LUMOS II

分析スキルレベルに関係なく、高度な技術をすべてのユーザーが利用できる時代が来ていると私たちは考えています。FT-IRイメージングと顕微 FT-IR の利点は、使いにくい装置という理由で制限することができないほど、あまりにも多すぎるからです。

LUMOS II は開発の当初から、FT-IRイメージングをより速く、より簡単に、より正確に、より信頼性の高いものにし、さらには分析そのものを楽しめることを目的としていました。もちろん、そのためには、新しい技術を取り入れ、実績のある技術を改良する必要がありました。

そうした観点から、特にソフトウェアやユーザーインターフェースは、ユーザーに合わせて調整しました。 初心者は時間をかけずとも完璧な結果を得ることができ、同時に、上級者による装置の完全な制御を可能にする柔軟性も維持しています。

新機能：3D FocusFusionは、無限の "シャープネス "を持つ視覚イメージの作成を可能にしました。

この新機能は、表面に凹凸がある試料について、ピンシャープな視覚イメージを作成します。 顕微鏡画像における"シャープネス"は関心領域の選択に役立ちます。これにより、LUMOS IIの被写界深度に制限がある試料でも、シャープな視覚イメージを生成することが可能になります。

新機能：FPAイメージングが円形の測定領域に追従できるようになりました。

測定グリッドを円形に配置することで、FPA イメージングで粒子フィルター全体を効率的に測定できるようになりました。マイクロプラスチック分析で使用されるフィルターについて、円形の関心領域のみを測定することで、測定時間を大幅に削減することができます。

新機能：適応的K平均クラスタリング機能による高性能ケミカルイメージング生成法

この新しい機能は、当社の定評あるクラスター分析機能の論理的な次の開発ステップです。適応的K平均クラスタリング機能は、新しいアルゴリズムに基づいており、イメージングまたはマッピングデータ内のスペクトル分散を監視なしで自律的に決定できます。

• このアルゴリズムでは、試料に含まれる化学物質を自ら予測することができるため、ピーク強度を用いて量的に解析したり、時間をかけて検索する必要がなくなります。
• 本機能は、あらゆる種類のケミカルイメージングに適用でき、未知試料の分散状態や、大きなデータセット内に隠れている微小構造の分析などにおいても有効です。
• 分析と解析を可能な限り簡単にし、貴重な時間を節約することができます。

新機能：3Dスペクトルデータからクラスを識別する”クラスターID”機能

新規クラスターID機能により、OPUSの標準機能（スペクトル検索、クイックコンペア、判別テスト）を使用して、イメージングおよびマッピングデータ内のクラスターを識別することができます。

• 粒子、ラミネート層、医薬品錠剤の成分など、不均一な材料について各成分が自動的に分類され、化学的同一性を簡単に決定することができます。
• 分析されたすべての構造物の量、サイズはもちろん、同一性に関する信頼性の高い包括的な統計レポートが提供され、粒子および技術的な清浄度分析を新しい自律レベルに導きます。

機能アップデート：「パーティクルファインド（粒子検出）」機能に新たな粒子検出法が追加

実績のある「パーティクルファインド」機能が、可視画像だけではなくケミカルイメージにも適用できるようになりました。 これにより、LUMOS IIを用いて測定し作成されたケミカルイメージデータについても粒子の検出を行うことができます。

• コントラストの低い構造物や、オフホワイト色のフィルターメンブレン上にある透明な粒子やファイバーの認識は難しい場合がありますが、本機能を用いてケミカルイメージに対してパーティクルファインド機能を実行することにより、イメージングまたはマッピングデータにおける粒子の量とサイズを決定することができます。
• LUMOS IIとパーティクルファインド機能を併用すると、視覚的にも赤外的にも細部を見逃すことはありません。