D8 ADVANCE Plus
D8 ADVANCE Plus: 다목적 재료 연구
D8 ADVANCE Plus - 최대의 유연성은 탁월한 사용 편의성을 충족합니다.
D8 ADVANCE Plus는 다목적의 여러 연구자들이 사용하는 실험실을 위한 궁극의 X선 플랫폼을 나타내는 D8 ADVANCE 최신형 모델입니다. 이 시스템은 분말, 벌크 재료, 섬유, 시트 및 박막 (무정형, 다결정 및 에피택셜)을 포함한 모든 샘플 유형의 요구와 완벽하게 일치합니다.
- 전통적인 X선 분말 회절(XRD)
- 쌍 분배 함수(PDF) 분석
- 소각 X 선 산란 (SAXS, WAXS)
- 상온 및 비상온 조건에서의 XRR(반사측정) 및 HRXRD(흔들리는 곡선, 상호 공간 매핑)
이 시스템의 진정한 장점은 분말을 위한 Bragg-Brentano 빔을 사용하는 것에서 부터 에피택셜 박막과 그 사이의 모든 것을 위한 고분해능 병렬 빔 Kα1 형상에 이르기까지 최대 6개의 빔 경로를 전환할 수 있는 능력입니다. 소프트웨어에서 버튼 하나로 완전하게 응용분야가 변화됩니다.
샘플 유형과 응용 프로그램이 무엇이든, 초보자든 전문가이든 상관없이 D8 ADVANCE Plus는 탁월한 유연성과 사용하기 쉬운 덕분에 데이터 품질의 새로운 기준을 제시합니다.
마켓 갤러리
에너지 저장/배터리
주요 기능
TRIO 옵틱
특허받은 TRIO 옵틱은 D8 ADVANCE의 사용을 단순화하여 가장 다양한 응용 분야와 샘플 유형을 제공합니다. 사용자 편의성을 염두에 두고 이 시스템은 최대 6개의 서로 다른 빔 경로 간에 자동 전동 스위칭을 제공합니다. 물리적 사용자 개입없이 시스템은 세 개의 빔 패스 사이를 전환할 수 있습니다.
- 파우더를 위한 Bragg-Brentano 모드
- 모세관, GID 및 XRR용 고강도 병렬 빔 Kα1,2
- 에피택셜 박막용 고해상도 병렬 빔 Kα1 형상
상온 또는 non- ambient 조건에서 분말, 벌크, 섬유, 시트 및 박막 (무정형, 다형성 및 상압)을 포함한 모든 샘플 유형에 완벽하게 부합합니다.
재료 연구 단계
컴팩트한 UMC 및 컴팩트 크래들 플러스는 D8 ADVANCE Plus의 샘플 처리 기능을 확장하여 샘플의 복잡한 정밀 한 움직임을 허용합니다. Comact UMC 단계는 X25mm, Y70mm, Z의 52mm의 동력 모션을 특징으로 하며, 2kg 의 샘플 용량은 대형 벌크 샘플 또는 여러 개의 작은 샘플을 분석합니다. 컴팩트 크래들 플러스는 스트레스, 질감 및 에피택셜 박막 분석을 위해 무제한 Phi 회전과 -5°에서 95°로 Psi 기울기를 포함합니다. 또한, 컴팩트 크래들 플러스는 작은 박막 샘플 홀더 또는 대형 수동 XY 테이블과 함께 샘플을 제자리에 보관할 수 있도록 진공 유틸리티 피드스루를 갖추고 있습니다. 두 단계 모두 비주변 분석을 위해 돔 온도 단계를 수용합니다. 또한 DIFFRAC.DAVINCI 스테이지 베이어 넷 장착 시스템을 사용하여 샘플 스테이지를 쉽게 교체 할 수 있습니다.
