Nanomechanical Test System

Hysitron TI 990 TriboIndenter

비교할 수 없는 성능을 가진 세계에서 가장 포괄적인 나노 기계 테스트

Hysitron TI 990 TriboIndenter

Hysitron TI 990 TriboIndenter는 제어 및 처리량 기능, 테스트 유연성, 적용성, 측정 신뢰성 및 시스템 모듈화에서 이전에 가능했던 것보다 더 많은 연구를 가능하게 하는 놀라운 발전을 이루어냈습니다.

Bruker의 차세대 Hysitron TI 990 TriboIndenter®는 나노역학적, 나노트라이볼로지적 특성화에서 성능, 유연성 및 사용성에 대한 새로운 기준을 제시합니다. 업계 최고의 TI 990의 측정 및 분석 프로세스의 모든 측면은 나노인덴터 시스템의 정상적인 한계를 제거하도록 설계된 업데이트된 기술을 특징으로 하는 Bruker의 TriboIndenter 플랫폼의 포괄적인 발전입니다. 이와 같이, 이 시스템은 사용 가능한 가장 많은 측정 모드를 특징으로 하며 가장 넓은 범위의 실험실 환경에서 고정밀 측정을 제공합니다.

비교할 수 없음
성능과 능력
Performech III 제어, nanoDMA IV 테스트 및 XPM II 초고속 맵핑의 최신 기술을 최대한 활용.
무제한
모듈식 시스
세계에서 가장 크고 확장 가능한 첨단 나노 기계 기술 제품군을 가능하게 함.
최대
측정 제어 및 사용 편의성
All-New TriboSan 12 소프트웨어로 시스템 설정, 작동 및 분석을 단순화.
Features

강력한 기본 구성

Hysitron TI 990 TriboIndenter 기본 모델 구성
  1. in-situ SPM 이미징을 위한 듀얼 피에조 스캐너
  2. 고해상도, 컬러 광학
  3. 독점적인 저잡음 2D 용량성 변환
  4. 시험안정성을 위한 계측등급 견고한 프레임
  5. 통합된 능동형 제진 시스템
  6. Performech III 컨트롤
  7. 소음 방지력이 50배 향상된 진동 감쇠 베이스
  8. 분리된 인클로져
  9. T탑뷰 샘플 척 이미징
  10. XPM II 초고속 나노인덴테이션을 이용한 특성 맵핑
  11. 동적 나노인덴테이션
  12. 맞춤형 패널을 갖춘 모듈식 인클로저
  13. 범용 샘플 척 
  14. 테스트 가능 면적이 60% 더 많은 고정밀 모터/자동화 스테이지

Applications

가장 많은 테스트 모드 보유

향상된 측정 기능, 향상된 샘플 유연성, 더 쉬운 시스템 설정 및 더 효율적인 작동을 갖춘 TI 990은 다양한 애플리케이션을 위한 독보적인 특성화 솔루션입니다.

폴리머 박막의 향상된 정확도, 또는 복합 재료 과학을 위한 향상된 처리량, 또는 전체 300mm 반도체 웨이퍼의 다중 측정 분석이 필요한 경우에도 TI 990은 동적 테스트 요구를 충족합니다.

나노인덴테이션

작은 부피의 재료의 기계적 특성을 정량적으로 특성화하기 위해 힘 대 변위 곡선을 구합니다. 고유한 용량성 변환기 설계, 엄격하게 제어된 켈리브레이션 표준, 정밀하게 가공된 프로브의 조합은 모든 재료에 대해 감소된 모듈러스, 경도 등의 신뢰할 수 있는 측정을 제공합니다.

나노스크래치

정상 하중과 프로브의 측면 변위를 결합하여 마찰학적 특성 또는 접착 특성을 이해합니다. 힘 및 변위 데이터 수집 외에도 TI 990은 즉각적인 지형 결과를 위해 나노미터 해상도의 샘플에 대한 사후 스크래치 in-situ 주사 탐침 현미경(SPM) 이미징을 통합할 수 있습니다.

나노웨어

정상 및 측면 모두에서 힘과 변위를 모니터링하는 동안 스크래치 프로브를 왕복운동으로 슬라이딩하여 나노스케일에서 트리보미터와 유사한 실험을 수행합니다. 당사의 2차원 용량성 변환기 기술은 주기 수, 응용된 수직항력, 마모 깊이 및 측면 변위의 함수로 고감도 마찰 맵을 획득할 수 있도록 합니다.

In-Situ SPM 이미

샘플 지형 이미지를 나노기계 및 나노마찰학 특성화 데이터와 직접 연관시킵니다. TI 990의 나노미터 정밀도 테스트 배치 정확도를 통해 이미지와 데이터가 함께 국소화되어 테스트 전 및 후 SPM 이미징을 통해 표면 결함을 방지하고 단계를 속성과 연관시키며 변형 거동을 분석할 수 있습니다.

XPM II

높은 측정 해상도와 정확도를 유지하면서 기계적 특성을 빠르게 맵핑합니다. 정량적 나노기계적 특성 맵과 특성 분포 통계를 기록 시간으로 생성하기위해 높은 대역폭의 정전식 트랜스듀서, 빠른 제어 및 데이터 수집 전자 장치, 하향식 in-situ SPM 이미징을 결합합니다.

CMX를 사용한 nanoDMA IV

인덴테이션 깊이, 주파수 및 시간의 함수로서의 특성을 조사하기 위해 나노 스케일의 동적 역학 분석을 수행합니다. Bruker의 CMX 제어 알고리즘은 경도, 저장 모듈러스, 손실 모듈러스, 복소수 모듈러스 및 탄델타를 포함한 기계적 특성의 정량적이고 정밀하게 연속적인 측정을 제공합니다.


특정 애플리케이션, 프로세스 요구 사항 및 측정 요구 사항에 대해 논의하기 위해 당사로 연락 주십시요.

Upgrade Options and Add-Ons

TI 990의 기능 확장

LEARN MORE:

사용 가능한 업그레이드 옵션과 현재 고객의 특정 측정 요구를 충족하고 향후 연구와 함께 성장할 수 있도록 TI 990을 구성할 수 있는 방법에 대한 자세한 내용을 확인하고 싶으시면 당사에 문의 주십시오.

Contact Us

Input value is invalid.

* Please fill out the mandatory fields.

Please enter your first name
Please enter your last name
Please enter your e-mail address
Please enter your Company/Institution

     

Please enter a valid phone number

ⓘ Used to provide a faster response to your request/question.

Please enter a valid phone number

ⓘ Used to provide a faster response to your request/question.

Please enter a valid phone number

ⓘ Used to provide a faster response to your request/question.

Please enter a valid phone number

ⓘ Used to provide a faster response to your request/question.

Please add me to your email subscription list so I can receive webinar invitations, product announcements and events near me.
Please accept the Terms and Conditions

             Privacy Notice   Terms of Use