D8 DISCOVER Plus
XRD além das expectativas
O D8 DISCOVER Plus é o difratômetro de raios X mais poderoso e versátil do mercado.
Core é o goniômetro ATLAS de alta precisão que hospeda a fonte de raios X Turbo de alta eficiência (TXS-HE) e o braço não coplanar líder de mercado.
Ele é projetado para a caracterização estrutural de toda a gama de materiais, desde pós, materiais amorfos e policristalinos até filmes finos multicamadas epitaxiais em condições ambientais e não ambientais.
Aplicações:
- Identificação e quantificação de fase, determinação e refinamento de estrutura, análise de micro tensão e tamanho de cristalito,
- Reflectometria de Raios-X, Difração de Incidência de Grazing (GID), Difração no Plano, XRD de alta resolução, GISAXS, análise GI-Stress, análise de orientação de cristal
- Análise de tensão residual, figuras de textura e pólos, microdifração de raios-X, espalhamento de raios-X de grande angular (WAXS),
- Análise de espalhamento total: Difração de Bragg, Função de Distribuição de Pares (PDF), Espalhamento de Raios-X de Pequeno Ângulo (SAXS)
Galeria de Mercado
Automotivo e Aeroespacial
Semicondutores e Microeletrônica
Triagem na Indústria Farmacêutica
Armazenamento de Energia / Baterias
Produtos Farmacêuticos
Geologia
Metais
Filmes Finos na Academia e na Indústria
Características Principais
Non-Coplanar Arm
O D8 DISCOVER Plus pode ser equipado com o braço não coplanar para realizar medições de difração no plano com desempenho incomparável.
- Faixa de 2θ acessível de até 160° para precisão incomparável na determinação do espaçamento d.
- Precisão incomparável com codificador angular direto.
- Componentes dedicados do caminho do feixe aumentam as intensidades medidas para obter sinais mesmo de filmes policristalinos ultrafinos.
- Integração perfeita no software DIFFRAC.SUITE e no DIFFRAC.DAVINCI para eficiência maximizada.
Goniômetro ATLAS™
Na difração de raios X, a base para uma análise precisa da amostra é o goniômetro e a orientação precisa dos componentes montados, principalmente durante a medição. O goniômetro ATLAS atende exatamente a esses requisitos por design e define a referência para precisão angular e espacial:
- Goniômetro robusto e livre de manutenção
- Motores de passo de alta precisão com codificadores ópticos de alta resolução
- Interfaces precisas e monitoradas por software para montagem de componentes
O D8 DISCOVER Plus equipado com o goniômetro ATLAS vem com uma garantia de alinhamento genérica Bruker AXS: o desvio angular ∆2Theta das posições de pico medidas e certificadas 2Theta é ≤0,007°. Isso é verificado medindo o padrão SRM1976 certificado pelo NIST com cada instrumento individual.
Fonte de raios X TXS-HE
Quer a medida chave de uma ferramenta analítica de raios X seja a qualidade dos dados, definida como sinal-ruído ou sinal-fundo, ou a taxa de transferência da amostra, uma constante é que um sinal a mais é sempre uma vantagem.
A fonte de raios X Turbo de alta eficiência (TXS-HE) foi projetada para aumentar o sinal enquanto minimiza a manutenção associada à tecnologia de ânodo rotativo.
- Até 5 vezes a intensidade de um tubo selado industrial
- Configuração de foco de linha com brilho de ponto focal insuperável de 6 kW/mm2
- Acoplamento ideal com óptica para máxima intensidade
- Comprimento do caminho do feixe reduzido para minimizar a dispersão do ar
ATLAS™ goniometer
Compact UMC Plus 150
PATHFINDER Plus optics
EIGER2 R 500K
MONTEL Plus with dedicated optics
Além da Difração de Classe Premium
Análise de Filme Fino
Difração Coplanar
Em um experimento coplanar, a fonte e o detector aumentam seu ângulo em relação à superfície da amostra, resultando em uma direção de sondagem na superfície da amostra.
