LYNXEYE系列探测器是全球性能最高的复合硅阵列探测器,适用于在0D、1D和2D模式下执行各种X射线衍射和散射应用。三个探测器,即SSD160-2、LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T,均可在Cr-Ag普通波长下工作,无需维护,可兼容布鲁克全系列D2和D8衍射仪。LYNXEYE系列探测器不仅符合严格的技术规范,而且拥有最佳制造质量以及最高系统和软件集成度。其结果是出色的通用性、可靠性和数据质量。
第二代LYNXEYE探测器进一步提升了本已非常出色的性能:SSD160-2和LYNXEYE-2的能量分辨率提高了30%,能够比市面上的任何典型硅基探测器都更为有效地过滤荧光。就最终的数据质量而言,LYNXEYE XE-T可提供卓越的数据质量,其能量分辨率可与二级单色器相媲美,但却没有通量损失。
配备LYNXEYE探测器的衍射仪具有诸多益处,包括高速数据采集、卓越的角分辨率和杰出的峰背比。
LYNXEYE XE-T的能量分辨率超过380 eV,是市面上荧光滤除性能最高的探测器系统,同时也是唯一适用于0D、1D和2D数据采集的能量色散探测器。
得益于优异的能量分辨率,它可对荧光信号和Kβ辐射进行前所未有的滤除,提供具有杰出信噪比和优化LLD/LOD的数据。实现所有这一切,既不需要二级光路光学元件,如单色器或金属滤光片,也不会产生通量损失。
譬如,LYNXEYE XE-T可100%滤除Cu辐射激发的Fe荧光,并将Kβ辐射降至<0.1%(CuKα)。所得到的数据不含有害的散射和伪影,如金属滤光片的吸收边。这对于可靠的物相鉴定和定量分析至关重要,特别是关系到常常在本底噪声中变得模糊的微量相时。
粉末X射线衍射实验中经常遇到的一个挑战是,确保样品由尺寸适当的随机取向微晶组成。2DX射线衍射是一种便捷方法,可将偏离这种理想粉末状态的情况可视化。此外,有益的做法还包括通过关联线形来增强物相鉴定过程,以及提高定量分析可靠性。
LYNXEYE系列的所有探测器都支持两种采集2D数据的方法:
在配备布鲁克专利0/90°底座的D8 ADVANCE和D8 DISCOVER衍射仪上,使用常规2θ扫描在90°取向采集2D数据。利用所有衍射仪都具备的BRAGG2D,可在准聚焦光束衍射几何中测量数据,并使用一种新的2D数据处理算法进行处理。这样一来,就可以用全X射线束照亮很大样品面积,从而快速评估样品制备。
归功于其高动态范围、高计数率和快速读出时间,LYNXEYE探测器系列是所有应用的最佳选择,包括材料研究。
倒易空间图(RSM)对于外延多层膜结构表征和薄膜性质评估(如应力、成分和域效应)非常重要。
使用LYNXEYE系列的所有探测器均可提供的rapidRSM™技术,收集的RSM是一系列1D快照扫描,基本没有死区时间。这将所需扫描时间大幅缩短至几分钟甚至几秒钟,提高了样品吞吐量。
对于X射线反射法(XRR)和高分辨率XRD(HRXRD)测量,信号强度在测量范围内的变化达到几个数量级。因此,高动态范围是探测器的关键参数。通过切换到LYNXEYE系列的任何探测器的90°取向,动态范围可提高近乎200倍,不再需要吸收器,从而加快测量速度,改善数据质量。
规格 |
优势 |
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SSD160-2 |
通道数量:160(最多2400子通道) 能量分辨率:< 1000 eV FWHM (<426 eV Sigma) 8keV 有效窗口:12 x 16 mm²;2.5°覆盖,半径250 mm 缺陷通道数量:最大值1(<1%) 最高全局计数率:125,000,000 cps |
最多比常规探测器系统快125倍 卓越的荧光滤除 大动态范围,如用于0D应用 |
LYNXEYE-2 |
LYNXEYE-2 通道数量:192(最多2880子通道) 能量分辨率:< 1000 eV FWHM (<426 eV Sigma) 8keV 有效窗口:14.4 x 16 mm²;3°覆盖,半径250 mm 缺陷通道数量:0 最高全局计数率:150,000,000 cps |
比最多比常规探测器系统快150倍 卓越的荧光滤除 大动态范围,如用于0D应用 保证交付时所有硅通道都可正常工作 |
LYNXEYE XE-T |
通道数量:192(最多2880子通道) 能量分辨率:< 380 eV FWHM (<160 eV Sigma) 8keV 有效窗口:14.4 x 16 mm²;3°覆盖,半径250 mm 缺陷通道数量:0 最高全局计数率:150,000,000 cps |
高通量模式下,最多比常规探测器系统快150x;高能量分辨率模式下快450x 大动态范围,如用于0D应用 保证交付时所有硅通道都可正常工作 无需Kß滤光片和二级单色器 100%滤除Fe荧光和Cu辐射 |
空间分辨率 |
75 μm |
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本底噪声 |
< 0.05 cps,整个探测器 |
卓越的信噪比数据 |
波长 |
Cr、Co、Cu、Mo和Ag |
一个探测器支持所有波长 |
传感器厚度 |
500 μm |
> 99% Cr、Co、Cu;50% Mo;30% Ag传感器效率 |
扫描模式 |
0D:扫描0D模式 1D:扫描或固定模式、rapidRSM™和rapidNon-Ambient 2D:扫描2D模式和BRAGG2D |
极大动态范围,90°旋转取向 快速1D测量 BRAGG2D:使用发散性初级光束采集2D数据 |
工作介质 |
无 |
无需维护,无额外的耗材成本 |
应用 |
XRR、HRXRD;物相鉴定、定量分析、结构精修、残余应力、织构 |