LUMOS II FT-IR Mikroskop

Einfach. Effektiv. Präzise.

Die FT-IR-Workstation für Mikroskopie und Bildgebung

Die Vorstellung des LUMOS II | Produktpräsentation

Der LUMOS II Produktmanager spricht über das LUMOS II und seine Funktionen.

Infrarotmikroskopie ohne Kompromisse

Mehr Platz für Ihre Proben. Mehr Geschwindigkeit bei chemischer Bildgebung. Mehr Leistung in der ATR-, Transmissions- und Reflexionsmikroskopie. Andere nennen es Innovaton, wir nennen es LUMOS II.

FT-IR Mikroskopie Funktionen und Leistungsmerkmale

Technische Merkmale von LUMOS II:

Standard TE-MCT-Detektor
Plug & Play: weder flüssiger Stickstoff noch Trockenluftspülung benötigt
Optionaler FPA-Imaging-Detektor
Neue PermaSure+ Kalibriertechnologie
Vollmotorisierte und automatisierte Hardware
Erlaubt Proben von bis zu 40 mm Höhe
Lange Komponenten-Lebensdauer (inkl. Laser)
Inert gegen hohe Luftfeuchtigkeit (ZnSe Optics)
Stand-alone Design, geringer Platzbedarf
Niedriger Stromverbrauch

LUMOS II bietet:

Benutzerfreundlichkeit durch software-unterstützte Messungen
Hochauflösende spektrale und visuelle Daten
Hohe IR-Empfindlichkeit ohne Flüssigstickstoff
Visuelle Auflösung im Submikrometerbereich
Ultraschnelles FPA-Imaging
FPA-Imaging ATR/Transmission/Reflexion
Einfacher Zugang zum Probentisch
Konformität mit cGMP und FDA 21 CFR p11
Automatisierte OQ/PQ/Pharmakopöe-Tests
Alle Features jederzeit nachrüstbar

Anwendungen

Fehleranalyse
Partikel- & Oberflächenanalyse
Industrielle Fertigung
Forensik
Life Science
Polymere & Kunststoffe
Umweltwissenschaften
Pharmazeutika

DEMO-TERMIN VEREINBAREN

Das FT-IR Mikroskop für alle

Wir glauben, es höchste Zeit die fortschrittlichste Technik auch allen Nutzern zur Verfügung zu stellen - und zwar so einfach wie möglich. Der Grund ist klar: die Vorteile der FT-IR-Bildgebung und Mikroskopie sind einfach zu groß, um die Nutzung durch umständliche Hard- und Software einzuschränken.

Das LUMOS II macht FT-IR-Bildgebung einfacher, genauer, zuverlässiger und noch schneller. Die Grundlage dafür bilden verbesserte bewährte und neu entwickelte Technologien, doch im Zentrum stehen die beide innovativen TE-MCT und Focal-Plane Array (FPA) Detektoren. Kurz gesagt, diese Kombi ist einfach unschlagbar.

Wir haben das LUMOS II, seine Software und die Benutzeroberfläche auf häufige Nutzung ausgelegt. Anfänger erhalten perfekte Ergebnisse in kürzester Zeit, während Experten jederzeit volle Kontrolle über das Mikroskop behalten.

Hervorragendes μ-ATR ist bei uns Standard

Ob in Transmission, Reflexion oder Abgeschwächter Totalreflexion (ATR), das LUMOS II ist immer die richtige Wahl. Seine größte Stärke ist jedoch die ATR-Mikroskopie, gekrönt durch FPA-Technologie. Damit ist das LUMOS II ein universelles Werkzeug für die Fehleranalyse und Produktentwicklung.

Der ATR-Kristall ist nahtlos in das Mikroskop integriert und verfügt über einen präzisen Drucksensor. Piezoelektrische Motoren steuern den Kristall behutsam und exakt auf den ausgewählten Messpunkt.

Begnügen Sie sich nicht mit unzuverlässigem, manuellem ATR-Zubehör oder groben Drucksensoren die im Probentisch verbaut sind.

Der Standard in ATR-FT-IR Mikroskopie heißt LUMOS II.

Wir überzeugen mit Innovation

Höchste Präzision und Leistung für Ihre FT-IR-Mikroskopie.

Für uns ist das selbstverständlich. Wir wollen die beste Technik an unsere Kunden weitergeben, ob in der Routine oder der Forschung. Unser bewährtes RockSolid^TM Interferometer garantiert konstant-hohe Leistung, während die fortschrittliche Elektronik mechanische Präzision und geringen Energieverbrauch sicherstellt. Zusätzlich überwacht die Software den Gerätestatus kontinuierlich und sorgt so für die korrekte Funktionalität bei jeder Messung. Garantiert.