- Difração de Incidência de Grazing (GID) para identificação sensível à superfície de fases cristalinas e determinação de suas propriedades estruturais, incluindo tamanho e deformação do cristalito.
- Reflectometria de raios-X (XRR) para a extração de espessuras, densidades de materiais e estruturas de interface em amostras multicamadas – de substratos simples a estruturas super-reticuladas altamente complexas.
- Espalhamento de raios-X de pequeno ângulo de incidência de pastoreio (GISAXS)
Difração Não Coplanar
Em um experimento não coplanar, o ângulo da fonte e do detector em relação à superfície da amostra é fixo, com o detector se movendo em uma direção paralela à superfície da amostra, resultando em uma direção de sondagem ao longo da superfície da amostra.
- A Difração de Incidência de Grazing no Plano (IPGID) reduz a profundidade de penetração para nm, permitindo o isolamento da superfície e aumentando a sensibilidade a camadas com espessuras atômicas.
- O IPGID policristalino permite a determinação do tamanho do cristalito no plano
- O IPGID epitaxial permite a determinação direta de parâmetros de rede no plano e orientação no plano.
Pesquisa de Materiais
O goniômetro ATLAS aumenta a precisão do posicionamento angular e do espaço real das análises, permitindo medições em grande escala de áreas em miniatura da amostra. Uma nova classe de difratômetros é realizada combinando a divergência simétrica IµS com MONTELPlus e a família de detectores multimodo EIGER2 R, resultando em qualidade de feixe e capacidade de detecção semelhantes às encontradas em linhas de luz.
- Difração de incidência de pastejo (GID) para identificação sensível à superfície de fases cristalinas e determinação de suas propriedades estruturais como tamanho e deformação do cristalito.
- Reflectometria de raios-X (XRR) para a extração de espessuras, densidades de materiais e estruturas de interface em amostras multicamadas – de substratos simples a estruturas super-reticuladas altamente complexas.
- Difração de raios-X de alta resolução (HRXRD) para a análise de estruturas de amostras crescidas epitaxial: Espessura de camada, tensão, relaxação, mosaicidade, análise de composição de cristais mistos.
- Análise de tensão e textura (orientação preferencial)
- Espalhamento de raios-X de grande angular (WAXS)
Difração de Pó
A Difração de Pó (XRPD) cobre uma ampla gama de aplicações em amostras com baixo grau de orientação. O D8 DISCOVER Plus leva o XRPD a um novo nível de precisão com o goniômetro ATLAS. Ao melhorar a precisão além do goniômetro D8 líder do setor, a análise XRPD no D8 DISCOVER Plus permite que os pesquisadores descubram pequenos detalhes estruturais não observados anteriormente. Equipar o D8 DISCOVER Plus com o TXS-HE permite a aquisição de dados XRPD mais de 5x mais rápido do que um sistema de tubo convencional.
