EIGER2 R 検出器シリーズ

0/1/2D

データ記録モード

マルチモード検出器をD8プラットフォームに統合し、あらゆるサンプルに最も効果的な測定を

100-500mm

可変サンプル－検出器間距離

アプリケーションに応じた検出角度範囲とピクセル角度分解能を両立する連続可変検出器距離

75μm

ピクセルサイズ

すぐれた角度分解能と電荷共有効果による強度減少を最適化

最もすぐれたXRDプラットフォームに対応した次世代HPC検出器

D8シリーズ with EIGER2 R 検出器

最もすぐれたXRDプラットフォームに対応した次世代HPC検出器

D8 ADVANCE / D8 DISCOVERシリーズ対応のEIGER2 R 250Kと500K検出器は、使いやすい0D / 1D / 2Dマルチモード検出器です。

ハイブリッドフォトンカウンティング (HPC) 検出器は、多くの放射光施設での高い実績を誇るDECTRISの革新的な第2世代EIGER技術をベースにしています。75 x 75 µm² pixel 以上の広い検出領域と精細な分解能で、広い2次元範囲を余すことなく記録します。2つのエネルギーしきい値と広いダイナミックレンジにより、微弱な回折信号から強い信号まで正確な記録を可能にします。DIFFRAC.SUITEソフトウェアアーキテクチャへのEIGER2の完全かつ有機的に統合され、人間工学デザインを採用した検出器マウントや専用アクセサリーにより、Brukerはパワフルで使いやすいXRDソリューションを実現しました。

EIGER2検出器シリーズは粉末回折から材料研究にいたるまで、幅広い測定方法に対応します。EIGER2はいわゆる多目的検出器の機能にとどまらず、すべてのアプリケーションにおいて、すぐれた結果を導き出します。

新しいEIGER2 R 250K検出器は、等方的な検出領域と25万画素以上のピクセルを備え、粉末X線回折や逆格子空間マップの超高速データ記録に最適です。さらに、そのすぐれたダイナミックレンジにより、強度減衰板を用いることなくHRXRD測定やXRR測定が可能です。

500,000ピクセルを有するEIGER2 R 500Kは、長手方向に1,000以上の素子を有し、雰囲気制御下における高速in-situ測定や高速二体分布関数 (PDF) 解析に対応した広域1D XRD測定を実現します。加えて、SAXS測定、極点図測定、微小部X線回折などの2D XRDアプリケーションに最適な角度分解能を提供します。

EIGER2 R 250Kと500Kについて詳しくはこちら

主な特長

EIGER2 R 250K 検出器

高いカウントレートや広いダイナミックレンジを実現する高速ハイブリッドフォトンカウンティング (HPC) 技術

すべての測定モードにおける柔軟かつリアルタイム検出領域 (ROI) 設定機能

EIGER2 R 500K 広域Gammaモード

EIGER2 R 500K 広域2θモード

D8制御ソフトウェアに完全統合

IμS線源とEIGER2検出器を組み合わせた微小部XRD構成

TRIO光学系とEIGER2検出器を組み合わせた最先端粉末XRD構成

TXS-HE線源とEIGER2検出器を組み合わせたキャピラリー透過配置

すぐれたメリット

マルチモード検出器

EIGER2検出器はDIFFRAC.SUITEソフトウェアアーキテクチャへ有機的に統合されました。0D、1D、2Dデータ記録モードは、ステップスキャン、連続スキャンのみならず、ブルカー独自の高度な測定モードを力強くサポートします。特許技術のリアルタイム補正アルゴリズムにより、2Dスキャンデータにおいても画像歪のない最高のデータ品質が保証されます。

EIGER2はどのようなサンプルに対しても、あらゆるデータ記録アプローチを効率的にサポートし、最高の回折データを得ることができます:

0Dモード: 表面ラフネスの大きいサンプルやコーティングサンプルの平行ビーム法測定、エピタキシャル薄膜の高分解能XRD
1Dモード: Bragg-Brentano集中法における反射法や透過法を用いた粉末サンプルの高速測定、エピタキシャル薄膜の逆格子空間マップ (RSM)
2Dモード: 微量サンプル、優先配向や粗大粒サンプル、微小部マッピング、残留応力、極点図解析

かつてない人間工学デザイン

スナップショットモードによる高速粉末回折のために広い2θ記録領域が必要な場合も、極点図測定に広いγ記録領域が必要な場合も、SAXS/WAXSにおいて回折強度を広範囲に記録したい場合も、近接ピークを分離する高分解能が必要な場合も、EIGER2検出器を利用すれば、装置構成の最適化に要する時間を大幅に短縮できます。

