Évaluation générale des diffractogrammes
Données de routine et recherche de pointe
DIFFRAC.EVA fournit des outils pour l’analyse rapide des données de diffraction 1D et 2D. Il prend en charge tous les détecteurs Bruker et tous les types d’analyse XRD. La fonctionnalité d´EVA couvre un large spectre analytique allant de la réduction des données, l’évaluation de base et la présentation des données, l’analyse détaillée des pics, l’identification et la quantification des phases, à la détermination de la cristallinité et de la taille des cristallites.
Eva s’interface avec toutes les bases de données pertinentes pour l’identification des phases et peut en outre utiliser des structures cristallines et des informations complémentaires sur la composition chimique (par example, obtenues par fluorescence X) pour une analyse puissante et sélective.
De plus, DIFFRAC.EVA permet l’évaluation efficace des big data obtenues grâce aux détecteurs rapides d’aujourd’hui, l’utilisation d’environnements in situ, le criblage à haut débit ou les mesures résolues spatialement. Le logiciel fournit des types de graphiques spécifiques, mais aussi des outils de chimiométrie avancés pour l’analyse et la quantification des espèces cristallines et amorphes basées sur l’appariement des motifs (en lóccurrence les diffractogrammes).
Il prend entièrement en charge les tâches conventionnelles basées sur les fichiers, mais intègre également línfrastructure de base de données de DIFFRAC.SUITE pour le travail quotidien, même dans des environnements contrôlés comme l’exige la règlementation 21 CFR Partie 11 pour l’industrie pharmaceutique.
Enfin, DIFFRAC.EVA est utilisé pour la préparation de graphiques prêts à publier et des rapports spécifiques à l’utilisateur, soit directement dans EVA ou à l’aide du DIFFRAC. SUITE RESULTS-MANAGER et la base de données de l´instrument.
Effortless PDF generation: We are proud to present the results of a collaboration with Prof. Olivier Masson from the University of Limoges, an expert in the field of PDF analysis. Utilizing his expertise, DIFFRAC.EVA now includes the powerful PyTSRedX algorithms for generating experimental PDFs from raw diffraction data. Entry into PDF analysis has never been this simple: with just a few clicks, users can quickly and painlessly create high-quality PDFs. DIFFRAC.EVA automatically corrects for background and Compton scattering, absorption, polarization, and X-ray fluorescence, then normalizes and Fourier transforms the data, all within seconds!
Export the experimental PDF for further quantitative evaluation in DIFFRAC.TOPAS and explore new horizons in X-ray data evaluation of amorphous materials, nanoscopic structures, or local effects in disordered structures.
Effortlessly repeat previously recorded commands with the power of workflows. Record a sequence of EVA commands and replay them at any time. During the recording process, only applicable commands are enabled. The workflow runner control displays context-sensitive workflows, showing only those actions that start with a command relevant to the current selection. Instantly start a workflow using the convenient drop-down list in the toolbar. Modify command parameters within pre-recorded workflows using the edit button.
The benefits of workflows in DIFFRAC.EVA are:
Overall, the use of workflows in DIFFRAC.EVA provides users with improved efficiency, enhanced accuracy, reproducibility, and collaboration capabilities, resulting in a more streamlined and productive data analysis experience.
DIFFRAC.EVA brings significant advancements to pattern fitting capabilities, enhancing the accuracy and reliability of your analyses. Benefit from improved algorithms, faster performance, and more stable results.
With these enhancements, DIFFRAC.EVA empowers you to achieve more accurate and meaningful results, enabling advanced pattern fitting and comprehensive analysis of your X-ray data.
Expanded Data Accessibility and Management: Access raw data from PDF-4 databases using the well-known Search/Match functionality in EVA, effortlessly extracting original scan data for further evaluation.
Furthermore, leverage the capabilities of user databases by including your own measured patterns, enabling you to store reference measurements and other valuable data alongside your analysis results. Utilize these user databases as reference inputs for Cluster Analysis, Positive Materials Identification (PMI), or the powerful semi-quantitative pattern matching (SQUALL) feature. By combining User Databases and Pattern Matching, you can perform advanced analysis and comparison of your patterns, enhancing the accuracy and depth of your X-ray data evaluation. With improved data accessibility, comprehensive management options, and advanced pattern matching capabilities, DIFFRAC.EVA empowers you to streamline and elevate your X-ray data analysis process.
