D8 ADVANCE
D8 ADVANCE：XRD、PDF和SAXS分析的解决方案
D8 ADVANCE—面向未来的X射线衍射解决方案
基于独一无二的D8衍射仪系列平台的D8 ADVANCE，是所有X射线粉末衍射和散射应用的理想之选，如：
- 典型的X射线粉末衍射（XRD）
- 对分布函数（PDF）分析
- 小角X射线散射（SAXS）和广角X射线散射（WAXS）
由于具有出色的适应能力，仅使用D8 ADVANCE，您就可对所有类型的样品进行测量：从液体到粉末、从薄膜到固体块状物。
无论是新手用户还是专家用户，都可简单快捷、不出错地对配置进行更改。这都是通过布鲁克独特的DAVINCI设计实现的：配置仪器时，免工具、免准直，同时还受到自动化的实时组件识别与验证的支持。
不仅如此——布鲁克独家提供基于NIST标样刚玉（SRM1976）的准直保证。目前，在峰位、强度和分辨率方面，市面上尚无其他粉末衍射仪的精度超过D8 ADVANCE。
市场概况
金属行业
建筑材料
药物行业
化工制品/颜料
储能/电池
主要功能
TWIN / TWIN 光路
布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作，使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用，该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预，即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换，且无需人工干预，是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。
动态光束优化（DBO）
布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能，可为您提供无与伦比的数据质量——尤其是在低2Ɵ角度时。除此之外，LYNXEYE全系列探测器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。
LYNXEYE XE-T
LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上唯一一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器，适用于所有波长（从Cr到Ag），具有最高的计数率和最佳的角分辨率，是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。
LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率，着实出色，是市面上性能最佳的荧光过滤器探测器系统。借助它，您可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100％过滤，而且无需金属滤波片，因此数据也不会存在伪影，如残余Kß和吸收边。同样，也无需用到会消除强度的二级单色器。
布鲁克提供独有的LYNXEYE XE-T探测器保证：交货时保证无坏道！
特点一览
DAVINCI设计
动态光束优化（DBO）
LYNXEYE XE-T
TRIO光路与TWIN光路
EIGER2 R 探测器
为您打造合规实验室的解决方案
仪器质量与数据质量
一台衍射仪—所有应用
粉末衍射
X射线粉末衍射（XRPD）技术是最重要的材料表征工具之一。粉末衍射图中的许多信息，直接源于物相的原子排列。在D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE软件的支持下，您将能简单地实施常见的XRPD方法：
- 鉴别晶相和非晶相，并测定样品纯度
- 对多相混合物的晶相和非晶相进行定量分析
- 微观结构分析（微晶尺寸、微应变、无序…）
- 热处理或加工制造组件产生的大量残余应力
- 织构（择优取向）分析
- 指标化、从头晶体结构测定和晶体结构精修
对分布函数分析
对分布函数（PDF）分析是一种分析技术，它基于Bragg以及漫散射（“总散射”），提供无序材料的结构信息。其中，您可以通过Bragg衍射峰，了解材料的平均晶体结构的信息（即长程有序），通过漫散射，表征其局部结构（即短程有序）。
就分析速度、数据质量以及对非晶、弱晶型、纳米晶或纳米结构材料的分析结果而言，D8 ADVANCE和TOPAS软件代表了市面上性能最佳的PDF分析解决方案：
