ContourX-1000
ContourX-1000 3D Optical Profilometer
Floor-stand 타입의 백색광 간섭계(WLI)인 ContourX-1000는 품질 좋은 3D 면적 표면 텍스쳐와 거칠기 측정을 쉽고 빠르게 얻을 수 있도록 해줍니다. 30년 이상의 혁신과 당사의 최신 독점 소프트웨어 및 기술을 통합한 이 계측 시스템은 브루커의 광학 프로파일러가 자랑하는 신속한 결과 도출 및 반복성을 제공하며, 처리량과 조작자 편의성이 더욱 향상되었습니다.
Full-Automation 측정 기능, 직관적이고 간단한 사용 방법, 간소화된 측정 설정 및 분석 레시피를 갖춘 ContourX-1000은 사용자가 많은 대용량 생산 시설에서도 모든 표면에서 가장 정확하고 정밀한 측정을 할 수 있습니다.
차세대 산업 중심의 3D 표면 측정 솔루션
브루커 전용 간섭계 기술을 탑재하고 완전 자동화가 가능한 ContourX-1000은 거의 모든 개발 및 생산 애플리케이션을 포함하도록 ContourX 프로파일러 시스템의 탁월한 측정 및 이미징 기능을 확장한 시스템입니다.
ContourX-1000만의 특징:
- 독점적인 팁/틸트 헤드, 이중 광원 및 고급 자동화 기능을 갖춘 빠르고 다재다능한 생산 현장 계측 기능 제공;
- 자체 교정 레이저 및 통합 진동 방지로 최고의 정확성과 신뢰성을 보장;
- 가장 사용자 친화적인 측정 및 분석 소프트웨어를 가이드되고 단순화된 루틴 및 레시피와 통합.
누구나 거의 모든 표면에서 가장 정확하고 정밀한 계측
ContourX-1000을 통해 품질 좋은 3D 실제 표면 텍스쳐와 거칠기 측정을 더욱 쉽고 빠르게 얻을 수 있습니다.
레이저 포커스 월드(Laser Focus World)는 SPIE Photonics West 2023에서 ContourX-1000의 차세대 디자인에 대해 논의하기 위해 당사를 방문했습니다. 비디오 스포트라이트를 보거나 당사에 연락하여 연구 및 생산을 위한 셀프 칼리브레이션되고 완전 자동화된 솔루션에 대해 자세히 알아보세요.
최신 광학 프로파일링 하드웨어의 진보
ContourX-1000에는 다양하고 혁신적인 하드웨어가 탑재되어 있습니다. 차세대 설계를 통해 처리량이 많고 소음이 많은 환경에서도 거의 모든 개발 및 생산 애플리케이션에 신속한 최적화와 최대 재현성을 제공합니다.
주요 기능은 다음과 같습니다:
- 특허받은 팁/틸트 헤드;
- 독자적인 듀얼 LED 광원;
- 자동화된 터렛 및 스테이지;
- 웨이퍼 척 선택;
- 독자적인 내부 레이저 레퍼런스;
- 통합 진동 방지 기능.
▲ 특허받은 팁/틸트 헤드(컨투어 패밀리 브로셔)
강력한 자동 측정 및 분석
ContourX-1000의 통합된 운영자 친화적인 기능과 Advanced Production 인터페이스를 통해 최소한의 사용자 개입으로 품질, 게이지 지원 측정을 신속하게 수집할 수 있습니다. 이를 통해 수동 설정, 획득 및 분석에 내재된 복잡성, 결과 도출 시간 연장 및 운영자 불일치를 제거할 수 있습니다.
주요 기능은 다음과 같습니다:
- 자동화된 측정 및 분석 레시피;
- 자동 초점 및 자동 조명 기능이 있는 새로운 원클릭 Advanced Find Surface;
- 자체 적응 USI 측정 모드를 사용한 최적 측정 파라미터의 자동 결정;
- 가이드 VisionXpress 인터페이스;
- 자동 패턴 정렬;
- 자동 강도, 자동 절약, 자동 스티칭 등.