Combinado com o poderoso software DIFFRAC.SUITE, o D8 DISCOVER Plus permite a execução simples de aplicativos PXRD como:
- Identificação de Fase
- Quantificação de Fase
- Solução de estrutura
- Análise de função de distribuição de pares (PDF)
- Espalhamento de Raios-X de Pequeno Ângulo (SAXS)
Galeria de Aplicação
Análise de Tensão Residual
µXRD with 2D detector
In-Plane Diffraction
Reciprocal Space Mapping
Especificações D8 DISCOVER Plus
| Specification | Benefit | |
| TWIST-TUBE | Easy switch between point and line focus Available anodes: Cr, Cu, Mo, Ag Max. Power and filament: up to 3 kW (0,4 x 16 mm²), depending on anode material Patent: EP 1 923 900 B1 |
Quick change of the wavelength to perfectly match different applications Fastest switch between line and point focus for a wider range of applications and better results in shorter time |
| Iµs Microfocus Source | Power load: up to 50 W, single-phase power MONTEL and MONTEL Plus optics combining parallel and focusing mirrors. Beam sizes down to 180 x 180 µm². Maximum integrated flux 8 x 10⁸ cps at mirror exit. Beam divergence down to 0,5 mrad |
Millimeter sized beam with high brilliance and ultra-low background Green design with low power consumption, no water consumption and extended life components Optimize the beam shape and divergence for best results |
| TXS-HE X-Ray Source | Compact and light design for vertical ATLAS goniometer Line focus, 0.3x3 mm² Focal Brigthness of 6 kW/mm² Anode materials: Cu, Co, Cr, Mo Max. voltage 50 kV, max. power depending on anode material: Cr 3.2 kW, Cu/Mo 5.4 kW, Co 2,8 kW Pre-Aligned Tungsten filament |
High flux X-ray source that allows for horizontal sample mounting. Up to 5 times more intensity compared to standard ceramic X-ray sources. Perfectly suited for line and spot focus applications Pre-Aligned filament allow fast filament exchange with a minimum of re-alignment requirement. |
| TRIO Optics | Software push-button switch between: Motorized Divergence Slit (Bragg-Brentano) High Intensity Ka1,2 Parallel Beam High Resolution Ka1 Parallel Beam Patents: US10429326, US6665372, US7983389 |
Fully automatic, motorized switching between up to 6 different beam geometries without any manual user intervention Perfectly suited for all sample types including powders, bulk materials, fibers, sheets and thin-films (amorphous, polycrystalline and epitaxial) |
| High-Resolution Monochromators | Ge(220) and Ge(004) reflections in symmetric and asymmetric geometry 2-bounce and 4-bounce (Bartels type) monochromators Alignment-free mounting through SNAP.LOCK technology |
Broad choice for best resolution vs. intensity balancing to obtain best possible results. Fast exchange of monochromators to optimize to different samples |
| ATLAS™ Goniometer | Vertical goniometer with enforced mechanics designed to host TXS-HE X-ray source Industry leading angular accuracy : ±0.007° 2θ guaranteed over the entire angular range determined on NIST SRM 1976 Seamless integration of D8 family of components, including optics, positioning cameras, sample stage, nonambient and detector technologies |
Unparalleled accuracy and precision as manifested by Bruker's unique alignment guarantee Absolutely maintenance free drive mechanism / gearings with lifetime lubrication Supports the full range of applications to generate highest accuracy data |
| Non-Coplanar Arm | Third goniometer axis for investigating ultra-thin layers and in-plane sample properties: Min. step size: 0.001° Max. 2θ range (depending on the configuration): 160° Automated detector distance detection
|
Unmatched accuracy with direct angular encoder Seamless integration in DIFFRAC.SUITE software Up to 160° 2θ range for most accurate Non-Coplanar structure determination Real-time calibration for EIGER2 detector |
| Compact UMC Stages | Compact UMC Plus 80: Fast spinner for XRPD Max. (x,y) translation: +/- 40 mm Max. sample height: 57 mm
Compact UMC Plus 150: Max. (x,y) translation: +/- 75 mm Max. sample height: 57 mm Vacuum and electric feedthroughs for wafer chuck and tilt stages |
Seamless switching between Thin Film research and Powder diffraction mode 5 position sample changer for 51 mm sample diameter 9 position sample changer for 32 mm sample diameter Mapping of 2-4” wafers
