ML plus
XRF에 의한 다층 및 박막 분석
다층 샘플의 층 두께 및 화학 조성은 X선 형광 분석(XRF)으로 쉽게 결정됩니다. 계층화된 시료는 파장 분산 X선 형광 분광계 (WDXRF) S8 TIGER에서 직접 분석됩니다.
MLPLUS는 파장 분산 X선 형광 분석 (WDXRF)을 가진 단층 및 다층 샘플의 분석을 위해 SPECTRAPLUS를 확장하고 있다. 그것은 여러 원자 층 (미만 1 nm)과 μm- 또는 mm 범위까지 여러 원자 층 (1 nm 미만)까지 아래로 층 샘플의 두께와 구성의 직접 측정을 할 수 있습니다.
MLPLUS는 모든 계산에 대한 전체 기본 매개 변수 접근 방식을 사용하고 있습니다. MLplus의 두께 및 조성의 결정은 SPECTRAPLUS, 즉 특정 다층 표준의 표준없는 보정을 기반으로합니다. 그럼에도 불구하고 사용 가능한 다층 표준을 사용하여 결과를 최적화할 수 있습니다.
MLPLUS는 모델이 설정되면 각 단일 측정 후 자동 평가에 사용할 수 있습니다. 따라서 계층화된 유리 또는 코팅된 강철 생산과 같은 일상적인 공정 제어에 다층 분석을 사용할 수 있습니다.
