HYPERION II

Bei anspruchsvollen Experimenten geht es vor allem darum jede Stellschraube im Griff zu haben, jeden Parameter exakt einstellen und die Proben optimal handhaben zu können. Genau das ist die Grundlage des HYPERION II und sein wertvollstes Kapital: die absolute Kontrolle über das Experiment.

Ob FT-IR-Messungen im Einzelpunkt-Modus, beim Mapping oder der Bildgebung mit verschiedenen Detektoren oder Objektiven und egal mit welchem Probentisch: Sie entscheiden wohin es geht.

Das ist der klare Unterschied zu unserem LUMOS II IR-Mikroskop. Wo das LUMOS II dem Anwender mühsame experimentelle Einstellungen abnimmt und den Messprozess automatisiert, bleibt das HYPERION II das präzise Werkzeug, dass genau das tut, was der Anwender von Ihm verlangt - mit höchster Qualität.

Die meisten Anwender kennen die Stärken des HYPERION II dank des Vorgängers, der über 20 Jahre synonym mit Innovation in IR-Mikroskopie und Bildgebung war. Und all die Dinge, die das HYPERION zu einem herausragenden
FT-IR-Mikroskop gemacht haben, sind immer noch da. Nur eben schneller, besser und mit einer neuen, intuitiven Bedienoberfläche.

Das HYPERION II besitzt alle Funktionen, die Sie in Ihrer täglichen Forschungsroutine benötigen: flüssigstickstoff- und thermoelektrisch-gekühlte MCTs, Focal-Plane Array Imaging-Detektoren, VIS- und IR-Mikroskopiewerkzeuge wie spezielle Polarisatoren und natürlich die bekannte Fülle an speziellem Zubehör.

Mit dem HYPERION II wollten wir ein weiteres mal Maßstäbe in der FT-IR-Mikroskopie und Bildgebung setzen und unserem Namen als Innovationsführer gerecht werden. Wir führen eine neue und spannende Technologie ein und behalten all die guten, etablierten und geschätzten Dinge, die das HYPERION ausmachten.

QCL und FT-IR in einem Mikroskop

Zum ersten Mal können Anwender auf ein IR-Mikroskop zugreifen, das FT-IR- und QCL-Technologie in einem Gerät kombiniert. Mit einem Knopfdruck wechseln Sie zwischen den Modi hin und her und können Ihre Probe so intuitiv analysieren.

Nehmen Sie ein FT-IR-Spektrum auf, wählen Sie die interessanten Wellenlängen aus, die Sie mit QCL untersuchen möchten, und erstellen Sie in Sekundenschnelle atemberaubende chemische Bilder.

Dieser völlig neue Ansatz der FT-IR- und Infrarot-Laserbildgebung gibt Anwendern, Forschern und Wissenschaftlern endlich ein Werkzeug an die Hand, mit dem Sie neue Anwendungen zu entwickeln, aber auch etablierte und bewährte Methoden verbessern können.

Ein echtes QCL-Mikroskop mit außergewöhnlicher Leistung

Das HYPERION II bietet kompromisslose QCL-Mikroskopie in einem hochmodernen FT-IR-Mikroskop. Genauer gesagt haben wir sogar eine neuartige Kohärenzreduktionstechnologie entwickelt und patentiert, um eine beispiellose IR-Laserbildgebung zu ermöglichen - ohne digitale Nachbearbeitung.

Zur Veranschaulichung: Im klassischen FT-IR spielt räumliche Kohärenz keine Rolle. Bei IR-mikroskopischen Messungen mit einer QCL treten jedoch unweigerlich räumliche Kohärenzphänomene auf. Diese Fransen und Flecken in IR-Bildern und Spektren gelten im Allgemeinen als extrem schädlich für die chemische Bildgebung (siehe rechts; DOI: 10.1002/jbio.201800015).

In solchen Fällen ist es tatsächlich nicht trivial, die chemischen Informationen der Probe von der physikalischen Information zu trennen, die die Phasenbeziehung der gestreuten Photonen beschreibt. Das HYPERION II adressiert dieses Problem pragmatisch und löst es durch intelligentes Hardware-Design.

Es eliminiert räumliche Kohärenz an der Wurzel und ermöglicht die Erfassung artefaktfreier chemischer Bildgebungsdaten.

