Dimension Icon 原子力显微镜
Bruker Dimension® Icon™ 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的应用体验，具有高水平的性能、功能和配件选择， 其测试功能强大，操作简便易行。齐集 Dimension系统数十年的技术经验，广大客户反馈，结合工业领域的设备需求， Dimension Icon进行了全面革新。全新的系统设计，实现了前所未有的低漂移和低噪音水平。现在，用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。
高性能和高分辨率
Dimension® Icon™优秀的分辨率，与 Bruker 特有的电子扫描算法相结合，显著提升了测量速度与质量。Dimension® Icon™是针尖扫描技术的最新革新，一直处于领先地位。该系统配置温度补偿位置传感器，实现了 Z 轴亚埃级和 XY 轴埃级的低噪音水平，将这个性能应用在 90 微米扫描范围、大样品台系统上，效果甚至超过高分辨率原子力显微镜的开环噪音水平。XYZ 闭环扫描头的新设计使仪器在较高扫描速度工作时，图像质量也不会被损坏，实现了更大的数据采集输出量。配置Bruker 专利的PeakForce®技术，Dimension Icon可实现智能获取高分辨图像。
卓越表现
Dimension Icon原子力显微镜已成为研究领域最受欢迎的原子力显微镜型号之一， 使用Dimension Icon发表文章的数目远比其他大样品台AFM要多。Dimension Icon 在原有的操作平台上引入最新技术，展现出更高的性能和更快的测量速度。其软件直观的工作流程，使其操作过程比以往先进的AFM 技术更加简便。Dimension Icon用户无需像以前一样，通常需要几小时的专业参数调整，即可立即获得高质量的测量结果。Dimension Icon 的每个方面，从完全开放式针尖样品空间，到软件参数预设置，都经过特殊设计以求达到无障碍操作和惊人的AFM 易用性。
灵活的AFM平台
Dimension Icon 展现出了的卓越的性能，稳定性和灵活性，几乎可以实现以前只有在特制系统中才能完成的所有测量。利用开放式平台，大型或多元样品支架和许多简单易用的性能，把AFM 的强大功能完全展现在科研领域和工业领域的研究者面前，为高质量AFM成像和纳米操作设定了新的标准。
Dimension Icon 提供对性能没有任何影响的灵活性平台， 一个平台，无限可能：
- 开放的平台，能整合其他技术
- 开放的软件和硬件，能轻松定制您的研究应用 - "如果它不存在， 就发明它"
- 电池、有机太阳能等研究的完整解决方案
Powered by the NanoScope 6 AFM Controller
Featuring higher speeds, lower noise, and greater AFM mode flexibility, the NanoScope 6 controller allows users to harness the full potential of our high-performance Dimension and MultiMode AFM systems. This latest generation controller provides unprecedented accuracy, precision, and versatility for nanoscale surface measurements in every application.
NanoScope 6 uniquely enables Bruker AFMs to:
- Operate in more imaging modes than is possible with competing systems, including unique and advanced AFM modes that require complex control and analysis;
- Collect accurate, quantitative data for nanoelectrical and nanomechanical property measurements in every application; and
- Optimize and customize scanning parameters to meet even the most demanding research and industry measurement requirements.
Contact us to discuss your measurement requirements and options for system specialization, or submit a sample run request to learn how a Bruker AFM is best suited for your applications.
用AFM拓展您的应用
凭借一整套出色的AFM成像模式，布鲁克能为您每项研究提供适用的 AFM 技术。
基于核心成像模式（接触模式和轻敲模式），布鲁克提供的全套 AFM测试模式，允许用户探测样品的电学、磁性等丰富性能。布鲁克独创的全新的峰值力轻敲技术作为一种新的核心成像模式，已被应用到多种测量模式中，能同时提供形貌、电学和力学性能数据。
Dimension Icon数据示例
最近的 AFM 网络研讨会
听听客户怎么说
布鲁克公司的Dimension Icon是可定制和灵活的原子力显微镜。Dimension Icon帮助我们实验室在研究中取得了重要的进展，特别是表面光电压显微镜的开发以及太阳能电池中阳极电荷传递动力学的阐明。在研究过程中，我们始终可以获得布鲁克公司高级应用团队提供的出色支持。
两年前，我们在洁净室中安装了Bruker Icon AFM系统。这个AFM设备以其低噪声和高分辨率成像能力，在许多用户、各类样品上展现出了可靠的性能！ScanAsyst模式可以保护AFM探针，使其在数周内保持良好状态，并可使任何学生只需经过简短培训即可开始独立进行测量。我们非常满意！
我们的Dimension Icon新型多功能原子力显微镜系统通过其ScanAsyst和PeakForce QMM模式揭示了样品纳米尺度的形貌和表面性质，如黏附性和模量等。通过结合导电AFM和KPFM功能，可以观察到界面和器件的特性，帮助我们更详细地了解剖面形态和界面状态。此外，Dimension Icon的高速度和可靠性，可提供快速的过程检查和分析。
