Les microscopes 3D à rayons X (XRM) de Bruker combinent le matériel de microtomographie (micro-ct) avec une solution complète de logiciels spécialisés dans la visualisation microscopique. Allant des bancs de micro-résolution aux instruments de sol de nanorésolution, les solutions XRM de Bruker offrent l’équilibre parfait entre la facilité d’utilisation et la puissance.
De la mesure de la porosité dans
les spécimens géologiques à l’épaisseur de revêtements multiples des
comprimés pharmaceutiques ou à la structure d’interconnexion des
circuits électroniques de puces et panneaux, la XRM permet une analyse
rapide à plusieurs échelles. La nature non destructive de la XRM permet
la validation à un nouveau niveau de l’intégrité des composants
apportant le controle de qualité (QC) des techniques de fabrication
telles que la fabrication additive.
Le logiciel de Bruker fournit des interfaces simples à boutons poussoirs pour les techniciens et les chercheurs novices et d’une profondeur exceptionnelle pour les experts qui cherchent à repousser les limites de leurs échantillons et de la technique. La reconstruction est réalisée avec les derniers algorithmes pilotés par GPU fournissant des résultats de larges ensembles de données en une fraction de temps. L’ensemble des programmes d’analyse inclus dans le logiciel permet à la fois des visualisations qualitatives et des études quantitatives.
Spécification |
SKYSCAN 1275 |
SKYSCAN 1272 |
SKYSCAN 1273 |
SKYSCAN 2214 |
Dimensions extérieures (l x l x h, mm) |
1040 x 665 x 400 |
1160 x 520 x 330 |
1250 x 820 x 815 |
1800 x 950 x 1680 |
Poids (sans électronique optionnelle) |
170 kg |
150 kg |
400 kg |
1500 kg |
Source |
20-100 kV |
20-100 kV |
40-130 kV |
20-160 kV |
Détecteur |
écran plat de 3 mp |
11 Mp CCD 16 Mp CCD |
écran plat de 6 mp |
écran plat de 6 mp 11 Mp grand CCD 11 Mp medium CCD 8 Mp hi-res CCD |
Taille maximale de l’échantillon (Diam, hauteur) |
96 mm, 120 mm |
75 mm, 70 mm |
300 mm, 500 mm |
300 mm, 400 mm |
Résolution minimale (Voxel, Spatial) |
< 4 µm, <8 µm |
<0.35 µm, <4 µm |
< 3 µm, < 6 µm |
60 nm, <500 nm |
Logiciel de mesure, de reconstruction et d’analyse |
Inclus |
Inclus | Inclus |
Inclus |
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Bruker Belgique
Kartuizersweg 3B,
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