- 相鉴定
- 结构测定和精修
- 纳米粒度和形状
薄膜和涂层
薄膜和涂层分析采用的原理与XRPD相同，不过进一步提供了光束调节和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鉴定、晶体质量、残余应力、织构分析、厚度测定以及组分与应变分析。在对薄膜和涂层进行分析时，着重对厚度在nm和µm之间的层状材料进行特性分析（从非晶和多晶涂层到外延生长薄膜）。D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE软件可进行以下高质量的薄膜分析：
- 掠入射衍射
- X射线反射法
- 高分辨率X射线衍射
- 倒易空间扫描
应用范围
相鉴定
定量相分析
织构分析
X射线反射法（XRR）
小角X射线散射（SAXS）
D8 ADVANCE 规格
功能 |
规格 |
优势 |
TRIO 光路和TWIN光路 |
软件按钮切换： 马达驱动发散狭缝（BB几何） 高强度Ka1,2平行光束 高分辨率Ka1平行光束 专利：US10429326、US6665372、US7983389 |
可在多达6种不同的光束几何之间进行全自动化电动切换，无需人工干预 是所有类型的样品分析的理想之选，包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延） |
动态光束优化 |
动态同步： 马达驱动发散狭缝 马达驱动防散射屏 可变探测器窗口 2Ɵ角度范围：小于1度至>大于150度 |
数据几乎不受空气、仪器和样品架散射的影响 大大提高了检测下限，可定量分析少量晶相和非晶相 在较小的2θ角度，具有无与伦比的性能，可对粘土、药物、沸石、多孔材料及其他材料进行精确研究 |
LYNXEYE XE-T |
能量分辨率：<380 eV @ 8 KeV 检测模式：0D、1D、2D 波长：Cr、Co、Cu、Mo和Ag 专利：EP1647840、EP1510811、US20200033275 |
无需Kß滤波片和二级单色器 铜辐射即可100％过滤铁荧光 速度比传统探测器系统快450倍 BRAGG 2D模式：使用发散的初级线束收集2D数据 独一无二的探测器保证：交货时绝无坏道 |
EIGER2 R |
Dectris 公司开发的基于混合光子计数技术的新一代探测器，支持多种模式（0D / 1D / 2D） |
在步进扫描、连续扫描和高级扫描模式中无缝集成0D、1D和2D检测 符合人体工程学的免对准探测器旋转功能，可优化γ或2Ɵ角度范围 使用完整的探测器视野、免工具全景衍射光束光学系统 连续可变的探测器位置，以平衡角度范围和分辨率 |
旋转光管 |
在线焦斑和点焦斑应用之间轻松快捷地进行免对准切换 |
无需断开电缆或水管，无需拆卸管道 DAVINCI设计：全自动检测和配置聚焦方向 |
自动进样器 |
FLIPSTICK：9个样品 AUTOCHANGER：90个样品 |
在反射和透射几何中运行 |
D8 测角仪 |
带独立步进电机和光学编码器的双圆测角仪 |
布鲁克独有的准直保证，确保了无与伦比的准确性和精确度 绝对免维护的驱动机构/齿轮装置，终身润滑 |
非环境条件 |
温度：从~85K到~2500K 压力：10-⁴mbar至100 bar 湿度：5％至95％ |
在环境和非环境条件下进行研究 DIFFRAC设计助您轻松更换样品台 |
使用DIFFRAC.SUITE进行规划、测量和分析
DIFFRAC.SUITE™带来了丰富的软件模块，让您轻松实现X射线粉末衍射数据的采集和评估。基于Microsoft的.NET技术，DIFFRAC.SUITE提供了现代软件技术的所有优点，以实现稳定性、最大的易用性和联网。
完全可定制的用户界面的特点是插件框架，提供了通用的外观，感觉和操作。所有测量和评估软件模块都可以作为单独的应用程序运行，也可以集成到DIFFRAC.SUITE的插件框架中。无限制的联网允许访问和控制客户网络内任意数量的D2 PHASER，D8 ADVANCE，D8 DISCOVER和D8 ENDEAVOR衍射仪。
测量软件：
WIZARD–方法规划
COMMANDER–方法执行和直接测量
TOOLS–仪器控制的工具入口：
粉末衍射软件：
DQUANT –定量相分析
EVA –相鉴定和定量相分析
TOPAS –峰型分析、定量分析、结构分析
材料研究软件：
SAXS –小角度X射线散射软件
XRR –全面的X射线反射分析
TEXTURE–全面的织构分析满足易用性
LEPTOS –薄膜分析/残余应力研究