D8 ADVANCE Plus
O D8 ADVANCE Plus: Pesquisa de materiais multiuso
D8 ADVANCE Plus - flexibilidade máxima atende a facilidade de uso incomparável
O D8 ADVANCE Plus é uma variante do D8 ADVANCE que representa a melhor plataforma de raios X para laboratórios multifuncionais e multiusuários. O sistema atende perfeitamente às necessidades de todos os tipos de amostras, incluindo pós, materiais a granel, fibras, folhas e filmes finos (amorfos, policristalinos e epitaxiais):
- difração de pó de raios X tradicional (XRD)
- Análise da função de distribuição de pares (PDF)
- Espalhamento de raios-X de pequeno e grande ângulo (SAXS, WAXS)
- XRR (reflectometria) e HRXRD (curvas de balanço, mapeamento de espaço recíproco) em condições ambientais e não ambientais.
A verdadeira beleza do sistema é sua capacidade de alternar entre até 6 geometrias de feixe diferentes, desde a geometria de foco Bragg-Brentano para pós até a geometria Kα1 de feixe paralelo de alta resolução para filmes finos epitaxiais e tudo mais. Totalmente controlado por software, com o apertar de um botão.
Qualquer que seja o tipo de amostra e aplicação, e não importa se você é um usuário iniciante ou experiente: O D8 ADVANCE Plus define um novo padrão de qualidade de dados graças à sua flexibilidade incomparável e facilidade de uso.
Galeria do Mercado
Metais
Metrologia de filme fino
Materiais de Construção
Produtos Farmacêuticos
Produtos Químicos/Pigmentos
Armazenamento/Baterias de Energia
Características Principais
Óptica TRIO
A óptica patenteada TRIO simplifica o uso do D8 ADVANCE, permitindo a maior variedade de aplicações e tipos de amostra. Com a conveniência do usuário em mente, o sistema apresenta comutação automática e motorizada entre até 6 geometrias de feixe diferentes. Sem intervenção manual do usuário, o sistema é capaz de alternar entre três caminhos de feixe:
- Focagem Bragg-Brentano para pós
- Feixe paralelo de alta intensidade Kα1,2 para capilar, GID e XRR
- Geometria Kα1 de feixe paralelo de alta resolução para filmes finos epitaxiais
É perfeitamente adequado para todos os tipos de amostras, incluindo pó, granel, fibra, folha e filme fino (amorfo, policristalino e epitaxial) sob condições ambientais ou não ambientais.
Estágios de Pesquisa de Materiais
O Compact UMC e o Compact Cradle Plus estendem a capacidade de manuseio de amostras do D8 ADVANCE Plus, permitindo movimentos complexos e precisos da amostra. A platina Comact UMC apresenta movimento motorizado de 25 mm em X, 70 mm em Y e 52 mm em Z com capacidade de amostra de 2 kg para análise de grandes amostras a granel ou várias amostras menores. O Compact Cradle Plus inclui rotação Phi ilimitada e inclinação Psi de -5° a 95° para análise de tensão, textura e filme fino epitaxial. Além disso, o Compact Cradle Plus possui uma passagem de utilitário a vácuo que permite que as amostras sejam mantidas no lugar com um suporte de amostra de filme fino pequeno ou uma mesa XY manual grande. Ambos os estágios acomodam estágios de temperatura de cúpula para análise não ambiente. Eles também utilizam o sistema de montagem baioneta da platina DIFFRAC.DAVINCI para facilitar a troca da platina de amostra.
Detectores EIGER2 R
A funcionalidade multimodo (0D-1D-2D, modos de instantâneo e varredura) permite que os detectores EIGER2 R cubram uma ampla gama de métodos de medição, desde aplicações de pesquisa de pó a materiais. Não é o típico pau para toda obra, o EIGER2 é o mestre de todas as aplicações. Com uma faixa dinâmica que permite medições sem absorvedor, tamanho 1D grande para medições de pó ultrarrápidas e mapas de espaço recíprocos rápidos e mais de 500k pixels para grande cobertura bidimensional, o EIGER2 define um novo padrão para detectores multimodo. O EIGER2 combina a tecnologia de detector de linha de luz da DECTRIS Ltd. com integração de software e hardware da BRUKER em uma solução perfeita e fácil de usar.
