Diffraction des rayons X (DRX)

DIFFRAC.EVA

Logiciel d’analyse pour les données de DRX - 1D et 2D, comprenant la visualisation, la réduction des données, l’identification et la quantification des phases, l’évaluation statistique.

Évaluation générale des diffractogrammes

Données de routine et recherche de pointe

Le couteau suisse du diffractionniste

DIFFRAC.EVA fournit des outils pour l’analyse rapide des données de diffraction 1D et 2D. Il prend en charge tous les détecteurs Bruker et tous les types d’analyse XRD. La fonctionnalité d´EVA couvre un large spectre analytique allant de la réduction des données, l’évaluation de base et la présentation des données, l’analyse détaillée des pics, l’identification et la quantification des phases, à la détermination de la cristallinité et de la taille des cristallites.

Eva s’interface avec toutes les bases de données pertinentes pour l’identification des phases et peut en outre utiliser des structures cristallines et des informations complémentaires sur la composition chimique (par example, obtenues par fluorescence X) pour une analyse puissante et sélective.

De plus, DIFFRAC.EVA permet l’évaluation efficace des big data obtenues grâce aux détecteurs rapides d’aujourd’hui, l’utilisation d’environnements in situ, le criblage à haut débit ou les mesures résolues spatialement. Le logiciel fournit des types de graphiques spécifiques, mais aussi des outils de chimiométrie avancés pour l’analyse et la quantification des espèces cristallines et amorphes basées sur l’appariement des motifs (en lóccurrence les diffractogrammes).

Il prend entièrement en charge les tâches conventionnelles basées sur les fichiers, mais intègre également línfrastructure de base de données de DIFFRAC.SUITE pour le travail quotidien, même dans des environnements contrôlés comme l’exige la règlementation 21 CFR Partie 11 pour l’industrie pharmaceutique.

Enfin, DIFFRAC.EVA est utilisé pour la préparation de graphiques prêts à publier et des rapports spécifiques à l’utilisateur, soit directement dans EVA ou à l’aide du DIFFRAC. SUITE RESULTS-MANAGER et la base de données de l´instrument.

Introducing Enhanced Functionality - Discover the Power of EVA's New Features in Version 7

Generation of the Experimental Pair Distribution Function (PDF)

Effortless PDF generation: We are proud to present the results of a collaboration with Prof. Olivier Masson from the University of Limoges, an expert in the field of PDF analysis. Utilizing his expertise, DIFFRAC.EVA now includes the powerful PyTSRedX algorithms for generating experimental PDFs from raw diffraction data. Entry into PDF analysis has never been this simple: with just a few clicks, users can quickly and painlessly create high-quality PDFs. DIFFRAC.EVA automatically corrects for background and Compton scattering, absorption, polarization, and X-ray fluorescence, then normalizes and Fourier transforms the data, all within seconds!

Export the experimental PDF for further quantitative evaluation in DIFFRAC.TOPAS and explore new horizons in X-ray data evaluation of amorphous materials, nanoscopic structures, or local effects in disordered structures.

Reduced scattering function, F(Q) (top) and experimental PDF (bottom) of  C60. Data were collected with a D6 PHASER in capillary geometry, using Mo radiation.
User Workflow Recording

Effortlessly repeat previously recorded commands with the power of workflows. Record a sequence of EVA commands and replay them at any time. During the recording process, only applicable commands are enabled. The workflow runner control displays context-sensitive workflows, showing only those actions that start with a command relevant to the current selection. Instantly start a workflow using the convenient drop-down list in the toolbar. Modify command parameters within pre-recorded workflows using the edit button.

The benefits of workflows in DIFFRAC.EVA are:

