X射线反射率(XRR)可提供竖直方向样品密度分布详细信息、层厚及界面粗糙度。高分辨X射线衍射(HRXRD)可测量样品的晶体结构。掠入射小角X射线散射(GISAXS)可用于分析纳米颗粒和孔隙度。残余应力分析可检测大块样品和多晶涂层的应变状态。
除了常规的单曲线扫描,LEPTOS还能分析高分辨HRXRD和XRR倒易空间图,GISAXS和XRD²应力测试帧图,以及HRXRD、XRR和残余应力的多位点扫描图。用零维、一维或二维探测器收集的数据均可。
图形用户界面可以定制,以满足科学研究人员和工业操作人员不同方面的需求。
LEPTOS R适用于分析X射线反射率(XRR)数据和薄层结构的漫散射(DS)数据。该模块完全集成在LEPTOS套装中,可用于同时分析HRXRD、GISAXS和XRR数据。作为LEPTOS套装的一部分,R模块拥有整个套装常见的所有功能。
LEPTOS R在许多国际标杆项目(如VAMAS项目A10)中获得了高度评价。LEPTOS R的结构符合新制定的XRR数据格式的国际rfCIF标准。
LEPTOS H能用于分析高分辨率X射线衍射和掠入射X射线衍射数据。
该模块完全集成在LEPTOS套件中,可用于同时分析HRXRD、GISAXS和XRR数据。作为LEPTOS套件的一部分,H模块拥有整个套件常见的所有功能。
LEPTOS S是个创新、强大和综合性的工具,适用于分析使用经典的sin2ψ方法使用零维、一维或二维探测器测试的以及拓展的XRD2方法测试的残余应力。该模块完全集成在LEPTOS套装中,拥有整个套装常见的所有功能。
LEPTOS G适用于分析掠入射小角散射数据,这些数据来源于含纳米颗粒的样品,这些颗粒可能在样品表面以下或位于样品表面上。例如,这些可以是内嵌的或表面的半导体量子点和岛、多孔材料、凝聚粉末、嵌入在聚合物中的纳米颗粒等。模块G的授权也包含用于X射线反射率的R模块。
版本 | 最新软件版本为V7.10.12 |
分析方法 |
Parratt的动态方法 界面粗糙度模型的多样化 计算X射线散射参数的操作方法 本征波的专利方法(MEW) 快速的2x2和精确的4x4递推矩阵方法 传统的和扩展的sin2ψ方法,以及XRD2方法 通过多{hkl}数据分析得到残余应力 薄的多晶涂层中的应力/应变梯度 |
操作系统 |
Windows 8和10(32位或64位) |