EIGER2 R 검출기
다중 모드 기능(0D-1D-2D, 스냅샷 및 스캐닝 모드)을 통해 EIGER2 R는 분말에서 재료 연구 응용 분야에 이르는 광범위한 측정 방법을 포괄할 수 있습니다. 모든 거래의 전형적인 잭이 아닌 EIGER2는 모든 응용 프로그램의 마스터입니다. 흡수제 무료 측정을 허용하는 다이나믹 레인지, 초고속 분말 측정을 위한 대형 1D 크기, 빠른 상호 공간 맵, 500k 이상의 픽셀이 대형 2차원 커버리지를 제공하는 EIGER2는 멀티 모드 검출기에 대한 새로운 표준을 설정합니다. EIGER2는 DECTRIS Ltd.의 빔라인 검출기 기술과 BRUKER의 소프트웨어 및 하드웨어 통합을 원활하게 사용하기 쉬운 솔루션으로 결합합니다.
응용 프로그램 갤러리
DAVINCI.DESIGN
LYNXEYE XE-T
TRIO 옵틱
EIGER2 R 검출기
회절분석기 - 모든 응용 프로그램
분말 회절
X선 분말 회절(XRPD) 기술은 재료 특성화를 위한 가장 중요한 도구 중 하나입니다. 분말 패턴에 내장된 대부분의 정보는 존재하는 단계의 원자 적 배열로부터 직접 파생된다. D8 ADVANCE 및 DIFFRAC.SUITE 소프트웨어를 사용하면 일반적인 XRPD 방법을 간단하게 실행할 수 있습니다.
- 결정 및 비정질 상 식별 및 시편 순도 결정
- 다상 혼합물의 결정상 및 비정질상 모두의 정량적 분석
- 미세 구조 분석 (결정성 크기, 미세 변형, 장애 ...)
- 제조된 부품의 열 처리 또는 가공으로 인한 대량 잔류 응력
- 텍스처(기본 방향) 분석
- 인덱싱, ab-initio 결정 및 결정 구조 정제
잔류 응력 및 텍스처 분석
잔류 응력 및 텍스처 측정은 재료가 한계까지 밀려나는 산업용 금속 샘플에서 일상적으로 수집됩니다. 인장 응력 완화 또는 샘플 표면의 압축 응력 유도를 통해 기능수명을 크게 연장할 수 있습니다. 이는 열처리 또는 쇼트 피닝과 같은 물리적 프로세스를 통해 수행할 수 있습니다. 벌크 샘플을 구성하는 결정의 방향은 균열이 전파되는 방식을 결정합니다. 재료에 특정 텍스처를 형성함으로써 그 특성을 크게 늘릴 수 있습니다. 이 두 가지 기술은 적정 제조와 같은 최첨단 제조 방법을 최적화하는 데도 중요합니다.
박막 및 코팅
박막과 코팅의 분석은 XRPD의 동일한 원리를 기반으로 하지만, 추가 빔 조건 및 각도 제어. 일반적인 예로는 상 식별, 결정 품질, 잔류 응력, 텍스처 분석, 두께 측정 및 조성 대 스트레인 해석에 국한되지 않습니다. 박막과 코팅의 분석은 비정질 및 다결정 코팅에서부터 상체 재배 필름에 이르기까지 nm에서 μm 두께에 이르는 박막 재료의 특성에 초점을 맞추고 있습니다. D8 ADVANCE ECO와 DIFFRAC.SUITE 소프트웨어는 다음을 포함하여 박막의 고품질 분석을 가능하게 합니다.
- 스침 각 회절
- X선 반사경
- 고분해능 X선 회절
- 역격자 공간 매핑
(U)SAXS, (U)WAXS, GISAXS
광각, 소각, 초소각에서 획득한 X선 산란 데이터를 분석하여 나노 크기의 구조, 형상, 분포를 측정할 수 있습니다. 나노 입자 시스템, 콜로이드, 계면활성제, 단백질 용액, 폴리머, 액정, 나노 복합체 및 다공성 물질의 특성 분석에 응용할 수 있습니다.
