卓越した赤外分光性能
鮮明な視野、超高速イメージング
操作性に優れるより広い試料スペース、さらに高速化されたケミカルイメージング、ATR・透過・反射すべてのモードにおいて卓越した分光性能。これが真の顕微 FT-IR と呼ばれるものです。
FT-IR microscopy:
FT-IR FPA imaging:
IR laser imaging (ILIM):
Easy to use all in one software.
The LUMOS II Wizard.
Inertness against high humidity.
Using inert optical materials.
AI powered evaluation routines.
Adaptive Chemical Imaging.
Compliance to cGMP and FDA 21 CFR p11.
Comprehensive audit trail.
Complete automization and long service-life.
Automated Knife-Edge Apertures.
Open design with easy access to samples.
270° access from three sides.
分析スキルレベルに関係なく、高度な技術をすべてのユーザーが利用できる時代が来ていると私たちは考えています。FT-IRイメージングと顕微 FT-IR の利点は、使いにくい装置という理由で制限することができないほど、あまりにも多すぎるからです。
LUMOS II は開発の当初から、FT-IRイメージングをより速く、より簡単に、より正確に、より信頼性の高いものにし、さらには分析そのものを楽しめることを目的としていました。もちろん、そのためには、新しい技術を取り入れ、実績のある技術を改良する必要がありました。
そうした観点から、特にソフトウェアやユーザーインターフェースは、ユーザーに合わせて調整しました。 初心者は時間をかけずとも完璧な結果を得ることができ、同時に、上級者による装置の完全な制御を可能にする柔軟性も維持しています。
LUMOS II 仕様的特長:
LUMOS II 技術的特長:
アプリケーション:
良い結果は良い装置から - これに尽きます
透過法、反射法、減衰全反射法(ATR)のいずれであっても、LUMOS II は常に正しい選択です。しかし、その最大の強みは、FPA 技術によって強化された顕微 ATR です。これにより、LUMOS II は故障解析や製品開発のための万能ツールとなりました。
結論から言えば、LUMO II の ATR の能力は他の追随を許しません。信頼性の低い手動の顕微 ATR で妥協せずに、最高のものを手に入れましょう。LUMOS II を手に入れてください。
自動格納式 ATR プリズムは、高精度の圧電モータによって制御され、カセグレン式対物鏡に組み込まれています。これにより、試料の鮮明な観察像を維持しつつ、測定対象エリアを確実に捉えることが可能となっています。
あらゆるニーズに応える耐久性とパワー
最高の技術をお客様に伝えること、私たちにとっては当然のことです。もちろんこれは LUMOS II にも当てはまります。
RockSolidTM 干渉計は恒久的な高い性能を保証し、最新の制御系は機械的精度と消費エネルギーの低減を保証します。一方、ソフトウェアは装置の有効性を監視し、常に正しい機能を保証します。
粒子・表面解析
工業製品の製造
環境科学
生命科学
法科学
ポリマー&プラスチック
美術・工芸品と修復
医薬品
表面科学
新機能:3D FocusFusionは、無限の "シャープネス "を持つ視覚イメージの作成を可能にしました。
この新機能は、表面に凹凸がある試料について、ピンシャープな視覚イメージを作成します。 顕微鏡画像における"シャープネス"は関心領域の選択に役立ちます。これにより、LUMOS IIの被写界深度に制限がある試料でも、シャープな視覚イメージを生成することが可能になります。
新機能:FPAイメージングが円形の測定領域に追従できるようになりました。
測定グリッドを円形に配置することで、FPA イメージングで粒子フィルター全体を効率的に測定できるようになりました。マイクロプラスチック分析で使用されるフィルターについて、円形の関心領域のみを測定することで、測定時間を大幅に削減することができます。
新機能:適応的K平均クラスタリング機能による高性能ケミカルイメージング生成法
この新しい機能は、当社の定評あるクラスター分析機能の論理的な次の開発ステップです。適応的K平均クラスタリング機能は、新しいアルゴリズムに基づいており、イメージングまたはマッピングデータ内のスペクトル分散を監視なしで自律的に決定できます。
新機能:3Dスペクトルデータからクラスを識別する”クラスターID”機能
新規クラスターID機能により、OPUSの標準機能(スペクトル検索、クイックコンペア、判別テスト)を使用して、イメージングおよびマッピングデータ内のクラスターを識別することができます。
機能アップデート:「パーティクルファインド(粒子検出)」機能に新たな粒子検出法が追加
実績のある「パーティクルファインド」機能が、可視画像だけではなくケミカルイメージにも適用できるようになりました。 これにより、LUMOS IIを用いて測定し作成されたケミカルイメージデータについても粒子の検出を行うことができます。
当社の顕微FT-IR分析装置とソリューションの詳細については、こちらから資料をご確認頂けます。