EIGER2 R 검출기

EIGER2 R 250K와 500K는 D8 ADVANCE 및 D8 DISCOVER 회절계 제품군을 위한 사용하기 쉬운 멀티 모드(0D/1D/2D) 검출기입니다.

하이브리드 광자 카운팅(HPC) 검출기는 데트리스의 혁신적인 싱크로트론 검증 EIGER 기술의 2 세대를 기반으로 합니다. 75x75μm2 픽셀의 대형 2D면적은 미세한 해상도로 넓은 커버리지를 제공합니다. 이중 에너지 임계값과 높은 동적 범위는 모두 약하고 강한 신호를 정확하게 측정할 수 있습니다. Bruker는 DIFFRAC.SUITE 아키텍처에서 EIGER2를 완벽하고 원활하게 통합하고, 검출기 마운트의 인체공학적 디자인과 전용 액세서리를 통해 강력하고 사용하기 쉬운 솔루션을 제공합니다.

사용자는 분말 회절에서 재료 연구 응용 프로그램에 이르기까지 광범위한 측정 방법에 대한 인상적인 검출기 기능을 최대한 활용할 수 있습니다. 모든 거래의 전형적인 잭이 아닌 EIGER2는 모든 응용 분야의 마스터입니다:
정사각형 센서와 250,000픽셀 이상의 새로운 EIGER2 R 250K 검출기는 분말 회절 또는 상호 공간 맵을 위한 초고속 데이터 수집을 위한 완벽한 크기이며, 높은 동적 범위를 통해 박막의 흡수체 없는 HRXRD 및 XRR 측정이 가능합니다.
500,000픽셀의 EIGER2 R 500K는 신속한 비주변 실험 및 빠른 쌍 분포 함수 분석을 위해 1000개 이상의 채널을 제공하며 SAXS, 텍스처 및 미세 회절 실험을 포함한 2D 응용 분야에 대해 가장 높은 각도 범위를 제공합니다.

EIGER2는 DIFFRAC.SUITE 아키텍처에 완벽하게 통합되어 있습니다. 0D, 1D 및 2D 데이터 수집 모드는 단계, 연속 및 고급 측정 유형으로 일관되게 구현됩니다. 번짐없이 왜곡없는 2D 스캐닝 데이터를 제공하는 당사의 특허 알고리즘으로 최상의 데이터 품질을 보장합니다.

EIGER2는 모든 데이터 수집 전략을 효율적으로 지원하며 사용자가 모든 샘플 유형에 대해 최상의 회절 데이터를 얻을 수 있도록 합니다.

• 거친 표면, 다결정 코팅 및 에피택셜 박막이 있는 샘플을 위한 0D 모드
• 반사(Bragg-Brentano) 또는 투과 지오메트리에서 측정된 분말의 초고속 스캔과 에피택셜 박막의 상호 공간 매핑을 위한 1D 모드
• 소량의 샘플, 선호하는 방향 또는 큰 결정 크기를 가진 재료, 마이크로 매핑 및 응력 및 텍스처 분석을 위한 2D 모드

완전한 검출기 뷰를 사용하는 도구가 필요없는 파노라마 빔 옵틱은 EIGER2를 위해 특별히 설계되었습니다. 옵틱 장치는 자기 장착 및 실시간 DAVINCI 구성 요소 인식을 갖추고 있습니다. 이러한 액세서리는 기생 산란 또는 0D 및 1D 모드에서 회절 링의 번짐과 같은 기타 부작용을 최소화하여 EIGER2 검출 솔루션을 보완합니다.

사용 가능한 액세서리는 다음과 같습니다.

• 파노라마 필터, K-베타 방사선 필터링
• Bragg-Brentano 및 Debye-Scherrer 형상의 번짐과 피크 비대칭을 줄인 파노라마 축 솔러
• 소각 X선 산란(SAXS) 애플리케이션을 위한 공기 산란효과를 최소화하는 파노라마 대피 비행 튜브 및 빔 스톱