  • Increased Efficiency: Workflows allow users to record and replay a sequence of commands, saving time and effort in executing repetitive tasks. By automating complex or frequently performed operations, workflows streamline the analysis process and enhance overall efficiency.
  • Consistency and Reproducibility: Workflows ensure consistency and reproducibility in data analysis by capturing the exact sequence of commands used during a specific analysis. This feature is particularly valuable when working on collaborative projects or when revisiting previous analyses.
  • Error Reduction: With workflows, there is a reduced risk of human error during data analysis. Since recorded workflows execute predefined commands accurately, the likelihood of mistakes or omissions is minimized, leading to more reliable and trustworthy results.
  • Simplified Operation: Workflows simplify the execution of complex analysis procedures by breaking them down into a series of manageable steps. Users can execute the entire workflow with a single click, eliminating the need to remember and execute multiple commands manually.
  • Flexibility and Customization: Workflows offer flexibility and customization options to suit individual analysis requirements. Users can modify and fine-tune recorded workflows by adjusting parameters, allowing for adaptability and tailoring to specific analysis needs.
  • Streamlined Collaboration: Workflows facilitate collaboration among researchers by providing a standardized approach to data analysis. Recorded workflows can be easily shared with team members, ensuring consistency across multiple users and enabling seamless collaboration on projects.

Overall, the use of workflows in DIFFRAC.EVA provides users with improved efficiency, enhanced accuracy, reproducibility, and collaboration capabilities, resulting in a more streamlined and productive data analysis experience.

Example of a workflow as shown in the Runner window.
Improved Pattern Fitting

DIFFRAC.EVA brings significant advancements to pattern fitting capabilities, enhancing the accuracy and reliability of your analyses. Benefit from improved algorithms, faster performance, and more stable results.

  • Refinement of Lattice Parameters: Achieve higher precision and accuracy in our new lattice parameter refinement with the addition of offset and sample height corrections.
  • Preferred Orientation and Intensity Fitting: Explore advanced features such as the March-Dollase model and spherical harmonics up to the 6th degree for preferred orientation corrections. Conduct peak height fits without constraints using a Pawley-like approach. The replacement of pseudo-Voigt peaks with Voigt peak-shape function and Pearson VII further enhances profile fitting, resulting in better micro-structure evaluations.
  • Improved Emission Profile: Enhance the clarity and assign minor signals accurately within the total fit by including spectral impurities such as K-beta and tungsten lines in the K-alpha spectrum. This feature improves the unambiguous identification of signals and provides a more comprehensive analysis of your X-ray data.
  • Quantitative Analysis and Amorphous Phases: Perform semi-quantitative analysis using options like the Reference Intensity Ratio (RIR) for the highest peak or all fitted peaks. Add one or more amorphous "phases" easily using the dedicated buttons in the "Amorphous Phases" tab.

With these enhancements, DIFFRAC.EVA empowers you to achieve more accurate and meaningful results, enabling advanced pattern fitting and comprehensive analysis of your X-ray data.

Semi-quantitative phase analysis of a Quartz and Quartz-glass mixture with Corundum as internal standard.
New Measured Pattern Functions

Expanded Data Accessibility and Management: Access raw data from PDF-4 databases using the well-known Search/Match functionality in EVA, effortlessly extracting original scan data for further evaluation.

Furthermore, leverage the capabilities of user databases by including your own measured patterns, enabling you to store reference measurements and other valuable data alongside your analysis results. Utilize these user databases as reference inputs for Cluster Analysis, Positive Materials Identification (PMI), or the powerful semi-quantitative pattern matching (SQUALL) feature. By combining User Databases and Pattern Matching, you can perform advanced analysis and comparison of your patterns, enhancing the accuracy and depth of your X-ray data evaluation. With improved data accessibility, comprehensive management options, and advanced pattern matching capabilities, DIFFRAC.EVA empowers you to streamline and elevate your X-ray data analysis process.

DIFFRAC.EVA Key Features at a Glance

Réduction des données, visualisation et manipulation

DIFFRAC.EVA est le logiciel de choix pour avoir une première impression d´une mesure. Une étape importante est la réduction des données d’une ou plusieurs images instantanées de détecteurs fixes ou le re-binning des pixels d’un détecteur 2D en données DRX 1-D conventionnelles. EVA fournit des outils reconnus pour une analyse plus approfondie de ces données 1D. Cela va du traitement de routine du signal à l’arithmétique des diffractogrammes et des techniques plus avancées pour regarder les pics individuels et les analyses complètes.

Visualisation des Big Data et extraction de particularités

L’analyse de cluster dans EVA fournit une compréhension approfondie et des présentations intuitives de grands ensembles de données de DRX.