소각 X선 산란(SAXS)은 0.1~5° 2θ 사이에서 수집된 데이터를 활용하여 최대 약 80nm 단위의 구조적 특징에 대한 정보를 제공하며, 구조의 주기적 배열에 대한 정보를 제공하는 광각 X선 산란(WAXS)으로 보완됩니다. 최대 미크론 범위의 더 큰 구조를 조사하기 위해 TRIO 광학 및 USAXS 모듈이 제공하는 고해상도 빔 경로에 초소형 각도 X선 산란(USAXS) 기능이 D8 ADVANCE에 추가됩니다.
박막의 나노 규모 구조를 연구하기 위해 GIWAXS 스테이지에는 나이프 에지 콜리메이터와 빔 스톱이 내장되어 있어 탁월한 배경 억제가 가능하며, 이는 GISAXS 및 GIWAXS 애플리케이션에 일반적으로 사용되는 약한 신호를 관찰하는 데 매우 중요합니다. 스테이지 설계를 통해 샘플과 검출기 간 거리를 최소화하여 각도 범위를 최대화할 수 있습니다. 또는 GISAXS 측정을 위해 EIGER2 R을 시료에서 멀리 배치하여 해상도를 높일 수 있습니다.
응용 프로그램 갤러리
상 식별
Non-Abmient XRD
소각 X선 산란(SAXS)
D8 ADVANCE Plus 사양
기능 |
사양 |
혜택 |
TRIO 옵틱 |
소프트웨어 푸시 버튼 스위치 사이: 전동 발산 슬릿 (Bragg-Brentano) 고강도 Ka1,2 병렬 빔 고해상도 Ka1 병렬 빔 특허: US10429326, US665372, US7983389 |
수동 사용자 개입 없이 최대 6개의 서로 다른 빔 형상 간에 완전 자동 전동 전환 분말, 벌크 재료, 섬유, 시트 및 박막 (무정형, 다형성 및 상종)을 포함한 모든 샘플 유형에 완벽하게 적합합니다. |
LYNXEYE XE-T |
에너지 분해능: < 380 eV @ 8 KeV 감지 모드: 0D,1D, 2D 파장: Cr, Co, Cu, Mo 및 Ag 특허: EP1647840, EP1510811, US20200033275 |
Kß 필터 및 보조 모노크로메이터 필요 없음 Cu 방사선으로 야기되는 Fe-형광향의 100% 여과 기존 검출기 시스템보다 최대 450배 빠릅니다. BRAGG2D: 서로 다른 기본 선 빔으로 2D 데이터 수집 차별화된 검출기 보증: 데이터 산출에 결함이 있는 채널 없음 |
EIGER2 R |
Dectris Ltd가 개발한 하이브리드 광자 카운팅 기술을 기반으로 한 최신 세대 멀티 모드(0D/1D/2D) 검출기. |
0D, 1D 및 2D 감지단계, 연속 및 고급 스캐닝 모드의 원활한 통합 인체 공학적, 정렬없는 검출기 회전을 최적화하기 위한 γ 또는 2Θ 각 커버리지 전체 검출기 시야를 이용한 파노라마, 공구 없는 디저저저저드 빔 광학 각도 커버리지와 해상도의 균형을 맞추기 위해 지속적으로 가변 검출기 위치 지정 |
| TWIST.TUBE | 선과 점 포커스 응용 프로그램 간의 간편하고 빠르며 정렬없는 스위치 |
전기 케이블이나 물 호스의 분리 또는 튜브의 장착 해제 DAVINCI.DESIGN: 초점 방향의 완전 자동 감지 및 구성 |
컴팩트한 UMC 스테이지 |
전동 X: 25mm 전동 Y: 70mm 전동 Z: 52mm 용량: 2kg |
빔에 큰 샘플의 관심 영역의 정확한 위치 자동 측정을 위한 여러 샘플 장착 |
컴팩트 크래들 플러스 |
전동 Phi: 무제한 전동 Psi: -5° ~ 95° |
걱정 없는 시료 마운팅을 위한 진공 유틸리티 공급 전체 4축 회절을 통해 텍스처, 잔류 응력 및 박막 측정가능 |
D8 고니오미터 |
독립 스테퍼 모터와 광학 인코더가 있는 2원 고니오미터 |
브루커의 차별환된 얼라인먼트 보증으로 탁월한 정확성과 정밀도 수명 윤활이 있는 절대유지보수 프리 드라이브 메커니즘/기어링 |
비상온 |
온도: ~85K에서 ~2500K까지 압력: 10-⁴ mbar up to 10 bar 습도: 5% ~ 95% RH |
상온 및 비상온 조건에 따른 조사 DIFFRAC.DAVINCI와 쉽게 스테이지를 교환할 수 있습니다. |
XRD 구성품
Bruker XRD 솔루션은 분석 요구 사항을 충족하도록 구성된 고성능 구성품들로 구성됩니다. 모듈식 설계는 최고의 회절분석기를 구성하는 핵심입니다.
