D8 ADVANCE Plus
D8 ADVANCE Plus：多目的材料研究
D8 ADVANCE Plus - 最大の柔軟性と比類のない使いやすさ
D8 ADVANCE Plusは、多目的に使用できるマルチユーザーラボ向けの究極のX線プラットフォームです。このシステムは、粉末、バルク材、ファイバー、シート、薄膜（アモルファス、多結晶、エピタキシャル）など、あらゆる種類のサンプルのニーズに完全にマッチします。
- 従来のX線粉末回折(XRD)
- 二体分布関数(PDF)解析
- 小角X線散乱・広角X線回折(SAXS、WAXS)
- XRR (X線反射率測定) および 高分解能X線回折（HRXRD ）、ロッキングカーブ、逆格子マッピング
- 雰囲気制御下もしくは大気雰囲気下
このシステムの真の魅力は、粉体用のBragg-Brentano集中法光学系から、エピタキシャル薄膜用のKα1高分解能平行ビーム光学系まで、最大6種類の光学系の組合せを、ソフトウェア上の操作だけで切り替えることができることです。
試料の種類やアプリケーションに関わらず、初心者でもエキスパートでも幅広いアプリケーションにも対応できます。D8 ADVANCE Plusは、その比類なき柔軟性と使いやすさにより、データ品質に新たな基準を打ち立てます。
マーケットギャラリー
金属材料・機械部品
薄膜分析
製薬
エネルギー貯蔵・バッテリー
主な機能
TRIO光学系
特許取得済みのTRIO光学系は、D8 ADVANCEの使用をシンプルにし、最も多様なアプリケーションとサンプルタイプを可能にします。ユーザーの利便性を考慮し、最大6種類の光学系を自動で切り替えます。ユーザーが手動で調整することなく、システムは3つのビームパスを切り替えることができます。
- 粉体サンプル用Bragg-Brentano集中法光学系
- XRR、GID、キャピラリー測定用高強度Kα1,2平行ビーム光学系
- エピタキシャル薄膜などの高分解能XRD用Kα1平行ビーム光学系
粉末、バルク、繊維、シート、薄膜（アモルファス、多結晶、エピタキシャル）を含むすべてのサンプルタイプの雰囲気制御下ないし大気雰囲気下での測定に最適です。
材料研究ステージ
コンパクトUMCステージおよびコンパクトCradle Plusステージは、D8 ADVANCE Plusのサンプルハンドリング機能を拡張し、複雑で精密なサンプルの移動を可能にしました。コンパクトUMCステージは、X方向に25mm、Y方向に70mm、Z方向に52mmの電動モーションを搭載しており、2kgのサンプル容量を持ち、大きなバルクサンプルや複数の小さなサンプルの分析に適しています。コンパクトCradle Plusステージは、応力、集合組織、エピタキシャル薄膜分析のために、無制限の Phi 回転と Psi チルト（-5°～95°）を備えています。さらに、真空ユーティリティフィードスルーを備えており、小型の薄膜サンプルホルダーまたは大型の手動式XYテーブルのいずれかでサンプルを所定の位置に保持することができます。どちらのステージも、雰囲気制御下での測定のためのドーム型高温ステージに対応しています。また、
DIFFRAC.DAVINCIステージ バヨネットマウントシステムを利用して、サンプルステージを簡単に交換することができます。
EIGER2 R 検出器
マルチモード機能（0次元、1次元、2次元、スナップショット、スキャニングモード）により、EIGER2 R は粉末から材料研究アプリケーションまで幅広い測定が可能です。
典型的な万能型で浅く広くカバーするわけでなく、EIGER2はすべてのアプリケーションの測定を可能にしています。
吸収板なしの測定を可能にするダイナミックレンジ、高速な粉末測定および逆格子マッピングを可能にする1次元方向の広い見込み幅、広い2次元範囲のを一括で測定できる50万素子以上のピクセルを備えたEIGER2は、マルチモード検出器の標準を刷新するものとなります。EIGER2は、DECTRIS社の放射光ビームライン向け検出器技術とブルカーのソフトウェアおよびハードウェアの統合により、シームレスで使いやすいソリューションを実現しています。
機能ギャラリー
DAVINCI.DESIGN
Dynamic Beam Optimization™
LYNXEYE XE-T
TWIN/TRIO光学系
EIGER 2 R
コンプライアントラボ向けソリューション
1つの回折計ですべてのアプリケーションに対応
粉末回折
X線粉末回折（XRPD）技術は、材料の特性を評価するための最も重要なツールの一つです。粉末の回折パターンに含まれる情報の多くは、結晶相の原子配列を反映しています。D8 ADVANCEとDIFFRAC.SUITEソフトウェアは、一般的なXRPD法を簡単に実行できるようにサポートしています。
- 結晶性と非晶質の両方の相の同定と試料の純度の決定
- 混合物中の結晶相と非晶質相の定量分析
- 微細構造解析（結晶粒径、微小ひずみ、乱れ...
