D8 ADVANCE
D8 ADVANCE: XRD, PDF 및 SAXS를 위한 단일 솔루션
D8 ADVANCE – X선 회절의 미래 보장 솔루션
D8 ADVANCE는 고유한 D8 회절 제품군을 기반으로 하며 다음과 같은 모든 X선 분말 회절 및 산란 응용 분야에 완벽하게 설계되었습니다.
- 전통적인 X선 분말 회절(XRD)
- 쌍 분배 함수(PDF) 분석
- 소각 X 선 산란 (SAXS, WAXS)
뛰어난 적응성으로 인해 D8 ADVANCE는 액체에서 루스 파우더, 박막에서 고체 블록에 이르기까지 단일 계측기의 모든 샘플 유형을 측정할 수 있습니다.
초보자든 전문가든 구성 변경은 빠르고 쉬우며 완벽합니다. 이 모든 것은 Bruker의 고유한 DAVINCI.DESIGN으로 가능합니다. 자동 실시간 구성 요소 인식 및 검증을 통해 도구 및 얼라인먼트가 필요없는 기기 구성 변경이 가능합니다.
Bruker만이 NIST 표준 참조 자료 SRM1976을 기반으로 얼라인먼트 보증을 제공합니다. 피크 위치, 강도 및 분해능 측면에서 D8 ADVANCE의 정확도를 능가하는 다른 분말 회절분석기는 어디에도 없습니다.
마켓 갤러리
에너지 저장/배터리
주요 기능
TWIN/TWIN 옵틱
특허받은 TWIN/TWIN 광학 빔 경로 설계는 D8 ADVANCE의 사용을 크게 단순화하여 다양한 응용 분야와 시료 유형을 제공합니다. 사용자 편의성을 염두해 두고 이 시스템은 4개의 서로 다른 빔 형상 사이의 자동 전동 스위칭을 특징으로 합니다. 수동 사용자 개입없이, 시스템은 분말에 대한 Bragg-Brentano을 맞추고 잘못된 모양의 샘플, 코팅 및 박막과 그 사이의 모든 것을 위한 병렬 빔 지오메트리를 전환할 수 있습니다. 상온 또는 비상온 조건에서 분말, 벌크, 섬유, 시트 및 박막 (무정형, 다형성 및 상압)을 포함한 모든 샘플 유형에 완벽하게 적합합니다.
동적 빔 최적화™ (DBO)
Bruker의 고유한 DBO 기능은 X 선 회절에 대한 데이터 품질 측면에서 중요한 새로운 벤치마크를 설정합니다. 전동 발산 슬릿, 전동 산란 방지 화면 및 가변 시야 액티브 검출기 창의 자동 동기화는 특히 낮은 각도에서 2Ɵ 비교할 수 없는 데이터 품질을 제공합니다. DBO는 LYNXEYE 검출기 제품군의 모든 구성원인 SSD160-2, LYNXEYE-2, 및 LYNXEYE XE-T에서 지원됩니다.
LYNXEYE XE-T
LYNXEYE XE-T는 LYNXEYE 검출기 제품군의 주력 제품입니다. LYNXEYE XE-T는 시장에서 0D, 1D 및 2D 데이터 수집을 위한 유일한 에너지 분산형 검출기입니다. 모든 파장(Cr에서 Ag까지)에 적합하고 가장 높은 계수 속도와 최상의 각도 분해능을 제공하는 이 검출기는 모든 X 선 회절 및 산란 응용 분야에 이상적입니다.
380 eV보다 우수한 LYNXEYE XE-T의 뛰어난 에너지 분해능은 형광 필터링 측면에서 시장에서 가장 성능이 좋은 검출기 시스템입니다. LYNXEYE XE-T 검출기를 사용하면 Cu 방사선에 의해 여기된 Fe fluorecense가 강도 손실없이 100 % 필터링되며 잔여 Kß 및 흡수 에지와 같은 데이터에서 아티팩트를 유발하는 금속 필터가 필요하지 않습니다. 또한 더 이상 intensity-killing 보조 모노크로메이터가 필요하지 않습니다.
LYNXEYE XE-T는 Bruker의 차별화된 검출기 얼라인먼트가 적용됩니다. 배송시 채널 결함이 없습니다. 보장합니다!
기능 갤러리
DAVINCI.DESIGN
LYNXEYE XE-T
TRIO와 TWIN 옵틱
EIGER2 R 검출기
계측기 및 데이터 품질
회절분석기 - 모든 응용 프로그램
분말 회절
X선 분말 회절(XRPD) 기술은 재료 특성화를 위한 가장 중요한 도구 중 하나입니다. 분말 패턴에 내장된 대부분의 정보는 존재하는 단계의 원자적 배열로부터 직접 파생된다. D8 ADVANCE 및 DIFFRAC.SUITE 소프트웨어를 사용하면 일반적인 XRPD 방법을 간단하게 실행할 수 있습니다.
