D8 DISCOVER Plus
La DRX au-delà de vos attentes
Le D8 DISCOVER Plus est le diffractomètre à rayons X le plus puissant et le plus polyvalent du marché.
Son cœur est le goniomètre de haute précision ATLAS qui accueille l´anode tournante à haut rendement (TXS-HE) et le bras non-coplanaire leader du marché.
Il est conçu pour la caractérisation structurale de toute la gamme de matériaux allant des poudres, aux matériaux amorphes et polycristallines, en passant par les couches minces épitaxiées des conditions ambiantes et non ambiantes.
Applications:
- Identification et quantification de phase, détermination et affinement de structure, analyse de la taille des cristallites et de micro-contraintes,
- Réflectométrie des rayons X (XRR), Diffraction en incidence rasante (GID), diffraction dans le plan (IPGID), DRX haute résolution (HRXRD), diffusion aux petits angles en incidence rasante (GISAXS), contrainte résiduelle en incidence rasante, orientation crystalline,
- Analyse de la contrainte résiduelle, texture et figures de pôle, micro-diffraction, diffusion des rayons X aux grands angles (WAXS),
- Analyse de diffusion totale : Diffraction de Bragg, fonction de distribution de paires (PDF), diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS)
Galerie des marchés
Criblage dans l’industrie pharmaceutique
Produits pharmaceutiques
Caractéristiques clés
Bras non-coplanaire
Le D8 DISCOVER Plus peut être équipé du bras non-coplanaire pour effectuer des mesures de diffraction dans le plan avec des performances inégalées.
- Domaine angulaire 2θ accessible allant jusqu’à 160° pour une précision inégalée dans la détermination des distances interréticulaires d.
- Précision inégalée avec encodeur angulaire direct.
- Les composants dédiés du chemin optique augmentent les intensités mesurées pour obtenir du signal même des films polycristallins ultra minces.
- Intégration transparente dans DIFFRAC.SUITE et dans DIFFRAC.DAVINCI pour une efficacité maximale.
Goniomètre ATLAS™
En diffraction des rayons X, la base pour une analyse précise de l’échantillon est le goniomètre et la précision de montage des composants en particulier lors de la mesure. Le goniomètre ATLAS répond exactement à ces exigences par la conception et établit la référence pour la précision angulaire et spatiale :
- Goniomètre robuste et sans entretien
- Moteurs pas à pas de haute précision avec encodeurs optiques haute résolution
- Interfaces précises et contrôlées par logiciel pour le montage de composants
Le D8 DISCOVER Plus équipé du goniomètre ATLAS est livré avec une garantie d’alignement générique Bruker AXS : l’écart angulaire ∆2Theta sur positions 2Theta des pics mesurées et certifiées est ≤0.007°. Ceci est vérifié pour chaque instrument en mesurant le matériel de référence standard NIST SRM1976.
Source de rayons X TXS-HE
Que la paramètre clé d'un outil analytique à rayons X soit la qualité des données, définie comme le signal sur bruit ou le signal sur fond, ou encore le débit d'échantillon, une constante est qu'un plus de signal est toujours un avantage.
L’anode tournante à haut rendement (TXS-HE) a été conçue pour booster le signal tout en minimisant l’entretien associé à cette technologie.
- Jusqu’à 5 fois l’intensité d’un tube scellé industriel
- Configuration foyer linéaire avec une brilliance du point focal inégalée de 6 kW/mm2
- Couplage idéal avec des optiques dédiées pour une intensité maximale
- Longueur réduite du chemin optique pour minimiser la diffusion de l’air
Optique TRIO
Goniomètre ATLAS™
Microsource IμS avec optique MONTEL
Compact UMC Plus 150
Optique PATHFINDER Plus
EIGER2 R 500K
MONTEL Plus avec optique dédiée
Au-delà de la diffraction de classe Premium
Analyse des couches minces
Diffraction coplanaire
En diffraction coplanaire, la source et le détecteur augmentent leur angle par rapport à la surface de l’échantillon ; la direction de sondage est donc perpendiculaire à la surface de l’échantillon.
- Diffraction en incidence rasante (GID) pour l'identification sensible à la surface des phases cristallines et la détermination de leurs propriétés structurales, y compris la taille des cristallites et les micro-contraintes.
- Réflectométrie des rayons X (XRR) pour l'extraction des épaisseurs, la densité des matériaux et la structure interfaciale dans des échantillons multicouches - des substrats simples aux structures de super-réseau très complexes.
