D8 ADVANCE ECO
D8 ADVANCE ECO：XRD、PDF、SAXSのための単一ソリューション
D8 ADVANCE ECO - 最小設置面積のエコモデルXRD
D8 ADVANCE ECOは、D8回折計シリーズのプラットフォームのエントリーポイントとなる、すべての機能を備えたD8 ADVANCEのエコモデルです。今日、X線分析装置の調達と維持に必要なリソースはますます限られてきており、精度、精度、速度に対する要求はこれまで以上に厳しくなってきています。そんな要求に対して、D8 ADVANCE ECOは理想的なソリューションです。最小限の設置面積、使いやすさ、優れた分析性能が最大の特長です。D8 ADVANCE ECOは、様々な装置構成を合理化したことで、予算が限られている場合にも最適な回折計となっています。
D8 ADVANCE ECOは、D8 ADVANCEシリーズの他の装置と同様に、以下のような雰囲気制御下もしくは大気雰囲気下で、すべてのX線粉末回折・散乱アプリケーションに対応しています。
- 従来のX線粉末回折(XRD)
- 二体分布関数(PDF)解析
- 小角X線散乱・広角X線回折(SAXS、WAXS)
D8 ADVANCE ECOは、D8 ADVANCEと完全に互換性があるため、将来的な拡張性も十分にあります。また、いつでも新しいアプリケーションへのアップグレードが可能なため、将来的なX線回折・散乱アプリケーションにも対応することができます。
マーケットギャラリー
金属材料・機械部品
薄膜分析
製薬
エネルギー貯蔵・バッテリー
主な機能
エコロジカル
高輝度1kWのライン焦点X線源を搭載したD8 ADVANCE ECOは、エネルギー消費量が非常に少なく、外部冷却水を必要とせず、ラボのインフラに関する特別な要件がありません。必要なのは単相電源だけです。装置の配置およびインストールが簡単で柔軟性があるPlug'n Analyze仕様です。
D8 ADVANCE ECOは最小の所有コストと、XRD装置の中で、最小の据置面積を実現しています。これはすべて、分析性能を犠牲にすることなく達成されています。
Plug'n Analyze：
- 外部冷却水は不要。年間最大1.700㎥の水道水を節約
- 電気エネルギーの消費量を約50％削減
- 単相電源のみ必要
ECOパフォーマンス
D8 ADVANCE ECOは、市場で最もエコロジカルなX線回折計であり、アプリケーションの範囲、データ品質、柔軟性、アップグレード性の点で妥協することなく、その性能を発揮します。
D8 ADVANCE ECOは、すべての粉末X線回折・散乱アプリケーションに対応したD8 ADVANCEのフル機能モデルです。D8 ADVANCEと完全に互換性があり、将来に向けた柔軟性を提供します。D8 ADVANCE ECOは、いつでも新しいアプリケーションに対応できるように簡単にアップグレードすることができ、将来のX線回折・散乱アプリケーションにも対応することができます。
- 結晶相定性
- 結晶相の定量評価
- 微細構造解析
- 構造の決定と精密化
- 残留応力解析
- テクスチャー分析
- すれすれ入射X線回折(GID)
- X線反射率測定(XRR)
- 小角X線散乱 (SAXS)
- 二体分布関数（PDF）解析
高い経済性
D8 ADVANCE ECOは、あらゆる予算レベルに対応する機器構成を採用したハイエンドな性能を備えています。また、水や電力などのリソースが少なくて済むため、運用コストを大幅に削減することができます。優れた機器品質と、他の追随を許さない部品保証により信頼性も保証されています。
- 外部給冷却水のコストなし
- 電力効率の良い1kWのX線発生器を採用、外付けチラーの電源がないため、電力コストを大幅に削減
- X線管球の寿命を大幅に延長
- X線管球保証：D8 ADVANCE ECOで使用できる高輝度X線源はすべて3年間の保証付き
- ゴニオメーターの保証：堅牢でメンテナンスフリーのゴニオメーターデザインは、最高の機械的強度と長寿命を実現し、優れたデータ品質を提供。10年保証付き
- アライメント保証
- 検出器保証
機能ギャラリー
DAVINCI.DESIGN
Dynamic Beam Optimization™
LYNXEYE XE-T
TRIO/TWIN 光学系
EIGER 2 R 検出器
コンプライアントラボ向けソリューション
1つの回折計ですべてのアプリケーションに対応
粉末回折
X線粉末回折（XRPD）技術は、材料の特性を評価するための最も重要なツールの一つです。粉末の回折パターンに含まれる情報の多くは、結晶相の原子配列を反映しています。D8 ADVANCEとDIFFRAC.SUITEソフトウェアは、一般的なXRPD法を簡単に実行できるようにサポートしています。
- 結晶性と非晶質の両方の相の同定と試料の純度の決定
- 混合物中の結晶相と非晶質相の定量分析
- 微細構造解析（結晶粒径、微小ひずみ、乱れ...
