Rapid EBSD
高速 EBSD マッピングの代替
RAPID EBSDは、英国ロンドンのインペリアルカレッジで開発された方法に基づいた、新しく強力なESPRIT2ソフトウェアパッケージ機能です。最先端の画像セグメンテーションアルゴリズムによる高品質のARGUSTM ForeScatter（FSE）画像と希薄なEBSD/EDSデータ取得を組み合わせて、可能な限り短時間で通常のEBSD/EDSマップを再構築します。
特徴：
- 効率の向上
- 長時間の露光時間での高速マッピング
- より良い統計をもったEDSスペクトル
- ビームに敏感なサンプルへの低ダメージ
- 非導電性サンプルの帯電を低減
アプリケーション：
- グレイン サイズの統計
- 結晶学的テクスチャ
- 回折信号が非常に弱い材料
- ビームに敏感なサンプル
3Dプリントされたステンレス鋼のARGUS ForeScatter（FSE）の方位コントラスト画像（図1a：低倍率）。
3Dプリントされたステンレス鋼のARGUS ForeScatter（FSE）の方位コントラスト画像（図1b：測定領域）。
図2：Rapid EBSDセグメンテーション画像 - セグメントごとに1つのEBSD測定が行われます。
図3：セグメンテーションを使用して再構築されたRapid EBSD測定からの方位分布の結果（IPF Xマップ）。Rapid EBSD測定は、図4の測定の5倍の速度で完了しました。
図4：図3と同じビームとジオメトリ設定を用いて、標準EBSD測定（通常のポイントグリッドを使用）を実施した同じ領域の方位分布の結果（IPF Xマップ）。