L’outil d’analyse typologique est une adaptation du logiciel bien connu Polysnap. Il aide à l’identification d’échantillons connus et inconnus, analyse les mélanges, les valeurs aberrantes et aide au contrôle qualité. Il est utilisé pour le criblage à haut débit mais aussi pour l’analyse des données non ambiantes.

DIFFRAC.EVA – Analyse de cluster, vue MMDS 3D
La mise à l’échelle multidimensionnelle métrique (« Metric Multi-Dimensional Scaling ») est un moyen de représenter graphiquement les données d’analyse typplogique en 3D. EVA offre également des diagrammes PCA et des graphiques jusqu´à 6 dimensions pour visualiser des informations supplémentaires.

Grands jeux de données et informations supplémentaires

Le lecteur multi-scan charge rapidement des centaines d’analyses et fournit une vue d’ensemble simple dans une représentation bidimensionnelle. Les valeurs aberrantes dans les mesures régulières de contrôle qualité sont facilement repérées et les scans spécifiques qui méritent un examen approfondi peuvent être extraits de cartographies du réseau réciproque ou d’une série de mesures non ambiantes ou inoperando.

Des informations supplémentaires telles que la position de l´échantillon, la température, l’humidité, les états de charge, ou même l’intensité d’un pic individuel ou la proportion d´amorphe peuvent être visualisées dans la vue latérale. Encore une fois, cela aide à trouver des candidats pour un examen approfondi des transformations de phase, la décomposition ou la formation de phases.

BRAGG2D

Une façon simple de contrôler la morphologie d´une l’échantillon (par example, la présence de taches indique une taille inégale des grains, de la texture ou de l’orientation préférentielle due alignement des cristallites dans le porteéchantillon) est obtenue en utilisant l’empreinte du faisceau et la haute résolution de la géométrie Bragg-Brentano combinés à la détection 1D asymétrique à l’aide des détecteurs de la famille LYNXEYE. DIFFRAC.EVA est utilisé pour visualiser ces données et pour sélectionner des analyses individuelles pour une inspection plus détaillée.

Analyse de phase

Depuis sa première version, le module Search/match d’EVA est généralement apprécié comme l’outil le plus fiable et le plus précis pour l’identification de phase. En conséquence, EVA a obtenu les meilleurs résultats dans un Round Robin international de search-match (Le Meins et al., 2002, www.cristal.org/smrr). Depuis lors, de nombreuses améliorations ont encore différencié EVA des logiciels conventionnels pour l’analyse de phase

  • Recherche résiduelle très sophistiquée par rapport aux phases déjà identifiées, améliorant ainsi considérablement l’analyse des phases mineures
  • Prise en charge des données collectées en mode VCT (Variable Counting Time) ou selon le concept « Dynamic Beam Optimzation » pour une analyse traces très précise grâce à une diminution significative des limites de détection (LLoD)
  • Recherche simultanée dans plusieurs bases de données de référence, telles que les bases de données ICDD PDF2/PDF4+/PDF4 Minerals/PDF4 Organics
  • Regroupement des candidats pour gérer le nombre sans cesse croissant d’entrées de base de données de référence similaires ou presque identiques
  • Identification de phase et analyse quantitative précise des phases basées sur les valeurs du RIR (ratios d’intensité de référence)

Avantages d´DIFFRAC.EVA

  • Collection complète des meilleurs algorithmes pour l’intégration et l’évaluation des données
  • Design innovant et concept d’utilisation novateur pour un maximum de simplicité et de flexibilité.
  • Il tire pleinement avantage des ordinateurs modernes et des systèmes d’exploitation comme le multi-threading, la parallélisation dédiée, le support natif 64 bits
  • Aperçu en temps réel de toutes les évaluations pour validation visuelle
  • Annuler une action ? Aucun problème ! EVA permet de défaire et refaire
  • L´interface graphique flexible s’adapte au matériel utilisateur disponible, aux meilleures pratiques de fonctionnement et aux exigences des différents modules logiciels
  • Personnalisation aux préférences utilisateur pour la disposition des fenêtres, les configurations de colonne, les paramètres d’affichage etc.
  • Niveau élevé d’intégration avec le logiciel DIFFRAC.SUITE et son Results Manager
  • Un vaste didacticiel étape par étape rend EVA facile à utiliser dès le début.

Quel est votre défi analytique ?

