XRD 최고의 성능
D8 DISCOVER는 선도적인 기술 구성 요소를 제공하는 주력 다목적 X선 회절분석기입니다. 분말, 무정형 및 다결정 재료에서 상온 및 비 상온 조건에서 에필택셜 다층 박막에 이르기까지 다양한 재료의 구조적 특성화를 위해 설계되었습니다.
응용 프로그램:
MONTEL 옵틱 기능이 장착된 IμS 마이크로포커스 소스는 작은 영역이나 샘플 조사에 완벽하게 적합한 작은 고강도 X-선 빔을 제공합니다.
D8 DISCOVER는 탁월한 매핑 및 무게 용량을 갖춘 수 많은 UMC 스테이지를 제공합니다.
높은 모듈성으로 인해 UMC 스테이지는 표준 구성을 초과하는 고객 요구 사항에 맞게 사용자를 지정할 수 있습니다.
EIGER2 R 250K 및 500K는 실험실 X- 선 회절에 싱크로트론 성능을 제공하는 2D 검출기입니다.
특허받은 TRIO 옵틱을 통해 세 개의 빔패스 간에 자동 스위칭할 수 있습니다.
PATHFINDERPlus 옵틱에는 측정된 강도의 선형성을 보장하기 위해 자동화된 흡수장치가 포함되어 있으며 다음 사이를 전환할 수 있습니다.
TRIO와 PATHFINDERPlus 를 갖춘 D8 DISCOVER는 재구성없이 상온 또는 비 상온 조건에서 분말, 벌크, 섬유, 시트 및 박막 (무정형, 다결정 및 상실)을 포함한 모든 샘플 유형을 마스터합니다.
TRIO 옵틱
LYNXEYE XE-T
터보 X선 소스 (TXS)
MOTEL 옵틱을 갖춘 IμS 마이크로포커스 소스
TWIST-TUBE
X-Ray 회절(XRD) 및 반사는 얇은 층 구조화된 샘플의 비파괴 특성화에서 지배적인 역할을 합니다. D8 DISCOVER 및 DIFFRAC.SUITE 소프트웨어는 박막 분석에서 일반적인 XRD 방법의 간단한 실행을 지원합니다.
XRD는 재료의 구조적 및 물리적 특성을 연결할 수 있으므로 재료 연구에서 가장 중요한 도구 중 하나입니다. D8 DISCOVER는 재료 연구를 위한 주력 XRD 기기입니다. 선도적인 기술 구성 요소를 갖춘 D8 DISCOVER는 최고의 성능과 완전한 유연성을 제공하며 연구원이 소재의 상세한 특성을 구현할 수 있도록 합니다.
D8 DISCOVER는 높은 처리량 스크리닝(HTS) 및 샘플에 대한 넓은 영역매핑에 있어 궁극적인 솔루션입니다. UMC 샘플 단계는 D8 DISCOVER를 동력 번역 및 중량 용량 모두에서 자체 클래스로 만드는 다양한 모션을 제공합니다.