FT-IR- und QCL-Spektroskopie im Vergleich

Bevor man sich an einen Vergleich beider Techniken macht, muss man wissen, dass beide Techniken ähnliche Aufgaben nicht gleich gut durchführen und FT-IR nicht einfach durch Infrarotlaser Mikroskopie ersetzt werden kann. Denn: FT-IR- und Infrarot-Laserbildgebung haben jeweils einzigartige Vorteile und nur eine Kombination aus beidem kann die besten Ergebnisse erzielen, ähnlich wie bei IR- und Raman-Mikroskopie.

Außerdem ist uns klar, dass die meisten Anwender und Wissenschaftler die Universalität von FT-IR nicht missen möchten. Ehrlich gesagt, mag es niemand nur auf eine einzige, hochmoderne Technik ohne Bezugspunkt beschränkt zu sein. Glücklicherweise ist das HYPERION II beides. Ein außergewöhnliches FT-IR-Bildgebungsmikroskop und ein ehrgeiziges QCL-Mikroskop.

Diese Dualität ist zentral für das HYPERION II. Dort, wo die QCL-Technologie Daten signifikant schneller beim gleichen Signal zu Rauschen aufzeichnet, ist sie immer noch auf einen kleinen Bereich des MIR beschränkt. FT-IR jedoch löst genau diese Beschränkung auf. Auch hier bleiben wir dem Konzept des HYPERION II treu. Sie haben die Wahl. Sie haben die volle Kontrolle.

Neue Funktion: Chemische Bilderzeugung durch Adaptive K-means Clustering

Die Adaptive K-means Clustering Funktion basiert auf einem neuen Algorithmus, der eine autonome Bestimmung der spektralen Varianz innerhalb Ihrer chemischen Bildgebungsergebnisse ermöglicht.

• Eine zeitaufwändige Suche nach der Anzahl der enthaltenen chemischen Klassen ist nicht mehr notwendig, da der Algorithmus alle enthaltenen chemischen Klassen selbständig vorhersagen kann.
• Diese Hauptfunktion ist wichtig für alle Arten der chemischen Bildgebung bzw. Verteilungsanalyse von Inhaltsstoffen bei unbekannten Proben oder kleinen Strukturen innerhalb größerer Datensätze.
• Zusammen mit HYPERION II wird die Analyse noch schneller, einfacher und genauer.
  

Neue Funktion: "Cluster ID"-Funktion zur Identifizierung von Klassen in 3D-Spektraldaten

Unsere neue Cluster ID-Funktion ermöglicht die Identifizierung von Clustern in Bildgebungs- und Kartierungsdaten mittels folgenden OPUS-Funktionen: Spektrensuche in Bibliotheken, Schnellvergleich oder Identitätstest.

• Einfache Bestimmung der chemischen Identität von klassifizierten Probenbestandteilen für Partikel, Schichten in Laminaten, pharmazeutischen Tabletten und anderen inhomogenen Materialien.
• Generieren Sie zuverlässige und umfassende Statistikberichte über Menge, Größe und natürlich Identität aller analysierten Strukturen werden bereitgestellt und führen die Partikel- und technische Sauberkeitsanalyse auf ein neues, eigenständiges Niveau.

Aktualisierte Funktion: "Find Particles"-Funktion enthält verbesserte Methodik

Die bewährte Funktion "Find Particle" kann nun sowohl auf das visuelle als auch auf das IR-Bild angewendet werden. Mit dieser aktualisierten Funktion können Sie Partikel auf der Grundlage von chemischen Bildern, die mit dem HYPERION II gemessen wurden, erkennen.

• Während die Partikelerkennung bei kontrastarmen Strukturen und nicht-weißen/transparenten Partikeln/Fasern auf nicht-weißen Filtermembranen mühsam sein kann, ermöglicht eine Partikelbestimmung nach dem Lauf auf der Grundlage des chemischen IR-Bildes die Bestimmung von Menge und Größe der Partikel anhand der Bildgebungs- oder Mapping-Ergebnisse.
• Mit der Partikelsuchfunktion in Verbindung mit dem HYPERION II entgeht Ihnen kein Detail - weder im visuellen noch im IR-Bereich.