- Diffusion des RX aux petits angles en incidence rasante (GISAXS)
Diffraction non-coplanaire
Dans le cas d’une expérience non coplanaire, l’angle de la source et du détecteur par rapport à la surface de l’échantillon est fixée. Le détecteur se déplaçant parallèlement à la surface de l’échantillon, la direction de sondage est donc le long de la surface (i.e. dans le plan) de l’échantillon.
- Diffraction en incidence rasante dans le plan (IPGID) réduit la profondeur de pénétration à quelques nm, permettant d’isoler le signal de la surface et d’augmenter la sensibilité aux couches avec des épaisseurs atomiques.
- L’IPGID sur des échantillons polycristallins permet la détermination de la taille de la cristallite dans le plan
- L’IPGID sur des couches minces épitaxiées permet de déterminer directement les paramètres du réseau et l’orientation dans le plan.
Recherche sur les matériaux
Le goniomètre ATLAS augmente la précision de positionnement angulaire et de l’espace réel des analyses permettant des mesures à grande échelle zones minuscules de l’échantillon. Une nouvelle classe de diffractomètre est née en combinant la divergence symétrique de l´IμS avec le MONTELPlus et la famille de détecteurs multimodes EIGER2 R; cette combination délivre une qualité de faisceau et une capacité de détection similaires à celles des grands instruments.
- Diffraction en incidence rasante (GID) pour l'identification sensible à la surface des phases cristallines et la détermination de leurs propriétés structurales, y compris la taille des cristallites et les micro-contraintes.
- Réflectométrie des rayons X (XRR) pour l'extraction des épaisseurs, la densité des matériaux et la structure interfaciale dans des échantillons multicouches - des substrats simples aux structures de super-réseau très complexes.
- Diffraction des rayons X haute résolution (HRXRD) pour l'analyse structurales d'échantillons épitaxiées : épaisseur de couche, déformation, relaxation, mosaïcité, analyse de composition de cristaux mixtes.
- Analyse des contraintes et de la texture (orientation préférentielle)
- Diffusion des RX aux grands angles (WAXS)
Diffraction de poudre
La diffraction des poudres (XRPD) couvre un large éventail d’applications sur des échantillons ayant un faible degré d’orientation. Le D8 DISCOVER Plus emmène la diffraction des poudres à un nouveau niveau de précision grâce au goniomètre ATLAS. En améliorant la précision au-delà du goniomètre D8 leader de l’industrie, l’analyse XRPD sur le D8 DISCOVER Plus permet aux chercheurs de découvrir des détails structuraux jamais observés auparavant. En équipant le D8 DISCOVER Plus avec la source TXS-HE, l’acquisition de données XRPD est 5x plus rapide qu’avec un système à tube standard.
Combiné avec le puissant logiciel DIFFRAC.SUITE, le D8 DISCOVER Plus permet l’exécution simple des applications de poudre telles que :
- Identification des phases
- Quantification des phases
- Résolution structurale
- Analyse la fonction de distribution des paires (PDF)
- Diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS)
Galerie des applications
Analyse de la contrainte résiduelle
μDRX avec détecteur 2D
DRX non-ambiant
Diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS)
Diffusion des RX aux grands angles (WAXS)
Analyse de la texture
Diffraction dans le plan
Réflectométrie des rayons X (XRR)
Diffraction des RX haute résolution (HRXRD)
Wafer et Cartographie
Cartographie du réseau réciproque (RSM)
Spécifications du D8 DISCOVER Plus
| Spécification | Avantage | |
| TWIST-TUBE | Commutation facile, rapide entre le foyer linéaire et le foyer ponctuel Anodes disponibles: Cr, Co, Cu, Mo Puissance max. et filament : jusqu’à 3 kW selon l’anode (0,4 x 16 mm²) Brevet: EP 1 923 900 B1 |
Changement rapide de la longueur d’onde pour s´adapter aux différentes applications Passage rapide du foyer ponctuel au foyer linéaire pour un plus large éventail d’applications et de meilleurs résultats en un temps plus court |
| Microsource Iμs | Puissance : jusqu’à 50 W, en monophasé Optiques MONTEL et MONTEL Plus combinant miroirs parallèles et focalisants. Tailles minimale du faisceau complet de 180 x 180 μm². Flux intégré maximum de 8 x 10⁸ cps en sortie de miroir. Divergence minimale du faisceau de 0,5 mrad |
