Dimension Icon
브루커의 Dimension Icon ® 은 과학 및 산업 분야의 나노 스케일 연구진에게 최고 수준의 성능, 기능 및 AFM 접근성을 제공합니다. 세계에서 가장 많이 활용되는 대형 샘플 AFM 플랫폼을 기반으로 수십 년간의 기술 혁신, 고객 피드백 및 업계 최고의 애플리케이션 유연성의 정점입니다. 이 시스템은 사용자가 몇 분 만에 Artifact-free images를 얻을 수 있는 혁신적인 Low-drift 및 저소음을 제공하도록 설계되었습니다.
고성능 및 고해상도
Dimension Icon의 뛰어난 해상도는 브루커의 독자적인 전자 스캐닝 알고리즘과 함께 측정 속도와 품질을 크게 향상시킵니다. Icon은 브루커의 업계 최고의 팁 스캐닝 AFM 기술의 정점으로, 온도 보정 위치 센서를 통합하여 Z축의 서브 옹스트롬 범위의 noise level을 렌더링하고 XY의 옹스트롬을 렌더링합니다. 이는 대형 샘플 90 마이크론 스캔 범위 시스템에서 탁월한 성능으로 고해상도 AFM의 open-loop noise수준을 능가합니다. XYZ closed-loop 헤드의 새로운 디자인은 이미지 품질 저하 없이 더 높은 스캔 속도를 제공하여 데이터 수집을 위한 더 큰 처리량을 가능하게 합니다. 브루커 전용 PeakForce Tapping®은 Dimension Icon이 정기적으로 고해상도의 이미지를 만들 수 있습니다.
뛰어난 생산성
AFM의 Dimension 제품군은 다른 대형 샘플 AFM 플랫폼보다 더 많은 게시된 데이터를 가능하게 했으며, 그 과정에서 연구와 업계 모두에서 상징적인 명성을 얻었습니다. Icon은 플랫폼을 탁월한 새로운 수준으로 높임으로써 더 높은 성능과 더 빠른 결과를 제공합니다. 이 소프트웨어의 직관적인 워크플로우를 통해 가장 진보된 AFM 기술도 그 어느 때보다 쉽게 수행할 수 있습니다. Icon 사용자는 전문가의 일반적인 조정 시간 없이 즉시 고품질의 결과를 얻을 수 있습니다. Dimension Icon의 모든 면(와이드 오픈 팁과 샘플 액세스부터 사전 구성된 소프트웨어 설정에 이르기까지)은 문제없는 작동과 놀라운 AFM 사용 편의성을 위해 특별히 설계되었습니다.
최대 유연성
Icon system은 광범위한 맞춤형 시스템을 통해 이전에 획득한 거의 모든 측정을 규모에 맞게 수행할 수 있는 타협하지 않는 성능, 견고성 및 유연성을 제공합니다. 개방형 플랫폼, 대형 또는 다중 샘플 홀더 및 수많은 사용 편의 기능을 활용하여 AFM의 힘을 연구 및 업계 모두에 개방함으로써 고품질 AFM 이미징 및 나노 조작에 대한 새로운 표준을 정립니다.
Dimension Icon은 성능에 영향을 주지 않고 유연성을 제공합니다 - 단일 플랫폼, 무한한 가능성 :
- 추가 기술의 상관 관계를 위한 플랫폼 수정
- 개방형 소프트웨어 및 하드웨어로 귀하의 연구 분야를 쉽게 조정할 수 있습니다. - "존재하지 않는다면 발명하십시오"
- 배터리, 유기 태양열 및 그 이상을 위한 완벽한 솔루션
Powered by the NanoScope 6 AFM Controller
Featuring higher speeds, lower noise, and greater AFM mode flexibility, the NanoScope 6 controller allows users to harness the full potential of our high-performance Dimension and MultiMode AFM systems. This latest generation controller provides unprecedented accuracy, precision, and versatility for nanoscale surface measurements in every application.
NanoScope 6 uniquely enables Bruker AFMs to:
- Operate in more imaging modes than is possible with competing systems, including unique and advanced AFM modes that require complex control and analysis;
- Collect accurate, quantitative data for nanoelectrical and nanomechanical property measurements in every application; and
- Optimize and customize scanning parameters to meet even the most demanding research and industry measurement requirements.
Contact us to discuss your measurement requirements and options for system specialization, or submit a sample run request to learn how a Bruker AFM is best suited for your applications.
AFM 모드로 애플리케이션 확장
타의 추종을 불허하는 이미징 모드 제품군을 갖춘 Bruker는 모든 연구를 위한 AFM 기술을 보유하고 있습니다.
핵심 이미징 모드(Contact Mode와 Tapping Mode)의 근본을 기반으로 구축된 Bruker는 사용자가 샘플의 전기적, 자기적 또는 재료 특성을 조사할 수 있는 AFM 모드를 제공합니다. Bruker의 혁신적인 새로운 PeakForce Tapping 기술은 지형, 전기 및 기계적 특성 데이터를 병렬로 제공하는 여러 모드에 통합된 새로운 핵심 이미징 패러다임을 나타냅니다.
Dimension Icon 데이터 갤러리
최근 AFM 웨비나
고객이 말하는 것을 듣기
브루커의 치수 아이콘은 지구상에서 가장 사용자 정의 가능하고 유연한 AFM입니다. 차원 아이콘은 우리의 실험실에서 주요 발전을 가능하게했다, 즉 표면 전압 현미경 검사법의 개발과 태양 연료에 대한 광자 노드의 중심에있는 전하 전송 역학의 용해. 그리고 길을 따라 우리는 항상 브루커의 고급 응용 프로그램 팀의 우수한 지원에 의지 할 수 있습니다.
브루커 아이콘 AFM 시스템은 2 년 전 클린 룸 시설에 설치되었으며, 많은 사용자를위한 저소음 및 고해상도 이미징을 수행 할 수있는 독특한 악기로 밝혀졌으며 많은 종류의 샘플과 신뢰할 수있는 성능으로 출시되었습니다! ScanAsyst 모드는 몇 주 동안 AFM 프로브를 양호한 상태로 보존하고 모든 학생이 독립적이고 짧은 훈련 후 측정을 시작할 수 있습니다. 우리는 매우 만족합니다!
차원 아이콘 시스템의 새로운 다기능 원자력 현미경 검사는 스카나시스트 및 PeakForce QMM을 사용하여 접착 및 계금과 같은 나노 스케일 표면 특성 및 지형을 보여줍니다. AFM 및 KPFM 기능을 통합하여 인터페이스 접합및 장치 특성을 모두 관찰하여 프로필 형태학 및 인터페이스 상태에 대한 자세한 내용을 이해할 수 있습니다. 또한 아이콘의 고속 및 안정성은 빠른 공정 검사 및 분석을 제공합니다.
