La réflectométrie des rayons X (XRR) fournit des informations détaillées sur le profil vertical de densité de l’échantillon, les épaisseurs de couche et la rugosité interfaciale. La diffraction des rayons X haute résolution (HRXRD) mesure la structure cristallographique de l’échantillon. La diffusion aux petits angles en incidence rasante (GISAXS) est utilisée pour l’évaluation des nanoparticules et de la porosité. L’analyse de la contrainte résiduelle sonde l’état de contrainte de massifs et de revêtements polycristallins.
En plus des diffractogrammes classiques, LEPTOS permet l’analyse des cartographies du réseau réciproques, des données HRXRD et XRR, des images 2D de mesures GISAXS et XRD², des cartographies de zone pour les applications HRXRD, XRR et de contrainte résiduelle. Peu importe si les données ont été recueillies avec des détecteurs 0-D, 1-D ou 2D.
L’interface graphique peut être personnalisée pour répondre aux besoins des chercheurs et des opérateurs industriels.
LEPTOS R est conçu pour l’analyse des données de réflectométrie des rayons X (XRR) et de diffusion diffuse (DS) non-spéculaire à partir de structures de couches minces. Le module est entièrement intégré dans la suite LEPTOS, qui intègre l’analyse simultanée des données HRXRD, GISAXS et XRR. Dans le cadre de la suite LEPTOS, le module R hérite de toutes les fonctionnalités communes à l’ensemble du pack logiciel.
LEPTOS R a été très bien noté dans plusieurs références internationales, y compris le projet VAMAS A10. La structure de LEPTOS R est conforme à la nouvelle norme rfCIF internationale pour le format de données XRR.
LEPTOS H signifie analyse des données de diffraction des RX Haute résolution et d´incidence rasante.
Le module est entièrement intégré dans la suite LEPTOS, qui intègre l’analyse simultanée des données HRXRD, GISAXS et XRR. Dans le cadre de la suite LEPTOS, le module H hérite de toutes les fonctionnalités communes à l’ensemble du pack logiciel.
LEPTOS S est un module innovant, puissant et complet pour l’analyse des contraintes résiduelles mesurées par des détecteurs 0D, 1D ou 2D par l’utilisation de méthodes classiques sin2ψ et étendues XRD2. Le module est entièrement intégré dans la suite LEPTOS et hérite de toutes les fonctionnalités communes à l’ensemble du pack logiciel.
LEPTOS G fait une évaluation des données de diffusion aux petits angles collectées en incidence rasante, mesurées sur des échantillons contenant des particules nanométrique incorporées juste sous la surface ou en surface de l’échantillon. Il peut s’agir, par exemple, de points ou d´ilots quantiques semi-conducteurs enfouis ou de surface, de matériaux poreux, de poudre condensé incorporée dans des nanoparticules de polymères, etc. La licence pour le module G inclut également le module R pour la réflectométrie des rayons X.
Version | La version logicielle actuelle est V7.10.12 |
Méthodes analytiques |
Formalisme dynamique de Parratt Diversité des modèles de rugosité interfaciale Méthode d’opérateur pour le calcul des paramètres de diffusion des rayons X Méthode brevetée d’EigenWaves (MEW) Formalisme matriciel récursif rapide 2x2 et précis 4x4 Sin2ψ classique et étendu, ainsi que les méthodes XRD2 Évaluation des contraintes résiduelles à partir de donnée {hkl} - multiples Gradients de contraintes résiduelles/microcontraintes dans les revêtements minces polycristallines |
Système d'exploitation |
Windows 8 et 10 (32 bits ou 64 bits) |