Galeria de Aplicação
Otimização de Feixe DinâmicoTM
Detector EIGER2 R
A solução para o seu laboratório compatível
Um Difratômetro - Todas as Aplicações
Difração de Pó
As técnicas de difração de raios X em pó (XRPD) estão entre as ferramentas mais importantes para a caracterização de materiais. Grande parte da informação embutida em um padrão de pó é derivada diretamente do arranjo atômico das fases presentes. O software D8 ADVANCE e DIFFRAC.SUITE permitem a execução simples de métodos XRPD comuns:
- Identificação de fases cristalinas e amorfas e determinação da pureza da amostra
- Análise quantitativa de fases cristalinas e amorfas em misturas multifásicas
- Análise de microestrutura (tamanho de cristalito, microdeformação, desordem…)
- Tensão residual em massa resultante de tratamento térmico ou usinagem em componentes fabricados
- Análise de textura (orientação preferencial)
- Indexação, determinação da estrutura cristalina ab-initio e refinamento da estrutura cristalina
Tensão Residual e Análise de Textura
A tensão residual e as medições de textura são coletadas rotineiramente em amostras de metal industrial onde os materiais são levados ao seu limite. Ao aliviar o estresse de tração ou induzir o estresse de compressão na superfície de uma amostra, sua vida funcional pode ser bastante estendida. Isso pode ser feito por meio de tratamentos térmicos ou processos físicos, como shot peening. A orientação dos cristalitos que compõem uma amostra em massa dita a maneira pela qual as rachaduras se propagarão. Ao formar texturas específicas em um material, suas propriedades podem ser aumentadas drasticamente. Ambas as técnicas também são importantes na otimização do método de fabricação de ponta, como a manufatura aditiva.
Filmes Finos e Revestimentos
A análise de filmes finos e revestimentos é baseada nos mesmos princípios do XRPD, mas com mais condicionamento de feixe e controle angular. Exemplos típicos incluem, mas não estão limitados a, identificação de fase, qualidade cristalina, tensão residual, análise de textura, determinação de espessura e análise de composição versus deformação. A análise de filmes finos e revestimentos está se concentrando nas propriedades de materiais em camadas com espessura de nm a µm, variando de revestimentos amorfos e policristalinos a filmes cultivados epitaxialmente. O software D8 ADVANCE e DIFFRAC.SUITE permitem análises de alta qualidade de filmes finos, incluindo:
- Difração de incidência de pastejo
- Reflectometria de Raios-X
- Difração de raios-X de alta resolução
- Mapeamento de espaço recíproco
(U)SAXS, (U)WAXS e GISAXS
A análise de dados de dispersão de raios X adquiridos em ângulos amplos, pequenos e ultrapequenos permite a determinação de estruturas, formas e distribuições em escala nanométrica. As aplicações incluem a caracterização de sistemas de nanopartículas, coloides, surfactantes, soluções de proteínas, polímeros, cristais líquidos, nanocompósitos e materiais porosos.
A dispersão de raios X em ângulo pequeno (SAXS) utiliza dados coletados entre 0,1 e 5° 2θ, fornecendo informações sobre características estruturais de até cerca de 80 nm, e é complementada pela dispersão de raios X em ângulo amplo (WAXS), que fornece informações sobre o arranjo periódico das estruturas. Para investigar estruturas maiores até a faixa de mícrons, o caminho do feixe de alta resolução fornecido pela óptica TRIO e pelo módulo USAXS acrescenta recursos de dispersão de raios X de ângulo ultrapequeno (USAXS) ao D8 ADVANCE.
Para o estudo de estruturas em nanoescala em filmes finos, o estágio GIWAXS possui um colimador de borda de faca integrado e parada de feixe para uma excelente supressão de fundo, crucial para a observação de sinais fracos típicos das aplicações GISAXS e GIWAXS. O design do estágio permite uma distância mínima entre a amostra e o detector para maximizar a cobertura angular. Alternativamente, para medições GISAXS, o EIGER2 R pode ser colocado longe da amostra para aumentar a resolução.