ICH MÖCHTE EINEN DEMO-TERMIN VEREINBAREN

LUMOS II Applikationsvideos

PCB failure analysis by FT-IR microscopy.

Coating defect analysis by ATR-FT-IR microscopy.

Adhesive layer analysis of a food packaging film by µ-FT-IR.

Textile and fleece quality control by FT-IR microscopy.

Detecting dangerous particles in injectable medication.

Particle root cause analysis performed by IR microscopy.

Composite multi-layer polymers analyzed by ATR-FT-IR.

Coating thickness analysis of DLC layers by FT-IR microscopy.

Quantification in microscopic samples by FT-IR.

How LUMOS II is applied in geology and related sciences.

Anti-corrosive coating analysis on metal surface by IR imaging.

Multi-layer film and laminate analysis by macro ATR imaging.

Diamond gemstone analysis by FT-IR microscopy.

Finding microplastic particles in cosmetic products by µ-FT-IR.

See for yourself how well IR and VIS data match with LUMOS II.

Mikroskopie leicht gemacht

Wählen Sie Ihre μ-FT-IR-Anwendung

Partikelanalytik

Ob technische Sauberkeit, die Untersuchung von Partikeln oder die Überprüfung der Homogenität einer Beschichtung. Mit speziellen Software-Funktionen, um Partikel zu identifizieren und automatisch zu messen, ist das LUMOS II Ihr zuverlässiger Partner für die Analyse von Partikeln auf jeder Oberfläche.

Industrielle Fertigung

Eine Vielzahl von organischen und anorganischen Stoffen werden in der industriellen Fertigung verwendet. Somit können Schäden und Defekte auch viele verschiedene Ursachen haben. Als wirklich universelle Technik ist die FT-IR-Mikroskopie eine große Hilfe bei solchen Fehler- und Ursachenanalysen.

Umweltwissenschaften

Chemische und Partikelkontaminationen beeinflussen unser Ökosystem stark. Verwenden Sie die FT-IR-Mikroskopie und Bildgebung, um die Verschmutzung in Böden, Wasser und Luft zu bewerten. Untersuchen Sie komplexe Proben wie Sedimente, geologische Proben und analysieren Sie Rückstände auf Filtern.

Life Science

Die Analyse mit µ-FT-IR liefert wichtige Erkenntnisse in der Biologie. Es ermöglicht das Aufspüren spezifischer Krankheitsmuster, dysfunktionalen Gewebes oder sogar neuer krankheitsbezogener Biomarker. Mit schnellen Bildgebungsfunktionen und einem riesigen Sichtfeld vereinfacht das LUMOS II langwierige Gewebeuntersuchungen.

Forensik

In der Forensik kann selbst das kleinste Detail von größter Bedeutung sein. Die FT-IR-Mikroskopie ist die Methode der Wahl, um geringste Faserspuren und chemische Rückstände zu untersuchen. Analysieren Sie außerdem Medikamente, Farben und Lacke und gehen Sie komplexen analytischen Fragen auf den Grund.

Polymere und Kunststoffe

FT-IR ist eine der wichtigsten Analysetechniken in der Polymerwissenschaft. Die Infrarotmikroskopie bietet Zugang zu detailreichen chemischen Analysen. Beginnen Sie mit der Erfassung der chemischen Zusammensetzung komplexer Materialien, mehrschichtiger Strukturen, Laminaten, Verbundwerkstoffen und Lacken.

Kunst und Restaurierung

Das LUMOS II hilft dabei die Farben von historischen Gemälden behutsam und zerstörungsfrei zu analysieren. Andere Beispiele sind die Untersuchung der chemischen Verwitterung von Marmor in antiken Statuen. Der kompakte Formfaktor ermöglicht unkomplizierten Transport, eine einfache Einrichtung und präzise Ergebnisse.

Pharmazeutische Herstellung

Der LUMOS II entspricht vollumfänglich allen pharmazeutischen Vorschriften wie cGMP, GLP FDA 21 CFR Part 11 und allen Pharmakopöen. Automatisierte Instrumenten-qualifizierungstests (OQ/PQ/Ph.Eur./USP/JP/uvm.) geben Ihnen Zeit, sich auf Ihre analytischen Aufgaben zu konzentrieren: Tabletten, Granulate und Pulver untersuchen, Partikel und andere Verunreinigungen erkennen und APIs und Hilfsstoffverteilung bestimmen.

