyszczenia gleby, wody i powietrza. Analizuj złożone próbki takie jak osady, próbki geologiczne i oceniaj pozostałości na filtrach.

Life science

Analiza mikro-FTIR jest bardzo przydatna w analizie próbek biologicznych. Umożliwia odkrywanie specyficznych chorób, dysfunkcji tkanek lub nowych chorób związanych z biomarkerami. Z opcją szybkiego obrazowania i szerokim polem widzenia, mikroskop LUMOS II upraszcza czasochłonne badanie tkanek.

Kryminalistyka

Najmniejszy szczegół może mieć znaczenie w kryminalistyce. Mikroskopia FTIR to metoda pozwalająca na analizę śladową. Analizuj włóka, narkotyki, farby, lakier i znajdź odpowiedzi na złożone pytania analityczne.

Polimery

FTIR to jedna z najważniejszym technik analitycznych w badaniach polimerów. Właśnie w tym obszarze mikroskopia podczerwieni daje dostęp to informacji o detalach. Daje możliwość śledzenia defektów produktu, takich jak wtrącenia czy niehomogeniczność. Zacznij odkrywać skład chemiczny złożonych materiałów, struktur wielowarstwowych, laminatów, kompozytów i lakierów.

Sztuka i renowacja

LUMOS II pomaga odkryć kompozycję kolorów stosowanych w obrazach historycznych i przyjrzeć się bliżej chemicznej degradacji marmuru w zabytkowych posągach. Samodzielny, kompaktowy design umożliwia podróżowanie, łatwą konfigurację i precyzyjne rezultaty.

Farmacja

LUMOS II jest zgodny ze wszystkimi regulacjami w farmacji tj. cGMP, GLP FDA 21 CFR part 11 oraz wszystkimi farmakopeami. Automatyczne testy kwalifikacyjne (OQ/PQ/PhEur/PhJp/USP) dają czas na skupienie się na zadaniach analitycznych: analiza tabletek, granulatów i proszków, identyfikacja cząstek i innych zanieczyszczeń; oznaczanie i dystrybucja API oraz substancji pomocniczych.

Analiza powierzchni

Analiza powierzchni, powłok lub czystości za pomocą mikroskopii FTIR. Folie organiczne i nieorganiczne na gotowych produktach są badane pod kątem ich jednolitości i grubości warstwy.

Inne zastosowania

Ultraszybki mikroskop do obrazowania

OPUS Release 8.8 | LUMOS II | Q3 2023

New Feature: 3D FocusFusion now allows the creation of visual images of infinite "sharpness"

This new feature creates a pin sharp visual image, even if the sample has a rough surface or isn’t flat at all.
This infinite "sharpness" in microscopic images helps in region of interest selection. Now it will be possible to generate sharp visual images of samples for which the depth of field of the LUMOS II is limited.

Image of a highly structured surface created by 3D FocusFusion.

New Feature: FPA imaging can now follow round / circular measurement areas

Now, the measurement grid can be placed in a round shaped way to measure a whole particle filter with FPA imaging. By only measuring the actual region of interest users safe significant amounts of time during FPA measurements of round regions of interest like filters in microplastic analysis.

Circular measurement area on an aluminum oxide filter for particle analysis

OPUS Release 8.7 | LUMOS II | Q3 2021

New Feature: High Performance Chemical Image Generation by New Adaptive K-means Clustering Function

This new function is the logical next development step for our well known Cluster analysis function.The Adaptive K-means Clustering Function is based on a new algorithm, which enables a non-supervised and autonomous determination of spectral variance within your imaging or mapping results.

Forecasting or time consuming searching of the included amount of chemical classes is no longer been necessary as the algorithm can predict all included chemical classes by itself.
This major function is important for all kind of chemical imaging and distribution analysis of unknown samples or small structures within larger datasets.
Together with the LUMOS II analysis and evaluation is as easy as possible and safes your valuable time and nerves.

New Feature: “Cluster ID” Function for Identification of Classes in 3D Spectral Data

Our new Cluster ID function enables the identification of clusters within imaging and mapping data using the OPUS functions: spectrum search in libraries, quick compare, or identity test.

Easy determination of the chemical identity of classified sample components for particles, layers in laminates, components of pharmaceutical tablets and other inhomogeneous materials.
Reliable and comprehensive statistics reports about quantity, size and of course identity of all analyzed structures is provided and leads particle and technical cleanliness analysis to a new, autonomous level.

Updated Feature: "Find Particles" function now contains a novel particle detection method

The proven "Find Particle" software can now be applied to both: the visual and the IR image. With this updated feature, you are able to do particle detection based on chemical images that were measured by the LUMOS II.

While particle recognition for low contrast structures and off-white/transparent particles/fibers on off-white filter membranes can be tedious, a postrun particle determination based on the chemical IR image allows you to determine quantity and size of particles from your imaging or mapping results.
With the Find Particle Function together with the LUMOS II you will never miss any detail – neither in visual nor in IR range.