Universal Detector Mount Plusの独創的なデザインは、検出器の搭載方向やサンプル間の距離を工具なしで変更することができ、データ品質を妥協することなく、異なるアプリケーション間での迅速な切り替えを可能にします。

小型・軽量デザインで、検出器搭載方向と組み合わされたアクセサリーをリアルタイムで認識
フェイルセーフ機能を有する検出器マウントデザインが検出器搭載方向の迅速切り替えを実現－載せ替え後の調整不要、自動搭載方向認識、スキャンタイプの自動適合
D8 DISCOVERでは100 mmから最大500 mmの範囲で検出器距離を連続可変自動認識対応－記録角度範囲と角度分解能の最適化をこれまでになく簡便化

専用光学系

EIGER2検出器のための専用設計された、検出器の全領域を活用できるパノラミック光学系は、工具を用いることなく、脱着が行えます。マグネット脱着を採用し、かつリアルタイムDAVINCIコンポーネント認識機能を備えています。これらのアクセサリーは、寄生散乱や0D / 1Dモードでのアンブレラ効果などの悪影響を最小限に抑え、EIGER2の検出ソリューションを完璧に導きます。

対応アクセサリー

パノラミックフィルター: Kβ線の除去
パノラミック軸発散ソラー: Bragg-Brentano集中法光学系やDebye-Scherrer透過法配置におけるアンブレラ効果低減
パノラミック真空パス (EFT) とビームストッパー: 小角X線散乱 (SAXS) における寄生散乱および空気散乱の抑制

アプリケーションギャラリー

広域逆格子空間マップ (RSM) : 複数の基板および薄膜由来の回折点を一括記録

X線反射率測定 (XRR) : Si基板上Ta薄膜の測定とモデルフィッティング解析

1Dスキャン: 鉱物サンプル中の内包物

微小部2Dスキャン: ハンダ箇所の微小部測定とDIFFRAC.EVAソフトウェアによる定性分析結果

2D極点図データセット: 圧延アルミニウムシート

2D等高線プロット: リチウムイオン電池の充放電プロセスの可視化

2D SAXS: DIDDEAX.SAXSソフトウェアを用いたNIST SRM 8011金ナノ粒子粒径解析結果

EIGER2 R 検出器シリーズ技術仕様

	仕様	メリット
有効検出面積	250k : 38.4 x 38.4 = 1,475 mm² 500k : 77.1 x 38.4 = 2,961 mm²	2θ/γ広域モード切り替え対応
ピクセル数	250K : 512 x 512 = 262,144 500K : 1,028 x 512 = 526,336	すぐれた空間分解能
ピクセルサイズ	75 x 75 μm²	カウントレートと分解能の最適化電荷共有効果の抑制
最大カウントレート	>3.6 × 10⁸ cps/mm²	XRRやHRXRDにおける減衰板なしでの広いダイナミックレンジ測定
ダイナミックレンジ	> 10⁹ ph/s/mm²	最高の2Dデータ品質を実現する高い感度
エネルギーディスクリミネーター	2つ (上限、下限可変)	サンプル由来の蛍光X線や自然放射線を除外し、信号/ノイズ比を改善
X線検出技術	ハイブリッドフォトンカウンティング第2世代 EIGER技術	高いカウントレートと広いダイナミックレンジを実現する高速検出機構
対応波長	Cr, Co, Cu, Mo, Ag (5 keV ~ 23 keV) 放射光実績のダイレクトビーム耐性	ひとつの検出器であらゆる波長をカバーダイレクトビームによる損傷はありません
センサー厚	450 μm	センサー効率 > 99%: Cr, Co, Cu波長 50%: Mo波長 30%: Ag波長
対応スキャンモード	0D / 1D / 2Dモード: ステップスキャン、連続スキャン 1D / 2Dモード: スナップショットモードとアドバンストスキャンモード	包括的で統一された0D / 1D / 2Dスキャンの実装すべてのモードにおいて、2θ方向およびγ方向それぞれの柔軟なROI選択歪みのない2Dデータ記録アルゴリズム (特許)
外部付帯	なし	メンテナンスフリー消耗品や外部冷却水は不要
アプリケーション	XRR、HRXRD、結晶相定性、結晶相定量、結晶構造精密可、残留応力、極点図など