Hysitron TI 990 TriboIndenter纳米压痕仪
遥遥领先的多功能纳米力学测试系统，具有卓越的性能
Hysitron TI 990 TriboIndenter
Hysitron TI 990 TriboIndenter 在控制和测试带宽、测试灵活性、适用性、测量可靠性和系统模块化方面取得了显著进步，从而实现了比以前更多、更好的研究。
布鲁克下一代 Hysitron TI 990 TriboIndenter® 为纳米力学和纳米摩擦学表征的性能、灵活性和可用性树立了榜样。TI 990 是布鲁克领先的 TriboIndenter 平台的全面改进，其测量和分析过程的各个方面都采用了旨在消除纳米压痕仪系统常见限制的更新技术。因此，该系统具有更多的可用测量模式 ，并在广泛的实验室环境中提供高精度测量。
优秀卓越
性能和能力
充分利用 Performech III 控制、nanoDMA IV 测试和 XPM II 超高速性能成像等方面的最新进展。
更多模块
模块化系统
具有更多、更可扩展的先进纳米力学技术模块。
更多可能
测量控制和易用性
使用全新的 TriboScan 12 软件简化系统设置、操作和分析。
强大的基础配置
Hysitron TI 990基本配置图示
- 用于原位 SPM 成像的双压电扫描头
- 高分辨率、彩色光学显微镜
- 专利的低噪声 2D 电容式传感器
- 计量级花岗岩框架确保测试稳定性
- 集成主动减振系统
- Performech III 控制器
- 减振底座的抗噪能力提高了 50 倍
- 多层环境隔离罩
- 俯视样品台成像
- 使用 XPM II 超高速纳米压痕进行性能成像
- 动态纳米压痕
- 带有可定制面板的模块化外壳
- 通用样品夹具
- 高精度电动/自动化平台，可测试面积增加 60%
拥有更多的测试模式
TI 990 具有增强的测量功能、更高的样品灵活性、更简单的系统设置和更简化的操作，是适用于各种应用的优秀表征解决方案。
无论您需要提高聚合物薄膜的精度、提高组合材料科学的测试带宽，还是需要对全 300 毫米半导体晶圆进行多参数测量分析，TI 990 都能满足您的各种测试需求。