- 熱処理や機械加工に起因する工業製品のバルク残留応力
- 結晶配向解析
- 指数付け、ab-initio結晶構造決定、結晶構造精密化
二体分布関数解析
二体分布関数(PDF)解析は、散漫散乱(全散乱)と同様にブラッグ回折に基づいて不規則物質の構造情報を解析する手法です。ブラッグピークが材料の平均的な結晶構造（長距離秩序）に関する情報を提供するのに対し、拡散散乱はその材料の局所構造（短距離秩序）の評価を可能にします。
D8 ADVANCEとTOPASソフトウェアは、アモルファス、低結晶、ナノ結晶、ナノ構造材料の分析において、分析速度、データ品質、結果の点において最高のパフォーマンスを発揮するPDF分析ソリューションです。
- 相の同定
- 構造の決定と精密化
- ナノ粒子の大きさと形状
薄膜およびコーティング
薄膜とコーティングの分析は、XRPDと同じ原理に基づいていますが、さらにビームコンディショニングと角度制御を行います。代表的な例としては、相同定、結晶質、残留応力、テクスチャー分析、厚さの決定、組成対ひずみ分析などがありますが、これらに限定されるものではありません。薄膜やコーティングの分析は、アモルファスや多結晶コーティングからエピタキシャル薄膜に至るまで、nm～μmの膜厚を持つ層状材料の特性に焦点を当てています。D8 ADVANCEとDIFFRAC.SUITEソフトウェアは、以下のような薄膜の高品質な解析を可能にします。
- すれすれ入射X線回折
- X線反射率測定
- 高分解能X線回折
- 逆格子空間マッピング
アプリケーションギャラリー
結晶相定性: Phase ID
結晶相の定量評価
雰囲気制御 XRD
結晶配向解析
X線反射率測定 (XRR)
D8 ADVANCE ECO仕様
機能 |
仕様 |
利益 |
環境 |
最小所有コスト Plug'n Analyze: ラボのインフラに特別な要件なし 外部冷却水不要 1kW X線源電源 |
電源は200V単相電源のみ。インストールが容易かつ柔軟 据置XRD装置の中で最小レベルの設置面積 年間最大1.700 m³ の水を節約可能 電力消費量を約50%削減 |
TRIO/TWIN光学系 |
ソフトウェアPush-Button切り替え: 電動可変発散スリット (Bragg-Brentano集中法光学系) 高強度平行ミラー (Kα1,2平行ビーム光学系) Ge(004) 2結晶モノクロメーター (Kα1高分解能平行ビーム光学系) 特許: US10429326, US6665372, US7983389 |
電動モーター制御により3つの発散スリットモードと2つの平行ビーム光学系の完全自動切り替え 非晶質、結晶質、エピタキシャル薄膜にかかわらず、粉末サンプル、バルクサンプル、繊維サンプル、フィルムサンプル、薄膜サンプルなどのあらゆるサンプルに最適 |
Dynamic Beam Optimization |
最適化された連動動作を実現：電動発散スリット 電動エアスキャッタスクリーン 可変アクティブ検出器ウィンドウ 角度範囲2Ɵ: <1～150º |
空気散乱および装置や試料由来の散乱がほぼない測定データ 検出下限値が大幅に強化され、微量結晶相やアモルファス相の定量が可能に 低角2θでの他に類を見ない性能を発揮し、粘土、医薬品、ゼオライト、多孔質骨格材などの正確な評価が可能 |
LYNXEYE XE-T検出器 |
最高エネルギー分解能: < 380 eV @ 8 keV (25°C、半値幅) 検出モード: 0D, 1D, 2D 対応波長: Cr, Co, Cu, Mo, Ag 特許: EP1647840, EP1510811, US20200033275 |
Bragg-Brentano集中法光学系、POLYCAP平行ビーム光学系においてKβフィルターや受光側モノクロメーターは不要 Cu波長では鉄系サンプルからの蛍光X線を100%除去可能 従来の0次元検出器搭載システムと比較して、最大450倍高速測定を実現 Bragg-2D: 発散ラインビームを用いた2D回折パターン記録 検出器保証: 不感素子なし (納品時) |
EIGER 2 R |
最新のハイブリッドフォトンカウンティング (HPC)技術にもとづくマルチモード検出器 (0D / 1D / 2Dモード) |
