급속한 EBSD
빠른 EBSD 매핑에 대한 대안
RAPID EBSD는 영국 런던의 임페리얼 칼리지에서 개발된 방법을 기반으로 새롭고 강력한 ESPRIT 2 소프트웨어 패키지 기능입니다. 고품질 ARGUSTM ForeScatter(FSE) 이미지와 최첨단 이미지 세분화 알고리즘및 희소한 EBSD/EDS 데이터 수집을 결합하여 가능한 한 짧은 시간에 일반 EBSD/EDS 맵을 재구성합니다.
혜택:
- 효율성 향상
- 긴 노출 시간을 가진 빠른 매핑
- EDS 스펙트럼에서 더 나은 통계
- 빔 에 민감한 샘플에 대한 손상 감소
- 비전도성 샘플에 대한 충전 감소
응용 프로그램:
- 곡물 크기 통계
- 결정적 텍스처
- 매우 약한 회절 신호를 생성하는 재료
- 빔 민감시
ARGUS ForeScatter (FSE) 3D 인쇄 스테인레스 스틸 시편의 방향 대비 이미지 (도 1a : 낮은 배율).
ARGUS ForeScatter (FSE) 3D 인쇄 스테인레스 스틸 시편의 방향 대비 이미지 (도 1b : 측정 영역)
그림 2: RAPID EBSD 세분화 이미지 - 세그먼트당 EBSD 측정 1회 수행됩니다.
그림 3: 재구성된 RAPID EBSD 측정(세분화 사용)에서 의방향 분포 결과(IPF X 맵). RAPID EBSD 측정은 도 4에서 5배 더 빨랐다.
도 4: 표준 EBSD 측정(즉, 일반 점 그리드 사용)에 의해 측정된 동일한 영역의 방향 분포 결과(IPF X 맵)는 도 3에서와 동일한 빔 및 형상 설정을 이용하여.