Mapping of 6-8” wafers Reflection mode 96 well plate capability Allows for infinite Phi rotation with connected Tilt-stage and vacuum without a need to care for cables or vacuum pipe. |
| Centric Eulerian Cradle (CEC) | Five degrees of freedom sample stage: x,y for sample translation of +/-40 mm z-Drive for height alignment Phi drive with 360° rotation freedom. Psi drive and angular range from -11° to 98° Max. weight load: 1 kg Various stage attachment available. |
Stress and Texture measurements in side-inclination mode for more accurate results. Automated mapping capability in (x,y). Motorized tilt-stage for precise surface alignment. Powder- or capillary spinners allow for powder diffraction. Bayonet sample stage holder for fast and reproducible swapping with other stages. |
| Pathfinder Plus Optics | Software push-button switch between: Motorized Slit 2-bounce Ge Analyzer Automated absorber integrated |
Fully automatic, motorized switching between two different optics without any manual user intervention. Maintains full field of view of LYNXEYE detectors. Absorber ensures linearity in measured data |
| LYNXEYE XE-T | Energy Resolution: < 380 eV @ 8 KeV Detection Modes: 0D,1D, 2D Wavelengths: Cr, Co, Cu, Mo and Ag Patents: EP1647840, EP1510811, US20200033275 |
No need for Kß filters and secondary monochromators 100% filtering of Fe-fluorescense with Cu radiation Up to 450 times faster than conventional detector systems Bragg2D: Collect 2D data with a divergent primary line beam Unique detector warranty: No defective channels at delivery time |
| EIGER2 | The latest generation multi-mode (0D/1D/2D) detector based on the Hybrid Photon Counting technology, developed by Dectris Ltd. | Seamless integration of 0D, 1D and 2D detection in step, continuous and advanced scanning modes Ergonomic, alignment-free detector rotation to optimize γ or 2Θ angular coverage Panoramic, tool-free diffracted beam optics using the complete detector field of view Continuously variable detector positioning to balance angular coverage and resolution |
| Non-ambient | Temperature: Ranging from ~12 K up to ~2500 K Pressure: 10-⁴ mbar up to 100 bar Humidity: 5% to 95% RH |
Investigations under ambient and non-ambient conditions Easily exchanged stages with DIFFRAC.DAVINCI |
Componentes XRD
As soluções Bruker XRD consistem em componentes de alto desempenho configurados para atender aos requisitos analíticos. O design modular é a chave para configurar a melhor instrumentação.
Todas as categorias de componentes fazem parte da competência chave da Bruker, desenvolvida e fabricada pela Bruker AXS, ou em estreita cooperação com fornecedores terceirizados.
Os componentes Bruker XRD estão disponíveis para atualizar os sistemas de raios X instalados para melhorar seu desempenho.
Webinars
Recursos D8 DISCOVER Plus
Brochures & Product Sheets & Flyers
- D8 DISCOVER XRD Solutions for Industry and Research
- Vertical Goniometers for D8 DISCOVER: Setting a Strong Foundation
- Sample Stages for the D8 DISCOVER - Versatile Sample Handling
- D8 DISCOVER Plus - ATLAS™ Goniometer and High Efficiency Turbo X-Ray Source
- Universal Motion Concept and Eulerian Cradles for Controlled Sample Positioning
Application Reports & Webinars
- Characterization of ultra-thin metallic films using incidence diffraction geometries
- D8 DISCOVER Plus, PDF Analysis on Titanium Dioxide Nanoparticles
- D8 DISCOVER Plus, Lower Limits of Detection (LOD) and Quantification (LOQ) for Respirable Silica
- D8 DISCOVER Plus, X-Ray Reflectometry on Thin Films and Superlattices
- D8 DISCOVER Plus, Rapid Reciprocal Space Mapping on Thin Films
- D8 DISCOVER Plus, High-Resolution Powder Diffraction for Lattice-Distortion and Micro-Structure Analysis
- D8 DISCOVER Plus: Uncompromised Power, Unmatched Accuracy, Unparalleled Efficiency
- Analysis of monolayers and ultra thin WS2 films using Grazing Incidence XRD
Serviço e Suporte
- Helpdesk para problemas técnicos com suporte de hardware, software e aplicativos usando ferramentas avançadas de serviço remoto baseadas na Web.
- Contratos de serviço de manutenção do LabScape
- Suporte sob demanda no local
- Instalação e qualificação operacional, bem como verificação de desempenho
- Planeamento, realocação e consultoria do local
- Substituição e peças sobressalentes, consumíveis, e treinamento presencial e online
- Atualizações de software, manuais e gerenciamento do LabScape MSA (brukersupport.com)