傅立叶变换红外显微镜

LUMOS II

LUMOS II 是一款独立的傅立叶变换红外显微镜,在失效分析、材料研究和颗粒分析方面非常出色。它采用FPA技术,结构紧凑、精确,具有超快的化学成像功能。

卓越的红外。

出色的视觉效果, 超快成像。

轻松有效精确

傅立叶变换红外显微镜和成像设备

LUMOS II 介绍 | 产品展示
LUMOS II 产品经理介绍仪器及其功能
我们的声明

红外显微镜

样品制备的空间更多; 化学成像的速度更快;  ATR、透射和反射测量方面有更高表现。真正的游戏规则改变者。

特征

LUMOS II 技术特点:

  • 标准TE-MCT探测器
  • 即插即用:无需液氮,无需吹扫
  • 可选的焦平面阵列(FPA)成像探测器
  • 创新的校准技术 PermaSure+
  • 全电动化和自动化硬件
  • 允许最大样品厚度达40毫米
  • 包括激光在内的元件寿命长
  • 抗高湿度(ZnSe光学元件)
  • 独立设计,占地面积小
  • 低功耗
 

LUMOS II 提供:

  • 软件引导测量的易用性
  • 高清光谱和视觉数据
  • 高红外灵敏度,无需液氮
  • 巨大视野和高达亚微米级别的视觉分辨率
  • 超快 FPA 成像性能
  • FPA 成像 ATR/投射/反射
  • 轻松放置样品
  • 符合 cGMP 和 FDA 21 CFR p11标准
  • 自动 OQ/PQ/药典测试
  • 随时可升级系统
 

应用

  • 失效分析
  • 颗粒和表面分析
  • 工业制造
  • 法医学
  • 生命科学
  • 聚合物和塑料
  • 环境科学
  • 制药
什么是LUMOS II

任何地点、任何用户 -傅立叶变换红外显微镜

我们相信并努力做到,向所有用户提供先进的技术。繁琐的硬件和软件操作不应该成为限制FTIR显微和成像技术巨大优势的因素。

我们称之为真正的 FPA 成像。为什么?

因为 LUMOS II 通过使 FTIR 成像更快、更容易、更准确、更可靠甚至更有趣来提升 FTIR 成像品质。

为实现这一目标,我们专门为用户量身定制了 LUMOS II、软件和用户界面。初学者也可以立即获得完美的测试结果,专家则可以利用LUMOS II的无限潜能。

出色的傅立叶变换红外显微镜

卓越的μ ATR FT-IR 功能

更好的仪器、更好的结果

LUMOS II 在透射和反射测量中的出色结果是显而易见的。此外,一个值得注意的亮点是衰减全反射 (ATR) 的测量。

简而言之,LUMOS II ATR模式下的性能是无与伦比的。不要满足于不可靠的、手动的 ATR 配件 — 要获得最好的。要拥有 LUMOS。

可伸缩的晶体由高精度压电电机控制并被集成到透镜中。这使您可以清楚地看到样品,并在您选定的位置进行精确测量。

久经考验的技术

令人信服的创新

持久和强大的应用


对我们来说,向客户交付最好的技术是理所应当的事。这也适用于 LUMOS II。

RockSolidTM 干涉仪可确保恒定的性能,而现代电子设备可确保机械精度和低能耗。同时,软件可监控仪器的有效性并始终确保正确的功能。

LUMOS II Application Videos
 

PCB failure analysis by FT-IR microscopy.
Coating defect analysis by ATR-FT-IR microscopy.
Adhesive layer analysis of a food packaging film by µ-FT-IR.
Textile and fleece quality control by FT-IR microscopy.
Detecting dangerous particles in injectable medication.
Particle root cause analysis performed by IR microscopy.
Composite multi-layer polymers analyzed by ATR-FT-IR.
Coating thickness analysis of DLC layers by FT-IR microscopy.
Quantification in microscopic samples by FT-IR.
How LUMOS II is applied in geology and related sciences.
Anti-corrosive coating analysis on metal surface by IR imaging.
Multi-layer film and laminate analysis by macro ATR imaging.
Diamond gemstone analysis by FT-IR microscopy.
Finding microplastic particles in cosmetic products by µ-FT-IR.
See for yourself how well IR and VIS data match with LUMOS II.