▲ 웨이퍼 맵을 사용한 자동화 그래픽 사용자 인터페이스(GUI)
업계 주도형 솔루션
ContourX-1000은 고급 하드웨어와 소프트웨어 통합을 통해 중요 치수 계측 등 다양한 응용 분야와 산업 분야에서 매우 다양한 표면에 대해 매우 정밀하고 게이지 기능이 가능하며 정량적인 3D 표면 특성을 구현할 수 있습니다.
Bruker의 Vision 64 계측기 제어 및 분석
ContourX-1000은 업계에서 가장 기능적이고 사용자 친화적인 그래픽 사용자 인터페이스인 Vision64® 소프트웨어를 통해 구동됩니다. 이 full-featured 소프트웨어는 다음을 포함합니다:
Advanced Find Surface
Advanced Find Surface 기능을 사용하면 여러 사용자 환경에서도 운영자 경험 수준에 관계없이 모든 사용자가 동일 품질의 결과를 얻을 수 있습니다.
자동 초점을 가능하게 할 뿐만 아니라 LED 링 라이트의 강도와 같은 주요 조명 파라미터를 조정합니다. 이를 통해 사용자 경험이 향상되고 조작자의 편의성이 향상되며 결과 도출 시간이 빨라지는 다양한 재료 표면에서 완벽한 계측이 가능합니다.
VisionXpress
다중 사용자 환경을 위한 표준 테스트 라이브러리를 갖춘 사용하기 쉬운 VisionXpress™ 인터페이스, 고급 설정 및 자동화된 분석을 위한 수상 경력에 빛나는 Vision64 인터페이스, 사용자 개입을 최소화하고 궁극적인 자동화를 위한 Advanced Production 인터페이스 사이에서, 사용자 고유의 계측 요구사항에 가장 적합한 솔루션을 타협 없이 선택할 수 있습니다. 이 고유한 기능을 통해 처리량이 증가하여 어떤 표면에서도 완벽한 측정이 가능합니다.
Universal Scanning Interferometry
USI 모드의 적응형 표면 지능은 콘트라스트, 강도 및 높이가 다른 표면에서도 동일한 사이즈에서 다른 표면 텍스처에서 최적의 결과를 얻기 위해 알고리즘 매개변수를 자동으로 조정합니다. 표면의 유형을 자동으로 감지하고 가장 정확한 면적 계측을 제공하는 이러한 기능은 최대 120 µm의 수직 범위로 투명 또는 불투명한 거의 모든 표면에 대해 가장 쉽고 강력한 측정 방법 중 하나입니다.
최신 웨비나
ContourX: Wyko® 및 Bruker 기술 발전 40년
ContourX 시스템은 고급 계측 알고리즘을 사용하여 백색광 간섭계(WLI)의 기능을 최적화합니다. 그 결과는 낮은 배율에서도 가장 높은 수직 해상도입니다. 이를 통해 연구자와 엔지니어는 대규모 측정 영역의 결과와 함께 매우 정확하고 통계적으로 관련된 데이터를 빠르게 얻을 수 있습니다.
ContourX 프로파일러는 다음과 같은 장점을 통해 업계 최고의 능력과 최고의 고객 만족도를 실현합니다:
- 표면 계측을 위한 가장 최적화된 WLI 기술;
- 넓은 사이즈에서 타의 추종을 불허하는 수직 해상도 및
- 최적화된 정밀도와 정확도로 가장 빠른 결과를 얻을 수 있고
- 동급 최고의 신뢰성과 반복성을 자랑합니다.
어떻게 도와드릴까요?
Bruker는 고객과 협력하여 실제 애플리케이션 이슈를 해결합니다. 당사는 차세대 기술을 개발하고 고객이 적합한 시스템 및 액세서리를 선택할 수 있도록 지원합니다. 이러한 협력은 장비가 판매된 후에도 오랫동안 교육 및 확장 서비스를 통해 계속됩니다.
고도로 훈련된 지원 엔지니어, 애플리케이션 과학자 및 주제 전문가 팀은 시스템 서비스 및 업그레이드뿐만 아니라 애플리케이션 지원 및 교육을 통해 생산성을 극대화하기위해 전적으로 최선을 다하고 있습니다.