재료 과학을 위한 3D XRM
새로운 차원의 현미경
Bruker 3D X 선 현미경(XRM)은 마이크로 컴퓨터 단층 촬영(마이크로 CT) 하드웨어와 전문 소프트웨어를 결합하여 완전한 현미경 시각화 솔루션에 제공합니다. 마이크로 해상도 벤치탑에서 나노분해능 플로어 스탠딩 기기에 이르기까지 Bruker XRM 솔루션은 사용 편의성과 전력의 완벽한 균형을 제공합니다.
XRM을 사용하면, 지질 표본의 다공성 측정부터 제약 정제의 다중 코팅 두께 또는 회로의 온칩 및 보드 레벨 상호 연결 구조에 이르기까지 신속한 다중 분석이 가능합니다. XRM의 비파괴적 특성을 통해 부품 무결성을 검증하여 적층 제조와 같은 제조 기술의 QC를 새로운 수준으로 끌어올릴 수 있습니다.
Bruker의 소프트웨어는 기술자와 초보 연구원을 위한 간단한 푸시 버튼 인터페이스를 제공하고, 샘플과 기술의 경계를 넓히려는 전문가에게는 탁월한 깊이를 제공합니다. 재구성은 최신 GPU 기반 알고리즘으로 수행되어 짧은 시간에 대규모 데이터세트의 결과를 제공합니다. 포함된 분석 패키지를 사용하면 질적 시각화와 정량적 회귀를 모두 허용합니다.
Materials Science XRM Specifications
Specification |
SKYSCAN 1275 |
SKYSCAN 1272 CMOS |
SKYSCAN 1273 |
SKYSCAN 2214 CMOS |
Exterior dimensions (w x d x h, mm) |
1040 x 665 x 400 |
1160 x 520 x 330 |
1250 x 820 x 815 |
1800 x 950 x 1680 |
Weight (without optional electronics) |
170 kg |
150 kg |
400 kg |
1500 kg |
Source |
40-100 kV |
40-100 kV |
40-130 kV |
20-160 kV |
Detector |
3 Mp Flat Panel |
16 Mp CMOS |
6 Mp Flat Panel |
6 Mp Flat Panel 16 Mp large CMOS 16 Mp mid CMOS 15 Mp hi-res CMOS |
Max Sample Size (Diam, Height) |
96 mm, 120 mm |
75 mm, 80 mm |
300 mm, 500 mm |
300 mm, 400 mm |
Minimum Resolution (Voxel, Spatial) |
<4 µm, <8 µm |
<0.45 µm, <5 µm |
<3 µm, <6 µm |
60 nm, <500 nm |
Measurement, Reconstruction and Analysis Software |
Included |
Included |
Included |
Included |
재료분석용 XRM 사양
사양 |
SKYSCAN 1275 |
SKYSCAN 1272 CMOS |
SKYSCAN 1273 |
SKYSCAN 2214 |
외부 치수(w x d x h, mm) |
1040 x 665 x 400 |
1160 x 520 x 330 |
1250 x 820 x 815 |
1800 x 950 x 1680 |
중량(옵션 전자장치 제외) |
170kg |
150 kg |
400kg |
1500 kg |
광원 |
40-100 kV |
40-100 kV |
40-130 kV |
20-160 kV |
미세검출능력 |
3 Mp 플랫 패널 |
11 Mp CCD 16 Mp CCD 16 Mp CMOS |
6 Mp 플랫 패널 |
6 Mp 플랫 패널 11 Mp large CCD 11 Mp mid CCD 8 Mp hi-res CCD |
최대 샘플 크기(직경, 높이) |
96mm, 120mm |
75mm, 80mm |
300mm, 500mm |
300mm, 400mm |
최소 해상도(3D 화소, 공간) |
<4 μm, <8 μm |
<0.45 μm, <5 μm |
<3 μm, < 6 μm |
60 nm, <500 nm |
측정, 재구성 및 분석 소프트웨어 |
포함 |
포함 |
포함 |
포함 |