Faisceau de taille millimétrique avec une brillance élevée et un fond ultra-bas Conception verte avec une faible consommation d’énergie, pas de consommation d’eau et des composants à longue durée de vie Optimiser la forme et la divergence du faisceau pour de meilleurs résultats |
| Anode tournante (TXS) | Taille du filament, 0,3x3 mm² Luminosité focale de 6 kW/mm² Matériaux d’anode : Cu, Co, Cr, Mo Tension maximale 50 kV, puissance max. selon le matériau d’anode : Cr 3.2 kW, Cu/Mo 5.4 kW, Co 2,8 kW Filament de tungstène pré-aligné |
Jusqu’à 5 fois plus d’intensité par rapport aux tubes RX standards en céramique. Parfaitement adapté pour les applications en foyer ponctuel et foyer linéaire. Le filament pré-aligné permet un changement rapide du filament avec un minimum de réalignement. |
| Optique TRIO | Sélection en un clic dans le logiciel entre : Fente de divergence motorisée (Bragg-Brentano) Faisceau parallèle Ka1,2 haute intensité Faisceau parallèle Ka1 haute résolution Brevets : US10429326, US6665372, US7983389 |
Commutation entièrement automatique et motorisée entre jusqu’à 6 géométries de faisceau différents sans aucune intervention manuelle de l’utilisateur Parfaitement adapté à tous les types d’échantillons, y compris les poudres, les massifs, les fibres, les revêtements et les couches minces (amorphes, polycristallines et épitaxiées) |
| Monochromateurs haute résolution | Réflexions Ge (220) et Ge (004) en géométrie symétrique et asymétrique Monochromateurs 2-bounce et 4-bounce (type Bartels) Montage sans alignement grâce à la technologie SNAP.LOCK |
Large choix selon les besoins (résolution vs. Intensité) pour obtenir les meilleurs résultats possibles. Échange rapide des monochromateurs pour une optimisation selon l’échantillon |
| Goniomètre ATLAS™ | Goniomètre vertical avec mécanique renforcée conçue pour héberger la source de rayons X TXS-HE Meilleure précision angulaire du marché: ±0.007° 2θ garanti sur l’ensemble de la plage angulaire déterminée sur le NIST SRM 1976 Intégration transparente des composantes de la famille D8, inclutant les optiques, les caméras de positionnement, les platines échantillons, les technologies non ambiantes et de détection |
Une précision et une justesse inégalées, comme en témoigne la garantie d’alignement unique de Bruker Mécanisme d’entraînement sans aucun entretien / engrenages avec lubrification à vie Prend en charge la gamme complète d’applications pour générer des données de plus haute précision |
| Bras non coplanaire | Troisième axe du goniomètre pour étudier les couches ultra-minces et les propriétés de l’échantillon dans le plan : Pas minimum: 0.001° 2θ max (selon la configuration): 160° Détection automatique de la position du détecteur
|
Précision inégalée avec encodeur angulaire direct Intégration transparente dans le logiciel DIFFRAC.SUITE Gamme angulaire jusqu’à 160° (2θ) pour une détermination plus précise de la structure non coplanaire Étalonnage en temps réel pour le détecteur EIGER2 |
| Platines UMC | Compact UMC Plus 80: Spinner rapide pour la poudre Course max. (x,y) : +/- 40 mm Epaisseur maximale d´échantillon: 57 mm
Compact UMC Plus 150: Course max. (x,y) : +/- 75 mm Epaisseur maximale d’échantillon: 57 mm Traversées pou le vide et l´alimentation électrique pour les platines à succion (wafer chuck) et les platines d’inclinaison (tilt stage) pour les wafers |
Commutation transparente entre la recherche sur les couches minces et le mode diffraction de poudre Passeur 5 positions dans le cas d´échantillons de 51 mm de diamètre Passeur 9 positions dans le cas d’échantillon de 32 mm de diamètre Cartographie des wafers de 2 à 4 pouces
Cartographie des wafers de 6 à 8 pouces Capacite mesure en réflexion de plaque de 96 puits Permet une rotation Phi infinie avec la platine d´inclinaison (tilt stage) connectée sans s´inquiéter des câbles ou des tuyaux à vide. |
| Berceau d’Euler centrique (CEC) | Platine échantillon à 5 degrés de liberté : x,y pour une translation d’échantillon de +/-40 mm Mouvement Z pour l’ajustement de la hauteur Moteur Phi avec rotation à 360° Inclinaison Psi entre -11° et 98° Charge maximale : 1 kg Accessoires divers disponibles. |
