普通数据分析
常规数据和前沿研究
DIFFRAC.EVA软件可快速分析一维和二维衍射数据。它适合布鲁克所有种类的探测器和XRD扫描类型的数据。EVA的功能包括数据扣除、基本的数据分析和报告、详细的衍射峰分析、物相的定性和定量,以及结晶度和晶粒大小的计算。
EVA可与所有相关的数据库相结合进行物相定性分析,此外还可利用晶体结构和基于XRF的化学分析得到的可靠的化学成分补充信息。
而且,DIFFRAC.EVA还支持对来自如今的快速探测器的大数据进行高效的评估,支持利用原位环境,支持高通量筛选或空间分辨测量。该软件不仅提供特定的图表类型,还提供先进的化学计量工具,以便通过聚类分析和模式匹配进行结晶和非晶形态鉴别和定量。
它不仅完全支持常规的基于文件的分析任务,还能结合DIFFRAC.SUITE数据库执行日常分析任务,甚至能在CFR第21章第11部分的法规所要求的、针对医药行业的受控环境中使用。最后,DIFFRAC.EVA可以直接在EVA中,或者利用DIFFRAC.SUITE结果管理器及仪器数据库,编制可以发表的图形及用户自定义的报告。
轻松生成 PDF: 我们很荣幸地介绍与 PDF 分析领域专家、来自利摩日大学的 Olivier Masson 教授的合作成果。利用他的专业知识,DIFFRAC.EVA 现在包含了强大的 PyTSRedX 算法,用于从原始衍射数据生成实验 PDF。 PDF 分析从未如此简单:只需点击几下,用户就能快速、轻松地创建高质量的 PDF。DIFFRAC.EVA 可自动校正背景和康普顿散射、吸收、极化和 X 射线荧光,然后对数据进行归一化和傅里叶变换,所有这些操作只需几秒钟!
导出实验PDF,以便在DIFFRAC. TOPAS软件中进行进一步的定量评估。并在非晶材料、纳米结构或有序结构中的局部效应的X射线数据评价中探索新的发现。
使用工作流可以毫不费力地重复以前记录的命令。记录一系列的EVA命令,并在任何时候重新播放。在录制过程中,只用启用相应的命令。工作流运行器控件显示内容敏感的工作流,仅显示那些与当前选择相关的命令开始的操作。使用工具栏中方便的下拉列表立即启动工作流。使用编辑按钮修改预先录制工作流中的命令参数。
工作流在DIFFRAC. EVA中的好处:
提高效率:工作流允许用户记录和重播一系列命令,节省执行重复任务的时间和精力。通过自动化复杂或频繁执行的操作,工作流简化了分析过程并提高了整体效率。
一致性和可重复性:工作流通过捕获特定分析期间使用的命令的精确序列来确保数据分析的一致性和可重复性。当处理协作项目或重访以前的分析时,此特性特别有价值。
减少错误:使用工作流,可以减少数据分析过程中人为错误的风险。由于记录的工作流准确地执行预定义的命令,错误或遗漏的可能性被最小化,从而导致更可靠和值得信赖的结果。
简化操作:工作流通过将复杂的分析过程分解为一系列可管理的步骤来简化它们的执行。用户只需单击一下即可执行整个工作流,无需手动记住和执行多个命令。
灵活性和自定义:工作流提供灵活性和自定义选项,以适应个人分析需求。用户可以通过修改和微调参数、允许适应性和剪切特定的分析需求,来调整记录的工作流。
简化的协作:工作流通过提供标准化的数据分析方法来促进研究人员之间的协作。记录的工作流可以很容易地与团队成员共享,确保跨多个用户的一致性,并支持项目上的无缝协作。
总的来说,使用DIFFRAC. EVA中的工作流为用户提供了更高的效率、更高的准确性、再现性和协作能力,从而带来更精简、更高效的数据分析体验。
DIFFRAC. EVA为图谱拟合能力带来了显著的进步,提高了分析的准确性和可靠性。受益于改进的算法,可以获得更快的性能和更稳定的结果。
晶格常数的精修:在我们新的晶格常数精修中,通过增加偏移量和样本高度校正,实现更高的精度和准确性。
择优取向和强度拟合:探索先进的功能,如March-Dollase模型和球谐函数,可实现高达6级的择优取向校正。使用Pawley方法进行无约束的峰高度拟合。用pseudo-Voigt峰形函数和Pearson VII函数代替pseudo-Voigt函数,进一步提高了图谱拟合效果,从而得到更好的微观结构分析。
改进的光源轮廓:通过在图谱中引入包含kβ和钨的kα线等信号,提高了总拟合的清晰度,并准确分配微弱信号。该功能提高了信号的明确识别,并提供了更全面的X射线数据分析。