- 熱処理や機械加工に起因する工業製品のバルク残留応力
- 結晶配向解析
- 指数付け、ab-initio結晶構造決定、結晶構造精密化
残留応力と結晶配向解析
残留応力と結晶配向解析は、材料が限界までプレスされる工業用金属サンプルで日常的に測定されています。サンプルの表面の引張応力を緩和したり、圧縮応力を印加することで、製品寿命を大幅に延ばすことができます。これは、熱処理やショットピーニングなどの物理的プロセスによって行うことができます。バルクサンプルを構成する結晶粒の配向によって、クラックがどのように伝播するかが決まります。材料に特定の結晶配向を形成することで、その特性を飛躍的に向上させることができます。これらの技術はいずれも、高付加価値製造業などの最先端の加工方法を最適化するためにも重要です。
薄膜およびコーティング
薄膜とコーティングの分析は、XRPDと同じ原理に基づいていますが、さらにビームコンディショニングと角度制御を行います。代表的な例としては、相同定、結晶質、残留応力、テクスチャー分析、厚さの決定、組成対ひずみ分析などがありますが、これらに限定されるものではありません。薄膜やコーティングの分析は、アモルファスや多結晶コーティングからエピタキシャル薄膜に至るまで、nm～μmの膜厚を持つ層状材料の特性に焦点を当てています。D8 ADVANCEとDIFFRAC.SUITEソフトウェアは、以下のような薄膜の高品質な解析を可能にします。
- すれすれ入射X線回折
- X線反射率測定
- 高分解能X線回折
- 逆格子空間マッピング
(U)SAXS、(U)WAXS、GISAXS
広角領域、小角領域、超小角領域で記録したX線散乱プロファイルの解析により、ナノスケールの構造、形状、分布を決定できます。ナノ粒子系、コロイド、界面活性剤、タンパク質溶液、ポリマー、液晶、ナノ複合材料、多孔質材料の特性評価などに応用できます。
小角X線散乱 (SAXS)は、2θ=0.1°～5°の範囲で記録されたデータを利用し、最大約80 nmまでの特徴的な構造に関する情報を得ることができます。加えて、構造の周期情報を得ることができる広角X線散乱 (WAXS)によって補完できます。マイクロメートル領域までの大きな構造を調査するために、TRIO光学系とUSAXSモジュールを組み合わせた高分解能ビームパスは、D8 ADVANCEに超小角X線散乱(USAXS)機能を追加します。
薄膜サンプルのナノスケール構造を評価するために、GIWAXSステージにはナイフエッジコリメーターとビームストップが組み合わされ、GISAXS測定やGIWAXS測定に見られる微弱な散乱強度の観察にかかせないすぐれたバックグラウンド低減を実現しています。ステージの設計により、サンプルから検出器までの距離を最小化し、記録角度領域を最大化することができます。また、GISAXS測定では、EIGER2 Rをサンプルから離して設置することで、小角分解能を向上させることができます。
アプリケーションギャラリー
結晶相定性: Phase ID
結晶相の定量評価
雰囲気制御 XRD
結晶配向解析
X線反射率測定 (XRR)
D8 ADVANCE Plus仕様
機能 |
仕様 |
利益 |
TRIO光学系 |
ソフトウェアPush-Button切り替え: 電動可変発散スリット (Bragg-Brentano集中法光学系) 高強度平行ミラー (Kα1,2平行ビーム光学系) Ge(004) 2結晶モノクロメーター (Kα1高分解能平行ビーム光学系) 特許: US10429326, US6665372, US7983389 |
電動制御により最大6通りの異なる光学を自動で切り替え可能 非晶質、結晶質、エピタキシャル薄膜にかかわらず、粉末サンプル、バルクサンプル、繊維サンプル、フィルムサンプル、薄膜サンプルなどのあらゆるサンプルに最適 |
LYNXEYE XE-T検出器 |
最高エネルギー分解能: < 380 eV @ 8 keV (25°C、半値幅) 検出モード: 0D, 1D, 2D 対応波長: Cr, Co, Cu, Mo, Ag 特許: EP1647840, EP1510811, US20200033275 |
Bragg-Brentano集中法光学系、POLYCAP光学系においてKβフィルターや受光側モノクロメーターは不要 Cu波長では鉄系サンプルからの蛍光X線を100%除去可能 従来の0次元検出器搭載システムと比較して、最大450倍高速測定を実現 Bragg-2D: 発散ラインビームを用いた2D回折パターン記録 検出器保証: 不感素子なし (納品時) |
EIGER 2 R |
最新のハイブリッドフォトンカウンティング (HPC)技術にもとづくマルチモード検出器 (0D / 1D / 2Dモード) |