DIFFRAC.EVA est le logiciel de choix pour avoir une première impression d´une mesure. Une étape importante est la réduction des données d’une ou plusieurs images instantanées de détecteurs fixes ou le re-binning des pixels d’un détecteur 2D en données DRX 1-D conventionnelles. EVA fournit des outils reconnus pour une analyse plus approfondie de ces données 1D. Cela va du traitement de routine du signal à l’arithmétique des diffractogrammes et des techniques plus avancées pour regarder les pics individuels et les analyses complètes.
L’analyse de cluster dans EVA fournit une compréhension approfondie et des présentations intuitives de grands ensembles de données de DRX.
L’outil d’analyse typologique est une adaptation du logiciel bien connu Polysnap. Il aide à l’identification d’échantillons connus et inconnus, analyse les mélanges, les valeurs aberrantes et aide au contrôle qualité. Il est utilisé pour le criblage à haut débit mais aussi pour l’analyse des données non ambiantes.
DIFFRAC.EVA – Analyse de cluster, vue MMDS 3D
La mise à l’échelle multidimensionnelle métrique (« Metric Multi-Dimensional Scaling ») est un moyen de représenter graphiquement les données d’analyse typplogique en 3D. EVA offre également des diagrammes PCA et des graphiques jusqu´à 6 dimensions pour visualiser des informations supplémentaires.
Le lecteur multi-scan charge rapidement des centaines d’analyses et fournit une vue d’ensemble simple dans une représentation bidimensionnelle. Les valeurs aberrantes dans les mesures régulières de contrôle qualité sont facilement repérées et les scans spécifiques qui méritent un examen approfondi peuvent être extraits de cartographies du réseau réciproque ou d’une série de mesures non ambiantes ou inoperando.
Des informations supplémentaires telles que la position de l´échantillon, la température, l’humidité, les états de charge, ou même l’intensité d’un pic individuel ou la proportion d´amorphe peuvent être visualisées dans la vue latérale. Encore une fois, cela aide à trouver des candidats pour un examen approfondi des transformations de phase, la décomposition ou la formation de phases.
Une façon simple de contrôler la morphologie d´une l’échantillon (par example, la présence de taches indique une taille inégale des grains, de la texture ou de l’orientation préférentielle due alignement des cristallites dans le porteéchantillon) est obtenue en utilisant l’empreinte du faisceau et la haute résolution de la géométrie Bragg-Brentano combinés à la détection 1D asymétrique à l’aide des détecteurs de la famille LYNXEYE. DIFFRAC.EVA est utilisé pour visualiser ces données et pour sélectionner des analyses individuelles pour une inspection plus détaillée.
Depuis sa première version, le module Search/match d’EVA est généralement apprécié comme l’outil le plus fiable et le plus précis pour l’identification de phase. En conséquence, EVA a obtenu les meilleurs résultats dans un Round Robin international de search-match (Le Meins et al., 2002, www.cristal.org/smrr). Depuis lors, de nombreuses améliorations ont encore différencié EVA des logiciels conventionnels pour l’analyse de phase
Version |
La version actuelle du logiciel est DIFFRAC.EVA V7, DIFFRAC. Part 11 V8 | |
Compatibilité de la base de données |
Version 8.7 et compatibilité deux versions vers l’arrière pour l’accès en lecture-écriture |
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Conformité |
cGxP/21CFR Partie 11 |
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Système d'exploitation |
Windows 10 et 11, 64 bits |
Mise à jour d´entretien gratuite
La mise à jour gratuite de DIFFRAC.EVA renouvelle votre version d´EVA à la version la plus récente. Quel que soit votre niveau de licence EVA, vous pouvez toujours télécharger gratuitement la dernière mise à jour à partir de www.brukersupport.com!
Processus de téléchargement
Bugfixes
En gardant votre DIFFRAC. EVA à jour, vous bénéficierez de tous les corrections de bugs faites pour la version actuelle mais aussi pour toutes les versions précédemment publiées, quel que soit votre niveau de licence. Les mises à jour d´entretien de DIFFRAC.EVA sont cumulatives et peuvent donc être appliquées à n’importe quelle version précédente.
Qu’est-ce que les mises à niveau ?
Les mises à jour d´entretien de DIFFRAC.EVA ne comprennent pas les nouvelles fonctionnalités. Si vous souhaitez bénéficier des fonctionnalités introduites dans les nouvelles versions majeures, vous devez acheter la dernière version de DIFFRAC.EVA.