定量分析和非晶相:使用参考强度比(RIR)等选项对最强峰或所有拟合峰进行半定量分析。在“无定形相”标签中使用专用按钮很容易添加一个或多个无定形“相”。
有了这些增强功能,DIFFRAC. EVA使您能够获得更准确和有意义的结果,实现高级图谱拟合和全面分析您的X射线数据。
扩展的数据可访问性和管理:使用EVA中众所周知的搜索/匹配功能从PDF-4数据库访问原始数据,毫不费力地提取原始扫描数据以进行进一步评估。
此外,通过利用用户数据库(包含您自己的测量的图谱),使您能够将参考测量值和其他有价值的数据与分析结果一起存储。利用这些用户数据库作为聚类分析、阳性材料识别(PMI)或强大的半定量图谱匹配(SQUALL)功能的参考输入。通过结合用户数据库和图谱匹配,您可以对图谱进行高级分析和比较,提高X射线数据分析的准确性和深度。通过改进的数据可访问性、全面的管理选项和先进的图谱匹配功能,DIFFRAC. EVA使您能够简化和提升您的X射线数据分析过程。
EVA是用于初步了解测量情况的首选软件。精简由稳定的探测器抓拍到的一张或多张图片中的数据,或者将来自二维扫描探测器的像素重新转化为常规的一维XRD数据,是个非常重要的步骤。EVA可为进一步分析这些一维数据提供完善的工具。它们既包括常规信号处理和扫描运算,也包括着眼于单个峰值和完整扫描的更先进技术。
EVA中的聚类分析可供更深入地了解和直观地显示大型X射线数据集。
聚类分析工具改编自著名的Polysnap软件。它能帮助识别已知和未知样品,分析混合物和异常值,并帮助进行质量控制。它既能用于高通量筛选,也能用于分析非环境条件下的数据。
DIFFRAC.EVA – 聚类分析,三维MMDS视图
计量多维尺度法是一种在三维图形中表示聚类分析的方法。EVA还提供PCA图和最多达到六个维度的图表,用于实现更多信息的可视化。
多扫描读取器可快速载入数百个扫描,并以二维的形式简单地概括这些扫描数据。这样很容易发现常规质量控制测量中的异常值,并能从倒易空间图或一系列变温条件下或运行中的测量中提取出值得详细研究的特定扫描。
补充扫描信息——如测量位置、温度、湿度、电荷态,甚至单个峰的强度或非晶态背景的数量等——可以显示在侧视图中。同样,这些信息也有助于找出能用于进一步研究相转变、相分解或形成的扫描。
利用Bragg-Brentano几何的大光束足迹和高分辨率,结合利用LYNXEYE探测器系列进行的非对称一维检测方式,可以以简单的方法监测样品形态(比如,因为晶粒粒度和结构不均匀、或由于晶粒在样品台上的排列而形成的择优取向等原因形成的斑点缺陷)。DIFFRAC.EVA可用于使这些数据可视化,并选择单个需要进一步详细研究的扫描。
自首次发布以来,EVA的检索/匹配模块通常被认为是最可靠和最准确的物相识别工具。并且,EVA在一次国际检索/匹配循环赛中取得了最佳成绩(Le Meins et al., 2002, www.cristal.org/smrr)。自此以后,EVA又经历了许多次改进,这使其比常规的物相分析软件更加优异)。
版本 |
最新软件版本为DIFFRAC.EVA V7、DIFFRAC.Part 11 V8 | |
数据库兼容性 |
第8.7版和两个向后兼容的版本,允许读/写访问 |
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合规 |
cGxP/21CFR Part 11 |
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操作系统 |
Windows 10和11, 64位 |
免费维护更新
通过免费的DIFFRAC.EVA维护更新,您的EVA版本可被更新到最新版。无论您的EVA许可级别是什么,您都能通过www.brukersupport.com免费下载最新的维护更新。
下载步骤
漏洞修复
通过让您的DIFFRAC.EVA保持最新版本,无论许可级别是什么,您都有权使用所有补丁对当前的版本及所有以前发布的版本进行修复。DIFFRAC.EVA维护更新是累积性的,因而可以用于任何以前的版本。
何为升级?
DIFFRAC.EVA维护更新没有附带新功能。如果您想使用在新版本中引入的功能,则需要购买最新的DIFFRAC.EVA升级服务。