0D, 1D, 2D検出モードを用いたスナップショット、ステップスキャン、連続スキャン、アドバンスドスキャンのシームレスな統合 2θまたはγ方向の記録領域を最大化する人間工学にもとづいた検出器搭載方向切り替え機構 パノラミック光学系は工具を用いることなく広い回折情報の記録を実現 自動検出機距離認識機構により、測定目的に応じて測定記録範囲と角度分解能のバランスを両立 |
TWIST-TUBE |
アライメントなしでライン焦点とポイント焦点の迅速な切り替え機構 |
電源コードやウォーターホース、チューブの取り外しなし DAVINCI.DESIGN：焦点方向の完全自動検出と設定 |
コンパクトUMCステージ |
電動X：25mm 電動Y：70mm 電動Z：52mm 容量：2kg |
大型サンプル内の関心任意の領域に対するのビーム内でのビームの正確な位置決め 複数のサンプルを取り付けて搭載して自動測定 |
コンパクトクレードルプラス |
電動Phi：無制限 電動圧力: -5°から95°まで |
真空ユーティリティーのフィードスルーで安心してサンプルを取り付け可能 フル4軸回折により、結晶配向、残留応力、薄膜の測定が可能 |
D8ゴニオメーター |
光学エンコーダー付ステッピングモーター制御2軸ゴニオメーター |
ブルカー独自のアライメント保証により、他に類を見ない精度と確度を実現 メンテナンスフリードライブ機構 |
雰囲気制御アタッチメント |
制御温度範囲: -188 ～ 2,300℃ 制御圧力範囲: 10-⁴ mbar ～ 10 bar (7.5×10-⁴ Torr ～ 7.5×10³ Torr) 制御湿度範囲: 5% ~ 95% (相対湿度) |
大気雰囲気および雰囲気制御下における分析 DIFFRAC.DAVINCIによるステージモニターと制御 |
XRDコンポーネント
Bruker XRDソリューションは、あらゆる分析ニーズをカバーするようにデザインされた高性能コンポーネントで構成されています。モジュール式デザインが最高の装置構成を自由に組み上げます。
すべての種類のコンポーネントは、Brukerが開発・製造を行っています。また、サードパーティ製品は緊密なコラボレーションの結果実現されています。結果、それらはBrukerのコアコンピタンスの一部を担います。
Bruker XRDコンポーネントは、分析性能を拡張するため、インストール済み装置へのアップグレードパスをご提供します。
PLAN.MEASURE.ANALYZE － DIFFRAC.SUITEソフトウェアパッケージ
DIFFRAC.SUITE™は、粉末X線回折などのデータ取得と評価を簡単に行うための幅広いソフトウェアモジュールを提供します。Microsoftの.NET技術をベースにしたDIFFRAC.SUITEは、安定性、使いやすさ、ネットワーク化など、最新のソフトウェア技術のメリットをすべて備えています。
カスタマイズ可能なユーザーインターフェースは、プラグインフレームワークデザインを採用し、共通のルック＆フィール、操作性を提供します。すべての測定・評価ソフトウェアモジュールは、個別のアプリケーションとして操作することも、DIFFRAC.SUITEのプラグインフレームワークに統合して使用することも可能です。無制限のネットワーキングにより、ネットワーク内にあるD2 PHASER、D8 ENDEAVOR、D8 ADVANCE、D8 DISCOVERのあらゆる回折計へ自由にアクセスして制御することができます。
測定ソフトウェア:
WIZARD – 測定条件検討と作成
COMMANDER – 装置制御とマニュアル測定
TOOLS – メンテナンスインターフェース
粉末回折ソフトウェア:
DQUANT – 各種定量分析
EVA – 結晶相定性と汎用粉末XRD解析
TOPAS – プロファイル分析・定量分析・構造解析
材料解析ソフトウェア:
SAXS – SAXS解析ソフトウェア
XRR – 包括的なXRR解析ソフトウェア
TEXTURE – 使いやすさを実現した極点図解析ソフトウェア
LEPTOS – 薄膜解析、残留応力解析
D8 ADVANCE Plusリソース
サービス＆サポート
- ヘルプデスク‐ハードウェア、ソフトウェア、アプリケーションの技術的な問題を、ウェブベースおよび高度なリモートサービスツールでサポート
- LabScape 保守サービス契約
- オンサイトおよびオンデマンド・サポート
- 設置および操作の適格性確認と性能検証
- 設置場所計画、移転、コンサルティング
- 交換部品、スペア部品、消耗品、対面およびオンライン・トレーニング
- ソフトウェアアップデート、マニュアル、LabScape MSA管理 (brukersupport.com)