Rapid EBSD
Eine Alternative zum schnellen EBSD-Mapping
RAPID EBSD ist eine neue und leistungsstarke ESPRIT 2 Software-Funktion, die auf einer am Imperial College in London, Großbritannien, entwickelten Methode basiert. Sie kombiniert hochwertige, mit vorwärtsgestreuten Elektronen (FSE) erzeugte ARGUSTM Bilder mit modernsten Bildsegmentierungsalgorithmen und wenigen mit EBSD/EDS erfassten Daten, um EBSD/EDS-Maps in kürzester Zeit zu rekonstruieren.
Vorteile:
- Verbesserte Effizienz
- Schnelles Mapping mit langen Expositionszeiten
- Bessere Statistik in EDS-Spektren
- Weniger Schäden an strahlenempfindlichen Proben
- Reduzierte Aufladung nicht leitender Proben
Anwendungen:
- Korngrößenstatistik
- Kristallographische Textur
- Materialien, die ein sehr schwaches Beugungssignal erzeugen
- Strahlenempfindliche Proben
Abb. 1a: ARGUS FSE Orientierungskontrastbild einer mit 3D Druck hergestellten Edelstahlprobe (geringe Vergrößerung).
Abb. 1b: ARGUS FSE Orientierungskontrastbild einer mit 3D Druck hergestellten Edelstahlprobe (höhere Vergrößerung).
Abb. 2: RAPID EBSD Segmentierungsbild - pro Segment eine EBSD-Messung
Abb. 3: Orientierungsverteilungs-Ergebnisse (IPF X Map) einer rekonstruierten RAPID EBSD-Messung (mit Segmentierung). Die RAPID EBSD-Messung war 5-mal schneller als die Standard-EBSD-Messung in Abb. 4.
Abb. 4: Orientierungsverteilungs-Ergebnisse (IPF X Map) einer Standard-EBSD-Messung desselben Bereichs unter Verwendung eines regulären Punkterasters), mit den gleichen Strahl- und Geometrieparametern wie in Abb. 3.