Mesures de contrainte et de texture en mode inclinaison pour des résultats plus précis. Capacité de cartographie automatisée en (x,y). Tilt-stage motorisée pour un alignement précis de la surface. Accessoires pour la mesure de poudre en géométries Bragg-Brentano et Debye-Scherrer. Platine à baïonnette pour un échange rapide et reproductible avec d’autres platines. |
| Optique Pathfinder Plus | Commutation en un clic entre : Fente motorisée Analyseur Ge 2-bounce Absorbeur automatique intégré |
Commutation entièrement automatique et motorisée entre deux optiques différentes sans aucune intervention manuelle de l’utilisateur. Conserve le champ de vision complet des détecteurs LYNXEYE. L’absorbeur assure la linéarité des données mesurées. |
| LYNXEYE XE-T | Résolution énergétique : < 380 eV @ 8 KeV Modes de détection : 0D,1D, 2D Longueurs d’onde : Cr, Co, Cu, Mo et Ag Brevets : EP1647840, EP1510811, US20200033275 |
Pas besoin de filtre Kß ou de monochromateur secondaire Filtrage à 100% de la fluorescence du fer avec le rayonnement Cu Jusqu’à 450 fois plus rapide que les systèmes de détection conventionnels BRAGG2D : Collecter des données 2D avec un faisceau primaire divergent issu d’un foyer linéaire Garantie unique du détecteur : Pas de canaux défectueux à la livraison |
| EIGER2 R 500K |
Le détecteur multimode (0D/1D/2D) de dernière génération basé sur la technologie « hybrid photon counting », développé par Dectris Ltd. | Intégration transparente des données 0D, 1D et 2D collectées en mode pas, continu ou avancé Rotation ergonomique du détecteur sans alignement pour optimiser la couverture angulaire γ ou 2Θ Optiques panoramiques utilisant la totalité de la zone active du détecteur à monter (sans outils) dans le faisceau diffracté Positionnement variable et continu du détecteur sur le bras secondaire pour varier entre couverture angulaire et résolution |
| Non ambiant | Température : Allant de ~12K jusqu’à ~2500K Pression : 10-4 mbar jusqu’à 10 bars Humidité : 5% à 95% RH |
Mesures dans des conditions ambiantes et non ambiantes Platines échantillon facilement changées avec DIFFRAC.DAVINCI |
Composants pour la DRX
Les solutions Bruker XRD sont constituées de composants haute performance configurés pour répondre aux exigences analytiques.
La conception modulaire est la clé pour configurer le meilleur instrument.
Toutes les catégories de composants font partie des compétences clés de Bruker, développées et fabriquées par Bruker AXS, ou en étroite collaboration avec des fournisseurs tiers.
Les composants DRX Bruker sont disponibles pour mettre à niveau les systèmes de rayons X installés afin d'améliorer leurs performances.
Webinaires
Documents sur le D8 DISCOVER Plus
Fiches produits et dépliants
- D8 DISCOVER XRD Solutions for Industry and Research
- Vertical Goniometers for D8 DISCOVER: Setting a Strong Foundation (EN)
- Sample Stages for the D8 DISCOVER - Versatile Sample Handling (EN)
- D8 DISCOVER Plus - ATLAS™ Goniometer and High Efficiency Turbo X-Ray Source (EN)
- Universal Motion Concept and Eulerian Cradles for Controlled Sample Positioning (EN)
Rapports d’application et webinaires
- Characterization of ultra-thin metallic films using incidence diffraction geometries (EN)
- D8 DISCOVER Plus, PDF Analysis on Titanium Dioxide Nanoparticles (EN)
- D8 DISCOVER Plus, Lower Limits of Detection (LOD) and Quantification (LOQ) for Respirable Silica (EN)
- D8 DISCOVER Plus, X-Ray Reflectometry on Thin Films and Superlattices (EN)
- D8 DISCOVER Plus, Rapid Reciprocal Space Mapping on Thin Films (EN)
- D8 DISCOVER Plus, High-Resolution Powder Diffraction for Lattice-Distortion and Micro-Structure Analysis (EN)
- D8 DISCOVER Plus: Uncompromised Power, Unmatched Accuracy, Unparalleled Efficiency (EN)
- Analysis of monolayers and ultra thin WS2 films using Grazing Incidence XRD (EN)
Service et assistance
- Assistance technique pour les problèmes techniques avec le matériel, les logiciels et les applications à l’aide d’outils de service à distance avancés et basés sur le Web.
- Contrats de service de maintenance LabScape
- Assistance sur site et à la demande
- Qualification de l’installation et de l’exploitation ainsi que vérification des performances
- Planification du site, déménagement et consultation
- Pièces de rechange et de rechange, consommables et formation en personne et en ligne
- Mises à jour logicielles, manuels et gestion de LabScape MSA (↗brukersupport.com)