Galeria de Aplicação
Identificação de Fase
Identificação de Fase
Análise de Textura
Análise de Tensão Residual
Reflectometria de Raios-X (XRR)
Espalhamento de raios-X de Pequeno Ângulo (SAXS)
D8 ADVANCE Plus Specifications
Feature |
Specification |
Benefit |
TRIO optics |
Software push-button switch between: Motorized Divergence Slit (Bragg-Brentano) High Intensity Ka1,2 Parallel Beam High Resolution Ka1 Parallel Beam Patents: US10429326, US6665372, US7983389 |
Fully automatic, motorized switching between up to 6 different beam geometries without any manual user intervention Perfectly suited for all sample types including powders, bulk materials, fibers, sheets and thin-films (amorphous, polycrystalline and epitaxial) |
LYNXEYE XE-T |
Energy Resolution: < 380 eV @ 8 KeV Detection Modes: 0D,1D, 2D Wavelengths: Cr, Co, Cu, Mo and Ag Patents: EP1647840, EP1510811, US20200033275 |
No need for Kß filters and secondary monochromators 100% filtering of Fe-fluorescense with Cu radiation Up to 450 times faster than conventional detector systems BRAGG2D: Collect 2D data with a divergent primary line beam Unique detector warranty: No defective channels at delivery time |
EIGER2 R |
The latest generation multi-mode (0D/1D/2D) detector based on the Hybrid Photon Counting technology, developed by Dectris Ltd. |
Seamless integration of 0D, 1D and 2D detection in step, continuous and advanced scanning modes Ergonomic, alignment-free detector rotation to optimize γ or 2Θ angular coverage Panoramic, tool-free diffracted beam optics using the complete detector field of view Continuously variable detector positioning to balance angular coverage and resolution |
TWIST.TUBE |
Easy, fast, and alignment-free switch between line and point focus applications |
No disconnecting of electric cables or water hoses or unmounting of tubes DAVINCI.DESIGN: Fully automatic detection and configuration of the focus orientation |
Compact UMC Stage |
Motorized X: 25 mm Motorized Y: 70 mm Motorized Z: 52 mm Capacity: 2 kg |
Precise positioning of the region of interest of a large sample in the beam Mounting multiple samples for automatic measurements |
Compact Cradle Plus |
Motorized Phi: Unlimited Motorized Psi: -5° to 95° |
Vacuum utility feedthrough for worry-free sample mounting Full 4 axis diffraction allows texture, residual stress and thin film measurements |
D8 Goniometer |
Two-circle goniometer with independent stepper motors and optical encoders |
Unparalleled accuracy and precision as manifasted by Bruker's unique alignment guarantee Absolutely maintenance free drive mechanism / gearings with lifetime lubrication |
Non-ambient |
Temperature: Ranging from ~85K up to ~2500K Pressure: 10-⁴ mbar up to 10 bar Humidity: 5% to 95% RH |
Investigations under ambient and non-ambient conditions Easily exchanged stages with DIFFRAC.DAVINCI |
Componentes XRD
As soluções Bruker XRD consistem em componentes de alto desempenho configurados para atender aos requisitos analíticos. O design modular é a chave para configurar a melhor instrumentação.
Todas as categorias de componentes fazem parte da competência chave da Bruker, desenvolvida e fabricada pela Bruker AXS, ou em estreita cooperação com fornecedores terceirizados.
Os componentes Bruker XRD estão disponíveis para atualizar os sistemas de raios X instalados para melhorar seu desempenho.
PLANEJE.MEDI.ANALISE com DIFFRAC.SUITE
O DIFFRAC.SUITE™ oferece uma ampla variedade de módulos de software para fácil aquisição e avaliação de dados de difração de raios X de pó. Baseado na tecnologia .NET da Microsoft, o DIFFRAC.SUITE oferece todas as vantagens da moderna tecnologia de software para estabilidade, máxima facilidade de uso e rede.
A interface de usuário totalmente personalizável é caracterizada por uma estrutura de plug-in, fornecendo uma aparência, sensação e operação comuns. Todos os módulos de software de medição e avaliação podem ser operados como aplicativos individuais ou integrados na estrutura de plug-in do DIFFRAC.SUITE. A rede ilimitada permite acesso e controle de qualquer número de difratômetros D2 PHASER, D8 ADVANCE, D8 DISCOVER e D8 ENDEAVOR dentro da rede de um cliente.
Software de Medição:
WIZARD – Method planning
COMMANDER – Method execution and direct measurements
TOOLS – Service Interface
Powder Diffraction Software:
DQUANT – Quantitative phase analysis
EVA – Phase identification and quantitative phase analysis
TOPAS – Profile analysis, quantitative analysis, structure analysis
Materials Research Software:
SAXS – Small Angle X-ray Scattering software
XRR – Comprehensive X-ray reflectometry analysis
TEXTURE – All-round Texture analysis meets ease-of-use
LEPTOS – Thin film analysis/Residual stress investigation
Webinars
D8 ADVANCE Plus Resources
Brochures & Flyers
Serviço e Suporte
- Helpdesk para problemas técnicos com suporte de hardware, software e aplicativos usando ferramentas avançadas de serviço remoto baseadas na Web.
- Contratos de serviço de manutenção do LabScape
- Suporte sob demanda no local
- Instalação e qualificação operacional, bem como verificação de desempenho
- Planeamento, realocação e consultoria do local
- Substituição e peças sobressalentes, consumíveis, e treinamento presencial e online
- Atualizações de software, manuais e gerenciamento do LabScape MSA (brukersupport.com)