상 식별
소각 X선 산란(SAXS)
광각 X선 산란(WAXS)
X선 반사측정 (XRR)
고분해능 X선 회절(HRXRD)
사양 | 혜택 | |
TWIST-TUBE | 포인트와 라인 포커스 간의 간편한 전환 사용 가능한 양극: Cr, Cu, Mo, Ag 최대 출력 및 필라멘트: 양극 재료에 따라 최대 3kW (0,4 x 16 mm²) 특허: EP 1 923 900 B1 |
파장의 빠른 변화는 완벽하게 다른 응용 프로그램과 일치 더 넓은 범위의 애플리케이션을 위해 라인과 포인트 포커스 사이를 가장 빠르게 전환하고 더 짧은 시간에 더 나은 결과를 초래합니다. |
IμS 마이크로포커스 소스 | 전력 부하: 최대 50W, 단상 전력 MONTEL과 MONTEL Plus 옵틱은 평행과 초점 거울을 결합. 빔 크기는 180 x 180 μm²입니다. 미러 출구에서 최대 통합 플럭스 8 x 10⁸ cps. 빔 발산은 0,5mrad까지 |
높은 광채와 초저배경의 밀리미터 크기의 빔 낮은 전력 소비, 물 소비 및 확장 된 수명 구성 요소와 친환경 설계 최상의 결과를 위해 빔 모양과 발산 최적화
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터보 X선 소스 (TXS) | 라인 포커스, 0.3x3 mm² 6 kW / mm²의 초점 폭주 양극 재료 : Cu, Co, Cr, Mo 최대 전압 50 kV, 양극 재료에 따라 최대 출력: Cr 3.2 kW, Cu/Mo 5.4 kW, Co 2,8 kW 사전 정렬된 텅스텐 필라멘트 |
표준 세라믹 X선 소스에 비해 최대 5배 더 많은 강도. 라인 및 스팟 포커스 애플리케이션에 적합 사전 정렬된 필라멘트는 최소 한번의 재정렬 요구 사항으로 빠른 필라멘트 교환을 허용합니다. |
TRIO 옵틱 | 소프트웨어 푸시 버튼 스위치 사이: 전동 발산 슬릿 (브래그-브렌타노) 고강도 Ka1,2 병렬 빔 고해상도 Ka1 병렬 빔 특허: US10429326, US665372, US7983389 |
수동 사용자 개입 없이 최대 6개의 서로 다른 빔 형상 간에 완전 자동 전동 전환 분말, 벌크 재료, 섬유, 시트 및 박막 (무정형, 다형성 및 상종)을 포함한 모든 샘플 유형에 완벽하게 적합합니다. |
고해상도 모노크로매터 | 대칭 및 비대칭 형상의 Ge(220) 및 Ge(004) 반사 2 바운스 및 4 바운스(바텔 타입) 단색 SNAP를 통한 정렬 프리 마운팅. LOCK 기술 |
최상의 결과를 얻기 위해 최상의 해상도 와 강도 균형에 대한 광범위한 선택. 다양한 샘플에 최적화하기 위한 단색소로마의 빠른 교환 |
D8 고니오미터 | 독립 스테퍼 모터와 옵틱 인코더가 있는 2원 고니오미터 | 브루커의 독특한 얼라인먼트 보증으로 탁월한 정확성과 정밀도 수명 윤활이 가능한 유지보수가 필요없는 구동 메커니즘/기어링 |
UMC 스테이지 | 샘플 단계의 가족 x,y 최대 +/- 150mm의 샘플 번역용 최대 50mm의 이동을 가진 z 드라이브 무한 회전을 가진 피 드라이브 최대 55° 최대 중량 (중심 위치) : 50kg |
샘플 무게와 크기에 있어 독보적인 용량 맞춤형 대형 샘플 챔버 구현 가능 |
Centric Eulerian Cradle(CEC) | 자유 샘플 스테이지 5도: x,y +/-40mm의 샘플 번역용 높이 정렬용 z 드라이브 360° 회전을 갖춘 피 드라이브 Psi 드라이브 및 각 범위 -11° ~ 98° 최대 중량 부하: 1kg 다양한 무대 애착을 사용할 수 있습니다. |
높은 정확도 결과를 위해 측면 경사로 응력 및 텍스처 측정을 합니다. (x,y)에서 자동화 된 매핑 기능. 정확한 표면 정렬을 위한 전동 틸트 스테이지. 분말 또는 모세관 스피너는 분말 회절을 허용합니다. 다른 단계와 빠르고 재현 가능한 스와핑을 위한 Bayonette 샘플 스테이지 홀더. |
Pathfinder Plus 옵틱 |
소프트웨어 푸시 버튼 스위치 사이: 전동 슬릿 2 바운스 Ge 분석기 자동 흡수기 통합 |
수동 사용자의 개입 없이 두 개의 서로 다른 광학 간에 완전 자동 전동 전환. LYNXEYE 검출기의 전체 시야를 유지합니다. |
Bruker XRD 솔루션은 분석 요구 사항을 충족하도록 구성된 고성능 구성품들로 구성됩니다. 모듈식 설계는 최고의 회절분석기를 구성하는 핵심입니다.
모든 구성품은 Bruker AXS가 개발 및 제조하거나, 제3의 공급업체와 긴밀히 협력하여 개발된 Bruker의 핵심 기술입니다.
Bruker XRD 구성품들은 이미 설치되어 있는 X선 시스템의 성능을 개선하기 위한 업그레이드에 사용할 수 있습니다.