하이페리온 II

무엇보다도, 기기에 대한 완전한 액세스 권한이 있어야 합니다. 실험, 샘플 및 매개변수에 대한 액세스, 이것이 HYPERION II 의 토대이자 가장 가치 있는 자산인 완전한 제어를 제공하는 것입니다.

단일 지점 모드에서 수행하는 FT-IR 측정, 서로 다른 디텍터 또는 렌즈로 매핑 또는 이미징, 특수 샘플 측정, ATR 또는 Grazing Angle Objective는 언제든지 결과에 영향을 미치고 더 나은 결과를 만들 수 있습니다.

이것이 LUMOS II IR 현미경과의 분명한 차이점입니다. LUMOS II 가 사용자로부터 지루한 실험 세부사항을 덜어주고 측정 프로세스를 자동화하는 반면, HYPERION II 는 사용자가 요구하는 것만 수행하는 정밀 도구로 남아있습니다.

많은 사용자가 HYPERION II와 그것의 강점을 알고 그것의 전임자를 통해. 거의 20 년 동안 IR 현미경 검사 및 이미징의 혁신 힘이되었습니다. HYPERION을 뛰어난 FT-IR 현미경으로 만든 것들은 여전히 존재합니다 - 더 좋고, 빠르며, 개선되었습니다.

HYPERION II는 액체 질소 및 열전 냉각 MCT, 초점 평면 배역 영상 감지기, 시각화 및 적외선 강화 도구, 그리고 다양한 전용 부속품 등 일상 연구 루틴에서 필요로 하는 모든 기능을 갖추고 있습니다.

결국, 우리는 FT-IR 현미경 검사법과 이미징의 벤치마크를 다시 한 번 설정하고, 확립된 가치있는 방법을 유지하면서 새롭고 흥미로운 기술을 도입하여 혁신 리더로서의 이름에 부응하고 싶습니다.

단일 기기에서의 QCL 및 FT-IR

처음으로, 사용자는 FT-IR 및 QCL 기술을 하나의 기기에 결합한 IR 현미경에 액세스할 수 있습니다. 이를 통해 우리는 생명 과학 및 재료 연구에 완전히 새로운 문을 열고 있습니다.

FT-IR 스펙트럼을 수집하고 QCL을 사용하여 조사하려는 파장을 선택하고 수 초 내에 멋진 화학적 이미지를 생성합니다.

FT-IR 과 적외선 레이저 이미징의 완전히 새로운 접근 방식을 통해, 우리는 마침내 사용자, 연구원 및 과학자에게 새로운 응용 프로그램을 개발할 수 있는 도구뿐만 아니라 확립되고 입증된 접근 방식을 개선할 수 있는 도구를 제공합니다.

뛰어난 성능을 갖춘 진정한 QCL 현미경

HYPERION II 는 최첨단 FT-IR 현미경으로, 완벽한 QCL 현미경을 제공합니다. 실제로, 우리는 디지털 후처리 없이 비할 데 없는 IR 레이저 이미징 성능을 구현하는 새로운 간섭 감소 기술을 개발하고 특허를 받았습니다.

예: 기존 FT-IR 에서 공간결맞음성(Spatial Coherence)은 역할을 하지 않습니다. 그러나 QCL을 사용한 IR 현미경 측정에서는 공간 간섭 현상이 불가피하게 발생합니다. IR 이미지 및 스펙트럼의 이러한 줄무늬와 반점은 일반적으로 화학적 이미징에 유해한 것으로 간주됩니다 (참조; DOI: 10.1002/jbio.201800015).

실제로, 산란된 광자의 위상 관계를 설명하는 물리적 정보와 샘플의 화학적 정보를 분리하는 것은 쉬운 일이 아닙니다. HYPERION II 는 이 문제를 실용적으로 접근하여 스마트 하드웨어 설계로 해결하며 화학 이미징 데이터를 얻을 수 있습니다.

FT-IR 및 QCL 분광검사 비교

이 기술을 비교하면, 두 가지 모두 동일한 작업을 동등하게 잘 수행할 수 있음을 의미합니다. FT-IR 및 적외선 레이저 이미징은 뚜렷한 장점을 가지고 있으며 두 가지 모두의 실용적인 조합으로 최상의 결과를 얻을 수 있습니다.

우리는 대부분의 과학자와 연구원이 FT-IR의 보편성을 놓치고 싶지 않다는 것을 알고 있습니다. 그들은 참조나 근거 없이 하나의 최첨단 기술에 국한되는 것을 좋아하지 않습니다. 다행히도 HYPERION II 는 뛰어난 FT-IR 이미징 현미경과 야시찬 QCL 현미경을 모두 고려해볼 수 있습니다.

우리는 이 이중성을 해결했으며 QCL 기술이 동일한 신호 대 잡음에서 훨씬 더  빠르게 데이터를 기록하지만 이는 여전히 작은 범위의 MIR 로 제한됩니다. 다시 말하지만, 우리는 HYPERION II 의 개념에 충실합니다. 선택하십시오. 여러분은 모든것을 제어 할 수 있습니다.

새로워진 기능: 새로운 적응형 K-평균 클러스터링 기능을 통한 고성능 화학 이미지 생성

이 새로운 기능은 잘 알려진 클러스터 분석 기능의 논리적인 다음 개발 단계로, 적응형 K-평균 클러스터링 기능은 새로운 알고리즘을 기반으로 하여 이미징 또는 매핑 결과 내에서 스펙트럼 분산을 스스로 자율적으로 결정할 수 있게 해줍니다.

•  알고리즘이 포함된 모든 화학물질을 자체적으로 예측할 수 있으므로 포함된 화학물질의 양을 예측하거나 시간을 들여 검색할 필요가 없어졌습니다.
• 이 주요 기능은 모든 종류의 화학 이미징과 대규모 데이터 세트 내의 미지의 샘플 또는 작은 구조의 분포 분석에 중요합니다.
• 분석과 평가가 최대한 쉬워지고 귀중한 시간과 수고를 아낄 수 있습니다.

새로워진 기능: “3D 스펙트럼 데이터에서 클래스 식별을 위한 ‘클러스터 ID’ 기능

새로운 클러스터 ID 기능을 사용하면 라이브러리에서 스펙트럼 검색, 빠른 비교 또는 식별 테스트와 같은 OPUS 기능을 사용하여 이미징 및 매핑 데이터 내에서 클러스터를 식별할 수 있습니다.

• 입자, 라미네이트의 층, 제약 정제의 성분 및 기타 불균일 물질에 대한 분류된 시료 성분의 화학적 특성을 쉽게 측정할 수 있습니다.
• 분석된 모든 구조물의 수량, 크기, 정체성에 대한 신뢰할 수 있는 종합 통계 보고서가 제공되며 입자 및 기술적 무결성 분석을 새롭고 자동화된 수준으로 끌어올립니다.

새로워진 기능: “이제 ‘파티클 찾기’ 기능에 새로운 파티클 감지 방법이 추가되었습니다.

이제 입증된 “입자 찾기” 소프트웨어를 시각 이미지와 적외선 이미지 모두에 적용할 수 있습니다. 이 업데이트된 기능을 사용하면 LUMOS II로 측정한 화학 이미지를 기반으로 입자 검출을 수행할 수 있습니다.

• 저 대비 구조와 회백색 필터 막 상의 회백색/투명 입자/섬유에 대한 입자 인식은 번거로운 작업이지만, 화학적 IR 이미지를 기반으로 한 사후 입자 결정을 통해 이미징 또는 매핑 결과에서 입자의 양과 크기를 파악할 수 있습니다.