Xrm

面向材料科学的三维X射线显微镜

布鲁克推出的三维X射线显微镜(3D XRM)产品组合为广大工业、科学应用提供了无损3D成像交钥匙解决方案。诸如铸造、机械加工和增材制造的缺陷检测、复杂的机电组件检验、药品包装、先进的医疗工具、地质样品的孔隙率和粒度分析以及原位显微成像均在其应用范围之内。

打开显微镜的新局面

布鲁克三维X射线显微镜(XRM)整合了微计算机断层扫描(micro-ct)硬件与专用软件,打造出了全面的显微成像可视化解决方案。布鲁克XRM解决方案,从微米级分辨率的台式仪器到纳米分辨率的落地式仪器应有尽有,实现了易用性和功能性的完美平衡。

从测量地质样品的孔隙率到片剂药物多层包衣的厚度,乃至电路的片上和板级互连结构,XRM均可快速展开多尺度分析。得益于XRM的非破坏特性,您将能验证组件的完整性,从而将增材制造等制造技术的质控带向新高度。

布鲁克推出的软件为技术人员和研究新手提供了简单易懂的按钮界面,同时,还为力图在样品和技术方面有所突破的专家提供了出色且深入的剖析。由于使用了最新的GPU驱动算法,您将能完成重构,进而在短时间内从大型数据集中获取结果。借助随附的分析包,您将能实现定性可视化和定量回归。

材料科学 XRM 技术参数

规格

SKYSCAN 1275

 SKYSCAN 1272 CMOS

SKYSCAN 1273

SKYSCAN 2214 CMOS

外部尺寸(宽 x 深 x 高,毫米)

1040 x 665 x 400

1160 x 520 x 330

1250 x 820 x 815

1800 x 950 x 1680

重量(不含可选电子部件)

170 公斤

150 公斤

400 公斤

1500 公斤

电源

40-100千瓦

40-100千瓦

40-130千瓦

20-160千瓦

探测器

3 Mp平板探测器

16 Mp CMOS

6 Mp 平板

6 Mp 平板

16 Mp 大 CCD

16 Mp 中 CCD

15 Mp 高 res Ccd

最大样品尺寸(直径,高度)

96 毫米,120 毫米

75 毫米,80 毫米

300 毫米,500 毫米

300 毫米,400 毫米

最小分辨率(音、空间)

<4 μm, <8 μm

<0.45 μm,<5 μm

<3 μm,  <6 μm

60 nm,<500 nm

测量、重建和分析软件

包括

包括

包括

包括

位置,扫描,重建...

定位

实时查看样品,默认扫描参数支持主动更新,因此可快速完成扫描设置。

扫描

可实时查看射线照片,从而实现测量监控。支持批量测量,以确保充分利用系统。

NRECON

由GPU驱动的尖端算法,仅占用传统计算几分之一的时间,即可完成3D模型重构。

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