Oberflächen-Analytik

Bewerten Sie Oberflächenbehandlungen, Beschichtungen oder Sauberkeit mit Hilfe der FT-IR-Mikroskopie. Organische und anorganische Beschichtungen auf Fertigprodukten können auf deren Homogenität und Schichtdicke untersucht werden

Further Applications

DAS ULTRASCHNELLE BILDGEBUNGSMIKROSKOP

Kundenmeinung: Mikroplastik

Das Team um Dr. Martin Löder und Prof. Christian Laforsch unterhält eines der führenden Mikroplastik-Analyselabore in Deutschland.

OPUS Release 8.8 | LUMOS II | Q3 2023

Neue Funktion: 3D FocusFusion erlaubt die Erstellung visueller Bilder von "unendlicher Schärfe".

Diese neue Funktion erzeugt ein gestochen scharfes visuelles Bild, selbst wenn die Probe eine raue Oberfläche hat oder uneben ist. Diese "unendliche Schärfe" in mikroskopischen Bildern hilft bei der Auswahl des relevanten Probenbereichs. Ab sofort ist es möglich sein, scharfe visuelle Bilder von Proben zu generieren, für die die Schärfentiefe des LUMOS II andernfalls limitiert wäre.

Bild einer stark strukturierten Oberfläche, erstellt mit 3D FocusFusion.

Neue Funktion: FPA Messungen können jetzt auch einem runden Muster folgen

Das FPA-Messgitter kann jetzt auch rund gewählt und als Kreis platziert werden, um z.B. einen gesamten Partikelfilter mit FPA-Bildgebung zu messen. Durch die Messung des tatsächlichen Probenbereiches ohne überflüssige Randbereiche sparen Benutzer erheblich Zeit und Speicherplatz.

Kreisförmiger Messbereich auf einem Aluminiumoxidfilter für die Partikelanalyse.

OPUS Release 8.7 | LUMOS II | Q3 2021

Neue Funktion: Chemische Bilderzeugung durch Adaptive K-means Clustering

Die Adaptive K-means Clustering Funktion basiert auf einem neuen Algorithmus, der eine autonome Bestimmung der spektralen Varianz innerhalb Ihrer chemischen Bildgebungsergebnisse ermöglicht.

Eine zeitaufwändige Suche nach der Anzahl der enthaltenen chemischen Klassen ist nicht mehr notwendig, da der Algorithmus alle enthaltenen chemischen Klassen selbständig vorhersagen kann.
Diese Hauptfunktion ist wichtig für alle Arten der chemischen Bildgebung bzw. Verteilungsanalyse von Inhaltsstoffen bei unbekannten Proben oder kleinen Strukturen innerhalb größerer Datensätze.
Zusammen mit LUMOS II wird die Auswertung so einfach wie möglich gestaltet, was wertvolle Zeit spart.

Neue Funktion: "Cluster ID"-Funktion zur Identifizierung von Klassen in 3D-Spektraldaten

Unsere neue Cluster ID-Funktion ermöglicht die Identifizierung von Clustern in Bildgebungs- und Kartierungsdaten mittels folgenden OPUS-Funktionen: Spektrensuche in Bibliotheken, Schnellvergleich oder Identitätstest.

Einfache Bestimmung der chemischen Identität von klassifizierten Probenbestandteilen für Partikel, Schichten in Laminaten, pharmazeutischen Tabletten und anderen inhomogenen Materialien.
Generieren Sie zuverlässige und umfassende Statistikberichte über Menge, Größe und natürlich Identität aller analysierten Strukturen werden bereitgestellt und führen die Partikel- und technische Sauberkeitsanalyse auf ein neues, eigenständiges Niveau.

Aktualisierte Funktion: "Find Particles"-Funktion enthält verbesserte Methodik

Die bewährte Funktion "Find Particle" kann nun sowohl auf das visuelle als auch auf das IR-Bild angewendet werden. Mit dieser aktualisierten Funktion können Sie Partikel auf der Grundlage von chemischen Bildern, die mit dem LUMOS II gemessen wurden, erkennen.

Während die Partikelerkennung bei kontrastarmen Strukturen und nicht-weißen/transparenten Partikeln/Fasern auf nicht-weißen Filtermembranen mühsam sein kann, ermöglicht eine Partikelbestimmung nach dem Lauf auf der Grundlage des chemischen IR-Bildes die Bestimmung von Menge und Größe der Partikel anhand der Bildgebungs- oder Mapping-Ergebnisse.
Mit der Partikelsuchfunktion in Verbindung mit dem LUMOS II entgeht Ihnen kein Detail - weder im visuellen noch im IR-Bereich.