SKYSCAN 1272

亮点

0.6 m²

占地面积

适合每一个实验室的台式系统

16个位置

外置自动进样器

无人值守的高通量分析

CMOS

探测器技术

高对比度图像

什么是 XRM ？（视频）

SKYSCAN 1272 CMOS - 高分辨率XRM

SKYSCAN 1272 CMOS 版建立在值得信赖的 SKYSCAN 1272 桌面 X 射线显微镜平台上，并结合了最新的 X 射线技术，将 XRM 提升到一个新的水平。

最先进的 16 兆像素 CMOS X 射线探测器可提供具有卓越分辨率的高对比度图像。增大的探测器视野和增强的 X 射线灵敏度可将扫描时间缩短两倍。

药品

利用XRM使API分布、包衣厚度均匀性和压实密度可视化，从而了解药品的配方和包装。

多孔介质

对于催化剂和滤膜等多孔介质，XRM可以用于定量计算开、闭孔隙度，尺寸分布，并确定壁厚。

建筑材料

XRM可以用于分析混凝土、木材、塑料和墙板等多种材料。它可以分析建筑玻璃和表面处理所用的涂层（如油漆）的连续性。

电子元件/器件

XRM可用于使微米大小的片上器件、完整的电路板和组装完整的产品可视化。内部结构的三维视图可供了解失效机制，为进一步的优化指明方向……

地质/石化

岩心和大尺寸岩石可以在不进行物理切片的情况下进行检测，这使得样品能够保持原始状态。XRM根据密度不同来进行区域划分，包括孔隙网络。

纤维/复合材料

复合材料内子元素的位置和取向，对于优化其整体性能至关重要。 XRM可在无损情况下实现内部结构的可视化，避免切片造成的微观结构的改变。

主要特点

SKYSCAN 1272 CMOS 特点

Genius模式

SKYSCAN 1272 CMOS 凭借Genius模式可自动选择参数。只需单击一下，即可自动优化放大率、能量、过滤、曝光时间和背景校正。

而且，由于能让样品和大尺寸CMOS探测器尽可能地靠近光源，它能大幅地增加实测的信号强度。正是因为这个原因，SKYSCAN 1272 CMOS 的扫描速度比探测器位置固定的常规系统最多可快5倍。

SKYSCAN 1272 CMOS 特点

自动进样器

SKYSCAN 1272 CMOS 可以选择配合一个有16个位置的外置自动进样器，以增加进行质量控制和常规分析时的处理速度。

自动进样器可以容纳不同尺寸的样品，样品直径最大可达25 mm。

可以随时很方便地切换样品，不会中断正在进行的扫描过程。系统可以自动检测新样品，LED可以显示每一次扫描的状态：准备、扫描和完成。

SKYSCAN 1272 CMOS 特点

原位试验台

布鲁克的材料试验台可以进行最大4400 N的压缩试验和最大440 N的拉伸试验。所有试验台都能通过系统的旋转台自动联系到一起，而无需任何外接线缆。通过使用所提供的软件，可以设置预定扫描试验。

布鲁克的加热台和冷却台可以达到最高+80ºC或最低低于环境温度低30ºC的温度。和其它的试验台一样，加热和冷却台也不需要任何额外的连接，系统可以自动地识别不同的试验台。通过使用加热台和冷却台，可在非环境条件下检测样品，从而评估温度对样品微观结构的影响。

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SKYSCAN 1272 CMOS
无外部冷却水或特殊电源，性能不受影响：为满足当今的生态和经济需求而设计

SKYSCAN 1272 CMOS
智能的解决方案和设计，比如集成的隔振装置，形成一个完美的整体

重点应用

SKYSCAN 1272 CMOS

纤维和复合材料

FFP2口罩的三维渲染，根据局部取向对纤维进行彩色编码

通过将材料组合成复合材料，获得的组件可以拥有更高的强度，同时大大减轻重量。而要想进一步优化组件性能，就必须确保组成成分的方向能被优化。最常用的组分之一是纤维，有混凝土中的钢筋，电子元件中的玻璃纤维，还有航空材料中的碳纳米管。XRM可用于检测纤维和复合材料，而无需进行横切，从而确保样品状态不会在制备样品的过程中受到影响。

嵌入对象的方向
层厚、纤维尺寸和间隔的定量分析
采用原位样品台检测温度和物理性质

SKYSCAN 1272 CMOS

药物

一种口服药物，以肠溶颗粒形式存在，像素大小为0.45µm。包衣由三层组成，外层用颜色编码厚度。

新药开发是个费时费钱的过程。，XRM可以在产品配方阶段即时提供产品内部结构，加快新药上市。

确定片剂的压实密度
测量包衣厚度均匀性
评估API分布
检测被压实的片剂中由应力导致的微型裂隙
利用原位压缩检测力学性能

SKYSCAN 1272 CMOS

泡沫材料

重建数据的多体积图像和彩色编码结构分离同时显示了泡沫泡孔的直径以及开孔泡沫镍支柱的中空特征。像素大小1.0µm

泡沫材料在工业上有广泛的应用。根据泡沫的材质和结构特性，可以用作隔热或隔音材料，也可以用作保护或过滤装置中的减震结构……

XRM可以无损地实现泡沫内部结构的三维可视化。

确定局部结构的厚度
确定结构间隔以实现空隙网络的可视化
通过压缩和拉伸台进行原位力学试验
确定开孔孔隙度和闭孔孔隙度

应用实例

电子

无线USB密钥的体绘制

地质

地质岩心微塞，彩色编码粒度分布

木材

Hartwood，颜色编码结构厚度（红色）和分离（蓝色）分布

食品

利用相位还原技术显示未成熟的Gouda干酪中的凝乳颗粒连接，像素大小3.0 µm。

多孔结构

泡沫的体绘制，中心部分根据局部壁厚进行颜色编码

SKYSCAN 1272 CMOS 技术参数

特点	参数	优势
X射线源	40 – 100 kV 10 W < 5 µm 点尺寸，4 W	免维护、全密封的X射线源通过快速扫描实现质量控制，或4D XRM
X射线探测器	16 MP sCMOS 探测器（4096 x 4096 像素）	排列精密的探测器可实现最高分辨率
样品尺寸	最大直径 75 毫米最大高度 80 毫米	适用于小-中等尺寸样品
自动进样器（可选）	16种样品，直径最大可达25 mm 外置	无人值守，高通量大小样品随意组合随时添加/取出样品，不中断扫描过程
尺寸	1160 mm x 520 mm x 330 mm（宽x深x高）重量 150 千克	节省空间的、适合每一个实验室的台式系统
电源	100-240V AC，50-60Hz，最大3A	安装需求最低，标准电源即能满足要求