Suivi des pics et des phases

L’analyse de l´aire ou du profil des pics individuels est utilisée pour le contrôle qualité, pour la surveillance de la formation ou de la transformation d’espèces cristallines, ou pour la détermination automatique du rapport pic/fond ou signal/bruit

Détermination de la cristallinité

Le pourcentage de cristallinité (ou le rapport entre les espèces cristallines et les non- ou nano-cristallines dans un matériau) est obtenue par l´évaluation minutieuse de la séparation de la ligne base et des pics de diffraction dans une plage angulaire étendue

Détermination de la taille des cristallites

La largeur des pics est inversement proportionnelle à la taille des cristallites. L’équation de Scherrer quantifie cette relation. La taille de cristallite dans DIFFRAC. EVA est obtenue à partir de l´intégration de l´aire d´un pic ou de l´affinement de son profil

Identification de phase

DIFFRAC.EVA fournit des outils pour faire correspondre efficacement les mesures XRD avec les bases de données de référence. Cela permet d’identifier rapidement et même automatiquement les espèces dans les mélanges sur les plus de 440.000 inorganiques et les plus de 550.000 composés cristallins organiques connus

Analyse quantitative

L’analyse semi-quantitative basée sur les rapports d’intensité de référence compilés est utilisée pour quantifier rapidement les mélanges à partir des modèles classiques des bâtons ou l´affinement du profil complet. L’utilisation d’une étalon interne permet également la détermination du pourcentage massique d´amorphe dans un mélange

Paramètres cristallographiques

Les paramètres cristallographiques propres à chaque matériau cristallin peuvent être optimisés avec DIFFRAC.EVA, tout en tenant compte des aberrations de l’instrument et de l’échantillon

Analyse de cluster

L’analyse et la visualisation hiérarchiques de similitude dans des représentations comprenant jusqu’à 6 dimensions, le tri, la détermination d´amorphe automatique et l’analyse des mélanges, poser des questions comme : connaissez-vous ce matériau ? à quel matériau connu est-il similaire ?, quels sont les représentants typiques des groupes de matériaux ?

Correspondance d’analyse

L’identification et la quantification de matériaux inconnus des bases de données sont possibles grâce à l’analyses de corrélation et des diffractogrammes de référence. Cela s’applique non seulement aux phases pures, mais permet également l’identification de matériaux qui sont eux-mêmes des mélanges de phases bien définis

Rocking curves

Les rocking curves, obtenues à partir de données de détecteurs 2D mesurées pour différentes orientations d’un échantillon, peuvent être utilisées pour une vérification rapide de la qualité des monocristaux ou des films minces

Spécifications de DIFFRAC.EVA

Version

La version actuelle du logiciel est DIFFRAC.EVA V7, DIFFRAC. Part 11 V8  

Compatibilité de la base de données

Version 8.7 et compatibilité deux versions vers l’arrière pour l’accès en lecture-écriture

 

Conformité

cGxP/21CFR Partie 11

 

Système d'exploitation

Windows 10 et 11, 64 bits  

Gardez votre DIFFRAC.EVA à jour

Mise à jour d´entretien gratuite

La mise à jour gratuite de DIFFRAC.EVA renouvelle votre version d´EVA à la version la plus récente. Quel que soit votre niveau de licence EVA, vous pouvez toujours télécharger gratuitement la dernière mise à jour à partir de www.brukersupport.com!

Processus de téléchargement

  • Inscrivez-vous sur Bruker Customer Support
  • Cliquez sur le bouton « Software »
  • Recherchez la mise à jour de DIFFRAC.EVA
  • Téléchargez la

Bugfixes

En gardant votre DIFFRAC. EVA à jour, vous bénéficierez de tous les corrections de bugs faites pour la version actuelle mais aussi pour toutes les versions précédemment publiées, quel que soit votre niveau de licence. Les mises à jour d´entretien de DIFFRAC.EVA sont cumulatives et peuvent donc être appliquées à n’importe quelle version précédente.

Qu’est-ce que les mises à niveau ?

Les mises à jour d´entretien de DIFFRAC.EVA ne comprennent pas les nouvelles fonctionnalités. Si vous souhaitez bénéficier des fonctionnalités introduites dans les nouvelles versions majeures, vous devez acheter la dernière version de DIFFRAC.EVA.

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