LUMOS II Application Videos

用ATR-傅立叶变换红外显微镜分析涂层缺陷
通过FT-IR显微镜进行PCB失效分析
通过FT-IR显微镜对食品包装膜的粘合层进行分析
通过FPA成像对金属表面的防腐涂层进行分析
用傅立叶变换红外显微镜做受损纺织品中污染物识别
用红外显微镜进行颗粒根本原因分析
多层膜和层压板的macro ATR成像分析
用傅立叶变换红外显微镜做.DLC(类金刚石镀膜)涂层检测
复合多层聚合物的ATR-傅立叶变换红外分析
用傅立叶变换红外显微镜做珠宝玉石鉴定

Testimonial: Microplastics

由Dr. Martin Löder and Prof. Christian Laforsch领导的德国微塑料研究项目团队

OPUS Release 8.8  | LUMOS II | Q3 2023

新功能:3D FocusFusion现支持创建无限“清晰度”的视觉图像

这一新功能可用于创建清晰的视觉图像——即使样品表面粗糙甚至不平。

这种无限“清晰度”的微观图像有助于选择目标区,因此,如果对于某些样品,LUMOS II焦深有限,则可采用3D FocusFusion来生成这些样品的清晰视觉图像。

3D FocusFusion创建的高度结构化表面的图像


新功能:FPA成像现支持圆形/环状检测区

现在,检测网格可圆形摆放,以便通过FPA成像来检测整个颗粒物滤膜。在对圆形目标区(例如,滤膜——在微塑料分析中)进行FPA检测过程中,由于仅对实际目标区进行检测,用户可节省大量时间。

颗粒物分析中使用的氧化铝滤膜上的圆形检测区

OPUS Release 8.7  | LUMOS II | Q3 2021

新特性:通过新的自适应K均值聚类函数生成高性能化学图像

这个新功能是我们众所周知的聚类分析功能的下一个逻辑开发步骤。自适应K-means聚类函数基于一种新算法,该算法可以在成像或映射结果中无监督、自主地确定光谱方差。

  • 由于该算法可以自行预测所有包含的化学类别,因此不再需要对化学类别的包含量进行预测或耗时的搜索。
  • 这一主要功能对于大型数据集中未知样品或小型结构的所有类型的化学成像和分布分析都很重要。
  • 与LUMOS II一起进行分析和评估尽可能简单,并保护您宝贵的时间和神经。

新功能:“群集ID”功能用于识别3D光谱数据中的类别

我们新的群集ID功能可以使用OPUS功能识别成像和地图数据中的群集:库中的频谱搜索、快速比较或身份测试。

  • 易于确定颗粒、层压板层、药片组分和其他不均匀材料的分类样品组分的化学特性。
  • 提供了有关所有分析结构的数量、尺寸和特性的可靠和全面的统计报告,并将颗粒和技术清洁度分析提升到一个新的自主水平。

更新功能:“查找粒子”功能现在包含一种新的粒子检测方法

经过验证的“查找粒子”软件现在可以同时应用于视觉和红外图像。有了这个更新的功能,你可以根据LUMOS II测量的化学图像进行粒子检测。

  • 虽然灰白色滤膜上的低对比度结构和灰白色/透明颗粒/纤维的颗粒识别可能很繁琐,但基于化学红外图像的运行后颗粒测定允许您根据成像或映射结果确定颗粒的数量和大小。
  • 使用“查找粒子”功能和LUMOS II,无论是在视觉上还是在红外范围内,您都不会错过任何细节。
Fully automatically created chemical images by the new adaptive k-means clustering function.
Automatically recognized particles on an aluminum oxide filter. Particles are immediately classified by size and identity with the new "Cluster ID".

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