ContourX-1000
Profilomètre optique 3D: ContourX-1000
L'interféromètre à lumière blanche (WLI) ContourX-1000 permet d'obtenir facilement et rapidement des mesures 3D de qualité pour la texture et la rugosité des surfaces. Intégrant plus de 30 ans d'innovation ainsi que nos derniers logiciels et technologies exclusifs, ce système de métrologie offre la rapidité d'obtention des résultats ainsi que la répétabilité connue des profileurs optiques de Bruker, tout en augmentant le débit et en facilitant encore plus la tâche de l'opérateur.
Avec des capacités d'automatisation complètes, une expérience utilisateur simple et des recettes de configuration et d'analyse rationalisées, le ContourX-1000 fournit la métrologie la plus précise sur presque toutes les surfaces, par n'importe quel opérateur, même dans les installations de production à haut volume et multi-utilisateurs.
Solution de Mesure de Surface 3D de Nouvelle Génération, Orientée vers l'Industrie
Équipé d'une technologie d'interférométrie exclusive à Bruker et capable d'une automatisation complète, le ContourX-1000 étend les capacités uniques de mesure et d'imagerie de nos systèmes de profilométrie ContourX à presque toutes les applications de développement et de production.
Seul le ContourX-1000 :
- Fournit une métrologie rapide et polyvalente pour l'atelier de production grâce à une tête exclusive à pointe/inclinaison (tip/tilt), ainsi qu'à une source de lumière double et à une automatisation avancée ;
- garantit une précision et une fiabilité extrêmes grâce au laser à étalonnage automatique et à l'isolation des vibrations intégrée ; et
- intègre notre logiciel de mesure et d'analyse le plus convivial avec des routines et des recettes guidées et simplifiées.
La Métrologie la plus Précise et Exacte sur presque toutes les Surfaces, par n'importe quel Opérateur
Obtenir des mesures 3D de qualité en matière de texture et de rugosité de surface est désormais plus facile et plus rapide que jamais avec le ContourX-1000.
Laser Focus World nous a rendu visite à SPIE Photonics West 2023 pour discuter de la conception de nouvelle génération du ContourX-1000. Regardez le spot vidéo ou contactez-nous pour en savoir plus sur cette solution auto-calibrée et entièrement automatisée destinée à la recherche et à la production.
Dernières Avancées en Matière de Matériel de Profilage Optique
Le ContourX-1000 est équipé d'une variété de matériel unique et innovant. Sa conception de nouvelle génération permet une optimisation rapide et une reproductibilité maximale pour presque toutes les applications de développement et de production, même dans des environnements bruyants et à haut débit.
Ses principales caractéristiques comprennent :
- Tête de pointe/basculante brevetée ('tip/tilt');
- Source lumineuse exclusive à double LED ;
- Tourelle et plateaux automatisés ;
- Sélection de mandrins pour gaufrettes ;
- Référence laser interne exclusive ; et
- Isolation des vibrations intégrée.
▲ Tête d'inclinaison brevetée (brochure de la famille Contour)
Des Mesures et des Analyses Automatisées et Puissantes
Les fonctions intégrées et conviviales du ContourX-1000, ainsi que son interface de production avancée, permettent de collecter rapidement des mesures de qualité, compatibles avec les jauges, tout en limitant au maximum l'intervention de l'utilisateur. Cela élimine la complexité, les délais de résultats prolongés et les incohérences inhérentes à la configuration, à l'acquisition et à l'analyse manuelles.
Parmi les principales caractéristiques, on trouve:
- Recettes de mesure et d'analyse automatisées ;
- Nouvelle surface de recherche avancée en un seul clic avec mise au point et éclairage automatiques ;
- Détermination automatique des paramètres de mesure optimaux avec le mode de mesure USI auto-adaptatif ;
- Interface VisionXpress guidée ;
- Alignement automatique des motifs ;
- Intensité automatique, sauvegarde automatique, piqûre automatique, etc.