0D, 1D, 2D検出モードを用いたスナップショット、ステップスキャン、連続スキャン、アドバンスドスキャンのシームレスな統合 2θまたはγ方向の記録領域を最大化する人間工学にもとづいた検出器搭載方向切り替え機構 パノラミック光学系は工具を用いることなく広い回折情報の記録を実現 自動検出機距離認識機構により、測定目的に応じて測定記録範囲と角度分解能のバランスを両立 |
TWIST-TUBE |
調整作業なしでのライン焦点とポイント焦点の迅速な切り替え機構 | 電源ケーブルや冷却水配管、X線管球の取り外しが不要 DAVINCI.DESIGN：焦点方向の完全自動検出と設定 |
サンプルチェンジャー |
FLIPSTICK：9サンプル AUTOCHANGER：90 サンプル |
反射および透過配置での測定 |
D8ゴニオメーター |
光学エンコーダー付ステッピングモーター制御2軸ゴニオメーター |
Bruker独自のアライメント保証により、他に類を見ない精度と確度を実現 メンテナンスフリードライブ機構 |
雰囲気制御アタッチメント |
制御温度範囲: -188 ～ 1,600 ℃ 制御圧力範囲: 10-⁴ mbar ～ 1 bar (7.5×10-⁴ Torr ～ 7.5×10²Torr) 制御湿度範囲: 5% ~ 95% (相対湿度) |
大気雰囲気および雰囲気制御下における分析 DIFFRAC.DAVINCIによるステージモニターと制御 |
XRDコンポーネント
Bruker XRDソリューションは、あらゆる分析ニーズをカバーするようにデザインされた高性能コンポーネントで構成されています。モジュール式デザインが最高の装置構成を自由に組み上げます。
すべての種類のコンポーネントは、Brukerが開発・製造を行っています。また、サードパーティ製品は緊密なコラボレーションの結果実現されています。結果、それらはBrukerのコアコンピタンスの一部を担います。
Bruker XRDコンポーネントは、分析性能を拡張するため、インストール済み装置へのアップグレードパスをご提供します。
PLAN.MEASURE.ANALYZE － DIFFRAC.SUITEソフトウェアパッケージ
DIFFRAC.SUITE™は、粉末X線回折などのデータ取得と評価を簡単に行うための幅広いソフトウェアモジュールを提供します。Microsoftの.NET技術をベースにしたDIFFRAC.SUITEは、安定性、使いやすさ、ネットワーク化など、最新のソフトウェア技術のメリットをすべて備えています。
カスタマイズ可能なユーザーインターフェースは、プラグインフレームワークデザインを採用し、共通のルック＆フィール、操作性を提供します。すべての測定・評価ソフトウェアモジュールは、個別のアプリケーションとして操作することも、DIFFRAC.SUITEのプラグインフレームワークに統合して使用することも可能です。無制限のネットワーキングにより、ネットワーク内にあるD2 PHASER、D8 ENDEAVOR、D8 ADVANCE、D8 DISCOVERのあらゆる回折計へ自由にアクセスして制御することができます。
測定ソフトウェア:
WIZARD – 測定条件検討と作成
COMMANDER – 装置制御とマニュアル測定
TOOLS – メンテナンスインターフェース
粉末回折ソフトウェア:
DQUANT – 各種定量分析
EVA – 結晶相定性と汎用粉末XRD解析
TOPAS – プロファイル分析・定量分析・構造解析
材料解析ソフトウェア:
SAXS – SAXS解析ソフトウェア
XRR – 包括的なXRR解析ソフトウェア
TEXTURE – 使いやすさを実現した極点図解析ソフトウェア
LEPTOS – 薄膜解析、残留応力解析
D8 ADVANCE ECOリソース
サービス＆サポート
- ヘルプデスク‐ハードウェア、ソフトウェア、アプリケーションの技術的な問題を、ウェブベースおよび高度なリモートサービスツールでサポート
- LabScape 保守サービス契約
- オンサイトおよびオンデマンド・サポート
- 設置および操作の適格性確認と性能検証
- 設置場所計画、移転、コンサルティング
- 交換部品、スペア部品、消耗品、対面およびオンライン・トレーニング
- ソフトウェアアップデート、マニュアル、LabScape MSA管理 (brukersupport.com)