EIGER2 R 探测器
新一代HPC探测器，适用于功能最强大的XRD平台
EIGER2 R 250K和500K是一种易于使用的多模（0D/1D/2D）探测器，适用于 D8 ADVANCE和D8 DISCOVER衍射仪系列。
这种混合光子计数（HPC）探测器基于第二代Dectris革命性同步加速器EIGER技术。超大2D面积包含75x75µm2像素，可实现高分辨率宽覆盖。双能量阈值和高动态范围有助于对弱信号和强信号进行同样的精确测量。布鲁克将EIGER2完全无缝集成到DIFFRAC.SUITE架构中，加上符合人体工学设计的探测器底座和专用配件，带来简便易用的强大解决方案。
从粉末衍射到材料研究应用，用户可以在各种测量方法中充分利用探测器的杰出特性。EIGER2并非一般的多面手，而是各种应用的大师：
新款EIGER2 R 250K传感器带有一个方形传感器，像素超过25万，完美的尺寸大小为粉末衍射和倒异空间图谱提供超快数据采集。它的高动态范围使得无需吸收器即可测量薄膜的HRXRD和XRR。
EIGER2 R 500K具有50万像素，为快速非环境实验和快速配对分布函数分析提供了1000多个通道，超大2D覆盖范围实现包括SAXS、织构和微区衍射实验。
关键特性
关键益处
多模探测器
EIGER2无缝集成到DIFFRAC.SUITE架构中：0D、1D和2D数据采集模式的实现，与步进、连续和高级测量类型保持一致。我们的专利算法可确保最佳数据质量，提供无失真二维扫描数据，没有任何断线。
EIGER2可高效支持各种数据采集策略，允许用户获得每种样品类型的最佳衍射数据：
- 0D模式适用于粗糙表面、多晶涂层和外延膜样品
- 1D模式适用于粉末超快速扫描，采用反射（Bragg-Brentano）或透射衍射几何进行测量，以及用于外延膜倒易空间图谱
- 2D模式适用于少量样品、择优取向或大晶粒材料，用于微测图以及用于应力和织构分析
无与伦比的人体工学设计
不论您需要的是大2θ-覆盖范围进行粉末衍射快照扫描，还是宽γ-范围进行织构测量，也不论您是想捕获大部分衍射光束实现SAXS/WAXS，还是需要很高角分辨率来分散密集的峰值——使用EIGER2仅需很短时间就能优化仪器设置。
得益于通用探测器底座升级版（Universal Detector Mount Plus）的巧妙设计，无需工具即可改变探测器取向和样品到探测器的距离，因而可以在不同应用之间快速切换，而不会降低数据质量：
- 轻巧的紧凑型设计集成了探测器取向和安装附件的实时识别功能
- 实现了容错机制，探测器旋转时无需对准，可在几秒钟内优化γ和2θ角覆盖范围—可用扫描类型将自动适应探测器取向
- 在100毫米到500毫米范围内连续可变探测器位置，D8 DISCOVER具备自动距离校准功能——兼顾角覆盖范围和分辨率从未如此简单。
专用光学元件
专为EIGER2而设计的全景衍射光束光学元件，无需使用工具，可利用完整的探测器视野。这些光学元件采用磁性安装机制，具备实时DAVINCI元件识别功能。这些配件是对EIGER2检测解决方案的有益补充，可以最大限度地降低寄生散射或其他不利影响，如0D和1D模式下的衍射环模糊。
可用配件包括：
- 全景滤光片，滤除Kβ 辐射
- 全景轴向Soller狭缝，减少Bragg-Brentano和Debye-Scherrer 衍射几何中的断线和峰型不对称
- 全景真空飞行管道和中心光束遮挡器，可最大限度地降低空气散射对小角X射线散射（SAXS）应用的影响。
应用配图
EIGER2 R 探测器技术规格
技术规格 |
优势 |
|
有效面积 |
250K: 38.4 x 38.4 = 1,475 mm² |
大视野，可调γ-和2θ-覆盖范围 |
像素 |
250K: 512 x 512 = 262,144 |
在有效面积内提供卓越的空间分辨率 |
像素尺寸 |
75 x 75 μm² |
兼顾分辨率和计数率 最大限度地减少电荷共享 |
最大计数率 |
>3.6 x 10⁸ ph/s/mm² |
非常适用于高动态范围测量，如XRR和HRXRD，无需吸收器 |
动态范围 |
> 10⁹ ph/s/mm² |
最最高灵敏度，实现最佳2D数据质量 |
鉴频器 |
2个，下限和上限阈值 |
减少荧光和宇宙辐射，改善信号本底比 |
技术 |
第二代EIGER技术，混合光子计数 |
快速转换光子，实现最高计数率和动态范围 |
波长 |
Cr、Co、Cu、Mo和Ag（5 keV – 23 keV） 稳定的同步加速器辐射 |
一个探测器适用于各种常见波长 无直射光束造成损害 |
传感器厚度 |
450 μm | > 99% Cr、Co、Cu；50% Mo；30% Ag传感器效率 |
扫描模式 |
0D、1D和2D步进扫描和连续扫描 1D和2D快照和高级扫描模式 |
全面、统一的0D/1D/2D扫描实现 在所有模式下沿γ-和2θ灵活选择ROI 无失真2D数据算法（正在申请专利） |
工作介质 |
无 |
无需维护，无额外的耗材成本 无介质设计，确保探测器使用寿命较长，无需日常维护 |
应用 |
XRR、HRXRD；物相鉴定、定量分析、结构精修、残余应力、织构、微测图、2D衍射 |