- 결정및 비정질 상 식별 및 시편 순도의 결정
- 다상 혼합물의 결정및 비정질 상 모두의 정량적 분석
- 미세 구조 분석 (결정성 크기, 미세 변형, 장애 ...)
- 제조된 부품의 열 처리 또는 가공으로 인한 대량 잔류 응력
- 텍스처(기본 방향) 분석
- 인덱싱, ab-initio 결정 및 결정 구조 정제
Pair Distribution Function 분석
Pair Distribution Function(PDF) 분석은 브래그(Bragg)를 기반으로 하는 무질서한 재료의 구조적 정보와
확산 산란("Total Scattering")을 제공하는 분석 기술입니다. 브래그 피크는 재료의 평균 결정 구조(즉, 장거리
질서)에 대한 정보를 제공하지만 diffuse scattering을 통해 로컬 구조(예: 단거리 질서)의 특성화를 허용합니다.
D8 ADVANCE ECO 및 TOPAS 소프트웨어는 분석 속도, 데이터 품질 및 비정질, 낮은 결정성, 나노 결정성 또는 나노 구조재료의 분석을 위한 결과 측면에서 이 분야에서 가장 우수한 PDF 분석 솔루션을 나타냅니다.
- 상 식별
- 구조 결정 및 개선
- 나노 입자 크기 및 모양
박막 및 코팅
박막과 코팅의 분석은 XRPD의 동일한 원리를 기반으로 하지만, 추가 빔 조건 및 각도 제어를 사용합니다. 일반적인 예로는 상 식별, 결정 품질, 잔류 응력, 텍스처 분석, 두께 측정 및 조성 대 스트레인 해석에 국한되지 않습니다. 박막과 코팅의 분석은 비정질 및 다결정 코팅에서부터 상체 재배 필름에 이르기까지 nm에서 μm 두께에 이르는 박막 재료의 특성에 초점을 맞추고 있습니다. D8 ADVANCE ECO와 DIFFRAC.SUITE 소프트웨어는 다음을 포함하여 박막의 고품질 분석을 가능하게 합니다.
- 스침 각 회절
- X선 반사경
- 고분해능 X선 회절
- 역격자 공간 매핑
응용 프로그램 갤러리
상 식별
Non-Ambient XRD
소각 X선 산란(SAXS)
D8 ADVANCE 사양
기능 |
사양 |
혜택 |
TRIO와 TWIN 옵틱 |
소프트웨어 푸시 버튼 스위치 사이: 전동 발산 슬릿 (브래그-브렌타노) 고강도 Ka1,2 병렬 빔 고해상도 Ka1 병렬 빔 특허: US10429326, US665372, US7983389 |
수동 사용자 개입 없이 최대 6개의 서로 다른 빔 형상 간에 완전 자동 전동 전환 분말, 벌크 재료, 섬유, 시트 및 박막 (무정형, 다형성 및 상종)을 포함한 모든 샘플 유형에 완벽하게 적합합니다. |
동적 빔 최적화 |
동적 동기화: 전동 발산 슬릿 전동 산란 방지 화면 가변 액티브 검출기 창 2Ɵ 각도 범위: <1 to >150 |
공기, 계측기 및 샘플 지원 산란이 거의 없는 데이터 사소한 결정및 비정질 상에 대한 정량화를 가능하게 하는 검출의 하한을 크게 향상시켰습니다. 낮은 2Theta 각도에서 비교할 수없는 성능은 점토, 제약, 제올라이트, 다공성 프레임 워크 재료 등을 정확하게 조사 할 수 있습니다. |
LYNXEYE XE-T |
에너지 분해능: < 380 eV @ 8 KeV 감지 모드: 0D,1D, 2D 파장: Cr, Co, Cu, Mo, Ag 특허: EP1647840, EP1510811, US20200033275 |
Kß 필터 및 보조 모노크로메이터 필요 없음 Cu 방사선으로 야기되는 Fe-형광향의 100% 여과 기존 검출기 시스템보다 최대 450배 빠릅니다. BRAGG2D: 서로 다른 기본 선 빔으로 2D 데이터 수집 차별화된 검출기 보증: 데이터 산출에 결함이 있는 채널 없음 |
EIGER2 R |
Dectris Ltd가 개발한 하이브리드 광자 카운팅 기술을 기반으로 한 최신 세대 멀티 모드(0D/1D/2D) 검출기. |