▲ Interface utilisateur graphique d'automatisation (GUI) avec carte de la tranche de silicium (wafer map)
Solutions Adaptées à l'Industrie
La combinaison unique d'intégrations matérielles et logicielles avancées du ContourX-1000 permet une caractérisation de surface 3D quantitative très précise, pour une grande variété de surfaces au sein d'un large éventail d'applications et d'industries - notamment la métrologie des dimensions critiques et bien d'autres encore.
Logiciel Vision64 de Bruker pour le Contrôle et l'Analyse des Instruments
Le ContourX-1000 est équipé du logiciel Vision64®, l'interface graphique la plus fonctionnelle et la plus conviviale de l'industrie. Ce logiciel complet comprend
Surface de Recherche Avancée
La fonction Advanced Find Surface permet à tout utilisateur d'obtenir des résultats de qualité quel que soit son niveau d'expérience, même dans des environnements multi-utilisateurs.
Elle permet non seulement la mise au point automatique, mais aussi le réglage des principaux paramètres d'éclairage, tels que l'intensité de la lumière circulaire LED. Cela permet une métrologie sans compromis sur des surfaces de matériaux variés avec une expérience utilisateur améliorée, une facilité d'utilisation extrême et un temps de réponse plus rapide.
VisionXpress
Parmi l'interface VisionXpress™ facile à utiliser avec sa bibliothèque de tests standard pour les environnements multi-utilisateurs, l'interface Vision64 complète primée pour une configuration avancée et une analyse automatisée, et l'interface Advanced Production pour une automatisation ultime avec une intervention minimale de l'utilisateur, vous pouvez sélectionner la solution la plus adaptée à vos besoins uniques en matière de métrologie, sans aucun compromis. Cette capacité unique permet une métrologie sans compromis sur n'importe quelle surface, avec un débit accru.
Interférométrie à Balayage universelle
L'intelligence adaptative de la surface du mode USI ajuste automatiquement les paramètres de l'algorithme pour obtenir des résultats optimaux sur différentes textures de surface dans le même champ de vision, même sur des surfaces présentant des contrastes, des intensités et des hauteurs différents. Cette capacité à détecter automatiquement le type de surface et à fournir la métrologie surfacique la plus précise en fait l'une des méthodes de mesure les plus simples et les plus robustes pour presque toutes les surfaces, transparentes ou opaques, avec une plage verticale allant jusqu'à 120 µm.
Webinaires Récents
ContourX : Quatre Décennies d'Avancées Technologiques Wyko® et Bruker
Les systèmes ContourX utilisent des algorithmes de métrologie avancés afin d'optimiser les capacités de l'interférométrie en lumière blanche (WLI). Il en résulte le plus haut degré de résolution verticale, même à faible grossissement. Cela permet aux chercheurs et aux ingénieurs d'obtenir rapidement des données extrêmement précises et statistiquement pertinentes à partir de grandes zones de mesure.
Les profilomètres ContourX offrent une capacité de pointe dans l'industrie et une satisfaction maximale des clients grâce aux éléments suivants:
- La technologie WLI la plus optimisée pour la métrologie des surfaces ;
- une résolution verticale inégalée sur un large champ de vision ; et
- Le temps de réponse le plus rapide avec une précision et une exactitude sans compromis ; et
- une fiabilité et une répétabilité inégalées.
Comment Pouvons-Nous Aider ?
Bruker s'associe à ses clients pour résoudre des problèmes qui touchent des applications dans le monde entier. Nous développons des technologies de nouvelle génération et aidons nos clients à choisir le système et les accessoires appropriés. Ce partenariat se poursuit par des formations et un service étendu, longtemps après la vente des outils.
Notre équipe hautement qualifiée d'ingénieurs d'assistance, de scientifiques d'application et d'experts en la matière se consacre entièrement à l'optimisation de votre productivité par le biais de services et de mises à jour du système, ainsi que d'une assistance et d'une formation aux applications.