모든 구성품은 Bruker AXS가 개발 및 제조하거나, 제3의 공급업체와 긴밀히 협력하여 개발된 Bruker의 핵심 기술입니다.
Bruker XRD 구성품들은 이미 설치되어 있는 X선 시스템의 성능을 개선하기 위한 업그레이드에 사용할 수 있습니다.
DIFFRAC.SUITE을 사용한 PLAN.MEASURE.ANALYZE
DIFFRAC.SUITE™는 손쉬운 X선 분말 회절 데이터 수집 및 평가를 위한 광범위한 소프트웨어 모듈을 제공합니다. Microsoft의 .NET 기술을 기반으로 하는 DIFFRAC.SUITE는 최신 소프트웨어 기술의 모든 장점을 제공하여 안정성, 최대 사용 용이성 및 네트워킹을 제공합니다.
완전히 사용자 정의 가능한 사용자 인터페이스는 플러그인 프레임워크가 특징이며 공통된 모양, 느낌 및 작동을 제공합니다. 모든 측정 및 평가 소프트웨어 모듈은 개별 애플리케이션으로 작동하거나 DIFFRAC.SUITE의 플러그인 프레임워크에 함께 통합될 수 있습니다. 무제한 네트워킹을 통해 고객 네트워크 내에서 원하는 수의 D2 PHASER, D8 ADVANCE, D8 DISCOVER 및 D8 ENDEAVOR 분석기기에 접근하고 제어할 수 있습니다.
측정 소프트웨어:
WIZARD – 분석법 계획
COMMANDER – 분석법 실행 및 직접 측정
TOOLS – 서비스 인터페이스
분말 회절 소프트웨어:
DQUANT – 정량적 상 분석
EVA – 상 식별 및 정량적 상 분석
TOPAS – 프로필 분석, 정량 분석, 구조 분석
재료 연구 소프트웨어:
SAXS – 소각 X선 산란 소프트웨어
XRR – 포괄적인 X선 반사계 분석
TEXTURE – 모든 텍스쳐 분석의 손쉬운 사용
LEPTOS – 박막 분석/잔류 응력 검사
Webinars
D8 ADVANCE Plus 관련자료
서비스 & 서포트
- 온라인상으로 최상의 원격서비스 도구를 이용해 하드웨어, 소프트웨어, 어플리케이션 관련 기술 서포트를 제공하는 헬프데스크
- LabScape 유지보수서비스계약
- 현장, 요청 서포트
- 설치,구동 및 성능 검증
- 부지 계획, 이전설치 및 상담
- 교체 및 예비 부품, 소모품, 그리고 오프라인 및 온라인 교육
- 소프트웨어 업데이트, 메뉴얼, LabScape MSA 관리 (brukersupport.com)