0D, 1D 및 2D 감지, 스텝스캔, 연속 및 향상된 스캐닝 모드의 원활한 통합 인체 공학적, 얼라인이 없는 검출기 회전을 최적화하기 위한 γ 또는 2Θ 각 커버리지 완전한 검출기 시야를 사용하는 별도의 도구가 필요없는 파노라마 회절 빔 옵틱각도 커버리지와 해상도의 균형을 맞추기 위해 지속적으로 가변 검출기 위치 지정 |
TWIST.TUBE |
선과 점 포커스 응용 프로그램 간의 간편하고 빠르며 정렬없는 스위치 |
전기 케이블이나 물 호스의 분리 또는 튜브의 장착 해제 DAVINCI.DESIGN: 초점 방향의 완전 자동 감지 및 구성 |
샘플 체인저 |
FLIPSTICK: 9가지 샘플 오토체인저: 90개의 샘플 |
반사 및 전송 형상에서의 작동 |
D8 고니오미터 |
독립 스테퍼 모터와 광학 인코더가 있는 2원 고니오미터 |
브루커의 차별화된 얼라인먼트 보증으로 탁월한 정확성과 정밀도 장 수명 윤활유를 사용하여 자유 구동 메커니즘/기어를 절대적으로 유지 |
Non-Ambient |
온도: ~85K에서 ~2500K까지 압력: 10-⁴ mbar, 최대 10 bar 습도: 5% ~ 95% RH |
상온 및 비-상온 조건에 따른 조사 DIFFRAC.DAVINCI와 쉽게 스테이지를 교환할 수 있습니다. |
XRD 구성품
Bruker XRD 솔루션은 분석 요구 사항을 충족하도록 구성된 고성능 구성품들로 구성됩니다. 모듈식 설계는 최고의 회절분석기를 구성하는 핵심입니다.
모든 구성품은 Bruker AXS가 개발 및 제조하거나, 제3의 공급업체와 긴밀히 협력하여 개발된 Bruker의 핵심 기술입니다.
Bruker XRD 구성품들은 이미 설치되어 있는 X선 시스템의 성능을 개선하기 위한 업그레이드에 사용할 수 있습니다.
DIFFRAC.SUITE을 사용한 PLAN.MEASURE.ANALYZE
DIFFRAC.SUITE™는 손쉬운 X선 분말 회절 데이터 수집 및 평가를 위한 광범위한 소프트웨어 모듈을 제공합니다. Microsoft의 .NET 기술을 기반으로 하는 DIFFRAC.SUITE는 최신 소프트웨어 기술의 모든 장점을 제공하여 안정성, 최대 사용 용이성 및 네트워킹을 제공합니다.
완전히 사용자 정의 가능한 사용자 인터페이스는 플러그인 프레임워크가 특징이며 공통된 모양, 느낌 및 작동을 제공합니다. 모든 측정 및 평가 소프트웨어 모듈은 개별 애플리케이션으로 작동하거나 DIFFRAC.SUITE의 플러그인 프레임워크에 함께 통합될 수 있습니다. 무제한 네트워킹을 통해 고객 네트워크 내에서 원하는 수의 D2 PHASER, D8 ADVANCE, D8 DISCOVER 및 D8 ENDEAVOR 분석기기에 접근하고 제어할 수 있습니다.
측정 소프트웨어:
WIZARD – 분석법 계획
COMMANDER – 분석법 실행 및 직접 측정
TOOLS – 서비스 인터페이스
분말 회절 소프트웨어:
DQUANT – 정량적 상 분석
EVA – 상 식별 및 정량적 상 분석
TOPAS – 프로필 분석, 정량 분석, 구조 분석
재료 연구 소프트웨어:
SAXS – 소각 X선 산란 소프트웨어
XRR – 포괄적인 X선 반사계 분석
TEXTURE – 모든 텍스쳐 분석의 손쉬운 사용
LEPTOS – 박막 분석/잔류 응력 검사
Webinars
서비스 & 서포트
- 온라인상으로 최상의 원격서비스 도구를 이용해 하드웨어, 소프트웨어, 어플리케이션 관련 기술 서포트를 제공하는 헬프데스크
- LabScape 유지보수서비스계약
- 현장, 요청 서포트
- 설치,구동 및 성능 검증
- 부지 계획, 이전설치 및 상담
- 교체 및 예비 부품, 소모품, 그리고 오프라인 및 온라인 교육
- 소프트웨어 업데이트, 메뉴얼, LabScape MSA 관리 (brukersupport.com)